一种测试SoC芯片电气特性的系统技术方案

本发明专利技术公开了一种测试SoC芯片电气特性的系统，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用于根据所述测试程序分析所述被测芯片在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。利用本发明专利技术提供的系统，测试人员无需控制向被测芯片的输出电压，也无需手动检查被测芯片的运行状态和比较被测芯片的电气特性，通过智能电源、测试面板和信号处理器根据预先编好的测试程序进行运作，即可实现对SoC芯片的电气特性的测试，避免了人工的失误，节省了人力，从而降低了SoC芯片测试的成本。

A system for testing the electrical characteristics of SoC chips

The invention discloses a system for testing the electrical characteristics of a SoC chip, including an intelligent power supply, which is used to output voltage to the measured chip based on a test program; the test panel is connected to the intelligent power supply to access the measured chip and determine whether the measured chip is in normal running state; a signal processor is divided into a signal processor. Do not connect with the intelligent power supply and the test panel to analyze whether the electrical characteristic parameters of the measured chip are in the normal range in the test according to the test program. By using the system provided by this invention, the tester does not need to control the output voltage of the chip to be measured, and does not need to manually check the running state of the chip and compare the electrical characteristics of the measured chip. The SoC core can be realized through the intelligent power supply, the test panel and the signal processor to operate according to the pre compiled test program. The test of the electrical characteristics of the chip avoids manual errors and saves manpower, thus reducing the cost of SoC chip testing.

【技术实现步骤摘要】
一种测试SoC芯片电气特性的系统
本专利技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种测试SoC芯片电气特性的系统。
技术介绍
SoC称为系统级芯片，也称片上系统。在SoC芯片设计并生产完成后，对其电气特性的测试成为了一大课题。SoC芯片电气特性可能包括额定电压、电流、最大工作电压、功率、ADC转换速率精度分辨率、时钟频率等等。为确保SoC芯片质量，测试SoC芯片的电气特性需要考虑的因素较多，如电气特性不仅要符合设计预期，还要兼顾环境和稳定性。在现有技术中，由于测试SoC芯片的电气特性的方法五花八门，且需要使用仪器手动测量，这不仅造成测试周期较长，还需要大量的人力介入，导致生产厂家需要投入大量成本在SoC芯片测试中。因此，如何高效并准确地测试SoC芯片的电气特性，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测试SoC芯片电气特性的系统，用于高效并准确地测试SoC芯片的电气特性。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种测试SoC芯片电气特性的系统，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用于根据所述测试程序分析所述被测芯片在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。可选地，还包括：外部处理器，与所述测试面板连接，用于向所述被测芯片中发送所述测试程序。可选地，所述信号处理器具体包括：存储所述测试程序的存储器，模数转换器和信号比较器。可选地，还包括：报警装置，与所述测试面板和所述信号处理器连接，用于在所述被测芯片处于异常运行状态或者所述电气特性参数处于异常范围时发出报警信号。可选地，所述报警装置具体为LED指示灯。可选地，所述报警装置具体为蜂鸣器。可选地，所述信号处理器具体为计算机；所述信号处理器还用于当所述被测芯片在测试中处于异常工作状态或所述电气特性参数处于异常范围时，进行报警。可选地，所述信号处理器还用于在对所述被测芯片进行预定次数的测试后，向所述智能电源发出测试完毕的信号以使所述智能电源关闭。可选地，所述电气特性参数具体为额定电压、电流、最大工作电压、功率、ADC转换速率精度分辨率和时钟频率。可选地，还包括用于将所述被测芯片接入所述测试面板的机械手。本专利技术所提供的测试SoC芯片电气特性的系统，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用于根据所述测试程序分析所述被测芯片在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。利用本专利技术提供的测试SoC芯片电气特性的系统，测试人员无需控制向被测芯片的输出电压，也无需手动检查被测芯片的运行状态和比较被测芯片的电气特性，通过智能电源、测试面板和信号处理器根据预先编好的测试程序进行运作，即可实现对SoC芯片的电气特性的测试，并且，按测试程序执行的测试，避免了人工的失误，节省了人力，从而降低了SoC芯片测试的成本。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的第一种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图；图2为本专利技术实施例提供的第二种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图；图3为本专利技术实施例提供的第三种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图；图4为本专利技术实施例提供的第四种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图；图5为本专利技术实施例提供的第五种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图。具体实施方式本专利技术的核心是提供一种测试SoC芯片电气特性的系统，用于高效并准确地测试SoC芯片的电气特性。下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术实施例提供的第一种测试SoC芯片电气特性的系统的示意图。如图1所示，测试SoC芯片电气特性的系统包括智能电源101，测试面板102和信号处理器103；其中，智能电源101，用于根据测试程序向被测芯片104输出电压；测试面板102与智能电源101连接，用于接入被测芯片104并判断被测芯片104是否处于正常运行状态；信号处理器103，分别与智能电源101和测试面板102连接，用于根据测试程序分析被测芯片104在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。在具体实施中，测试程序指描述SoC电气特性测试过程的程序，智能电源101、信号处理器103和被测芯片104中存储的测试程序不一定是完全一样的程序。如果是完全一样的测试程序，则测试程序中写有专门控制智能电源101、信号处理器103或被测芯片104的调用指令；如果不是完全一样的测试程序，则分别依照各装置的功能编写测试程序，且各装置中的测试程序相互配合以完成测试。智能电源101可以包括普通的电源电路和控制电源开关的控制器或芯片，预先将测试程序存储在智能电源101的控制器中，并根据测试程序向被测芯片104输出电压。测试面板102用于支撑被测芯片104，其上可以设有与智能电源101连接的通信接口105和与信号处理器103连接的通信接口106，预先通过通信接口105和通信接口106将测试面板102与智能电源101和信号处理器103连接，在需要测试芯片时，将被测芯片104与通信接口105和通信接口106连接即可。测试面板102上还设有信号检测电路，用于检测被测芯片104是否能够处于正常运行状态，如在测试流程正式开始前，先扫描被测芯片104的存储单元中是否存有完整的测试程序，检查被测芯片104能否在预设时间内复位，在测试过程中，如果被测芯片104在测试中处于异常工作状态，测试面板102负责反馈异常工作状态的信号。信号处理器103，分别与智能电源101和测试面板102连接，用于根据测试程序分析被测芯片104在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。信号处理器103可以设置为比较被测芯片103产生的模拟信号是否处于正常的模拟信号范围。信号处理器103在检测到电气特性参数不属于正常范围时，可自身进行报警或者将报警信号反馈至报警装置等。另外，还可以在信号处理器103上设置显示窗，显示测试得到的电气特性参数，方便测试人员查看。整个测试SoC芯片的电气特性的系统的操作过程具体可为：接好电路，先打开信号处理器103的电源，在信号处理器103处于正常运行状态时，打开智能电源101，开始测试过程。测试过程具体为：智能电源101开始通过测试面板102的通信接口105向被测芯片104输出电压，测试面板103检查被测芯片104是否处于正常工作状态，被测芯片104通过通信接口106向信号处理器103输出电气特性参数的信号，信号处理器103处理电气特性参数信号并分析其是否处于正常范围。可选地，电气特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试SoC芯片电气特性的系统，其特征在于，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用于根据所述测试程序分析所述被测芯片在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。

【技术特征摘要】
1.一种测试SoC芯片电气特性的系统，其特征在于，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用于根据所述测试程序分析所述被测芯片在测试中的电气特性参数是否处于正常范围。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：外部处理器，与所述测试面板连接，用于向所述被测芯片中发送所述测试程序。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号处理器具体包括：存储所述测试程序的存储器，模数转换器和信号比较器。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：报警装置，与所述测试面板和所述信号处理器连接，用于在所述被测芯片处于异常运行状态或者所述电气特性参数处于异常范...

【专利技术属性】
技术研发人员：尤鹏程，马壮，肖佐楠，郑茳，匡启和，
申请(专利权)人：苏州国芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32