测试仪制造技术

本发明专利技术涉及显示屏制造领域，一种平面型材料的压力和硬度测试仪，包括底座、载台、测试架和测试器，被测试件平面张开固定于所述载台上，所述测试架包括由转动轴转动连接的立架和横架，所述立架与所述载台均与所述底座固定连接，所述横架一端设平衡砝码，另一端设配重砝码和连接座，所述连接座用于连接包含压力组件或硬度组件的所述测试器，并使所述测试器正对所述载台，在所述横架绕所述转动轴旋转后，所述测试器与所述被测试件接触以测试所述被测试件的承压性能或硬度。本发明专利技术测试仪，在同一仪器上实现了平面型材料两种性能的测试，扩大了测试仪的适用范围，在保证测试可靠的前提下节约了成本。

Tester

The invention relates to the field of screen manufacturing, a pressure and hardness tester for a plane type material, including a base, a carrier, a test frame and a tester. The test piece is open to the platform, and the test frame includes a vertical frame and a cross frame connected by a rotating shaft. The stand and the platform are all with the bottom. A balance weight is set at one end of the cross frame, the other end is set with a weight weight and a connecting seat. The connecting seat is used to connect the tester including the pressure component or the hardness component, and makes the tester on the carrier platform, and after the horizontal frame rotates around the rotating shaft, the tester and the test piece are used. Contact to test the pressure performance or hardness of the tested parts. The test instrument of the invention has realized the test of two properties of the plane type material on the same instrument, enlarges the scope of application of the tester, and saves the cost under the premise of ensuring the reliability of the test.

【技术实现步骤摘要】
测试仪
本专利技术涉及显示屏制造领域，尤其涉及一种平面型材料的压力和硬度测试仪。
技术介绍
在显示器制造过程中，铅笔硬度是检测显示屏性能的一项常用指标，测试铅笔通过与待测显示屏或制备显示屏的材料发生接触，以检测该显示屏或材料的硬度。可以理解的，制备显示屏的材料为平面型材料。随着柔性OLED显示屏的不断涌现，行业内常用的铅笔硬度等指标已经不能完全满足柔性OLED显示屏的性能描述。为此，针对柔性屏或用于制备柔性屏的平面型材料的特点，行业内又在硬度等常用指标的基础上引入了承压指标、抗弯指标等一系列参数来检测柔性平面型材料的性能。对于这些新引入的性能指标的检测，通常需要添置针对性的相关检测设备来解决，一台测试只能检测一项相应的性能参数，容易造成检测设备的堆置和浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可兼测平面型材料的压力和硬度参数的测试仪，具体包括如下技术方案：一种测试仪，用于平面型被测试件的性能测试，所述测试仪包括底座、载台、测试架和测试器；所述测试架和所述载台设置于所述底座上，所述测试器设置于所述测试架上，被测试件平面张开固定于所述载台上；所述测试架包括由转动轴铰接的立架和横架，所述立架与所述底座固定连接，所述横架的第一端设置平衡砝码，所述横架的第二端设置连接座，所述连接座上还设有配重砝码，所述连接座用于连接所述测试器，并使所述测试器正对所述载台，当所述横架绕所述转动轴旋转时，所述测试器与所述被测试件接触以进行测试；所述测试器为多种，包括压力组件和硬度组件，所述连接座连接所述压力组件或所述硬度组件，用于测试所述被测试件的承压性能或硬度。其中，所述压力组件包括套杆和测压头，所述连接座上设有与所述套杆配合的测压孔，所述测压头位于所述套杆与所述被测试件之间，固定于所述套杆上，用于与所述被测试件接触。其中，所述测压孔为通孔，所述套杆穿过所述测压孔，所述配重砝码穿过所述套杆设置于所述连接座上。其中，所述套杆上设有螺纹，使用与所述套杆配合的螺母压紧所述配重砝码。其中，所述硬度组件为测试铅笔，所述连接座上设有与所述测试铅笔配合的硬度孔，所述测试铅笔的笔头位于所述连接座与所述被测试件之间，用于与所述被测试件接触。其中，所述硬度孔的侧壁上设有螺纹通孔，使用螺钉伸入所述螺纹通孔以调节所述测试铅笔的夹紧或松开。其中，所述载台与所述底座通过滑轨连接，所述滑轨与所述横架平行，用于调节所述载台相对于所述测试器沿所述横架长度方向的接触位置。其中，所述载台上设有调节旋钮，所述调节旋钮连接旋转位移装置，所述旋转位移装置通过旋转以调节所述载台沿所述滑轨相对于所述测试器的位移。其中，所述横架在所述第一端上还设有限位装置，所述限位装置包括顶杆和固定部，所述固定部与所述立架固定连接，所述顶杆提供一抵持面用于抵持所述第一端，所述顶杆相对所述固定部滑动，以控制所述横架的转动。其中，所述横架上设有水平仪，用于所述横架的调平。本专利技术测试仪，通过所述底座固定了所述载台和所述立架，并通过转动轴将所述横架转动连接于所述立架上。所述横加上设置了平衡砝码用于调平，还设置了配重砝码用于提供测试时所需要的重量。所述连接座可在所述横架的支撑下带动所连接的所述测试器与所述被测试件进行接触，当所述测试器为测压组件时，所述测试仪可测量所述被测试件的承压性能，当所述测试器为硬度组件时，所述测试仪可以测量所述被测试件的硬度，通过同一仪器上分别测试平面型材料的两种性能，扩大了测试仪的适用范围，在保证测试可靠的前提下节约了成本。附图说明图1是本专利技术测试仪一种实施例的示意图；图2是本专利技术测试仪一种实施例的局部示意图；图3是本专利技术测试仪另一种实施例的示意图；图4是本专利技术测试仪另一种实施例的局部示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1的测试仪100，包括底座10、载台20、测试架30和测试器40，所述测试架30包括立架301和横架302，所述立架301和所述载台20均设置于所述底座10上，所述立架301优选为垂直于所述底座10，所述载台20优选为平行于所述底座10的顶面。所述立架301通过转动轴303与所述横架302铰接，相对于所述转动轴303，所述横架302在远离所述载台20的一端为第一端011，另一端为第二端012。所述第一端011上设有可调节的平衡砝码31，所述平衡砝码31可以沿所述横架302的长度方向，相对于所述旋转轴303移动以改变所述横架302的重心，由此调节所述横架302的初始水平状态，以便开始后续的检测动作。所述第二端02上设有连接座32，所述连接座32用于连接所述测试器40，所述连接座32上还设有配重砝码33。所述测试器40可以为多种，其中包括压力组件41和硬度组件42，所述压力组件41和所述硬度组件42均可单独连接于所述连接座32上，可以理解的，当所述连接座32连接所述压力组件41时，本测试仪100用于测试被测试件200的承压性能；当所述连接座32连接所述硬度组件42时，本测试仪100用于测试所述被测试件200的硬度。所述被测试件200为平面型材料，平铺于所述载台20上，所述横架302通过与所述立架301的铰接，可以绕所述旋转轴303旋转，设置所述横架302的所述第二端012在向所述载台20旋转运动时，被所述连接座32带动的所述测试器40正对所述载台20运动，二者相互接触的位置在所述被测试件200上。在使用本专利技术测试仪100时，需要先在所述连接座32上固定好与测试项目对应的所述测试器40，然后通过调节所述平衡砝码31使所述横架302处于水平状态，最后放上所述配重砝码33，控制所述横架302的所述第二端012向所述载台20转动，使所述测试器40与所述被测试件200接触。本专利技术测试仪100，通过所述载台20、所述测试架30和所述测试器40之间的配合，实现了所述测试器40相对于所述被测试件200的相对移动且接触。所述配重砝码33提供所述测试器40在测试时所需的重量，检测人员可通过需要测试的指标来装备相应的所述测试器40。在同一测试装置上同时测试平面型材料的两种性能指标，拓展了所述测试器100的兼容性，节约成本。可以理解的，检测人员还可以根据平面型材料的检测需求，利用本专利技术测试仪100，运用一些常规的组件以形成所述检测器40，或一些常规的测试方法，实现本测试仪100对平面型材料另一些常规指标的检测功能，本专利技术不作特别限定。一种实施例，所述检测器40为所述压力组件41，包括套杆411和测压头412，其中所述套杆411与所述连接座32上设置的测压孔321配合，以固定于所述连接座32上。该配合可以为螺纹配合，也可以为过盈配合，还可以是带有弹簧伸缩的卡持配合，本专利技术不作特别限定，只要所述套杆411相对于所述连接座32不发生轴向运动，都可以实现本专利技术的效果。优选的，所述套杆411与所述连接座32也不发生轴向转动，完全固定于所述连接座32上。对于所述测压头412，将其设置于位于所述套杆411与所述被测试件200之间，固定于所述套本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试仪，用于平面型被测试件的性能测试，其特征在于：所述测试仪包括底座、载台、测试架和测试器；所述测试架和所述载台设置于所述底座上，所述测试器设置于所述测试架上，被测试件平面张开固定于所述载台上；所述测试架包括由转动轴铰接的立架和横架，所述立架与所述底座固定连接，所述横架的第一端设置平衡砝码，所述横架的第二端设置连接座，所述连接座上还设有配重砝码，所述连接座用于连接所述测试器，并使所述测试器正对所述载台，当所述横架绕所述转动轴旋转时，所述测试器与所述被测试件接触以进行测试；所述测试器为多种，包括压力组件和硬度组件，所述连接座连接所述压力组件或所述硬度组件，用于测试所述被测试件的承压性能或硬度。

【技术特征摘要】
1.一种测试仪，用于平面型被测试件的性能测试，其特征在于：所述测试仪包括底座、载台、测试架和测试器；所述测试架和所述载台设置于所述底座上，所述测试器设置于所述测试架上，被测试件平面张开固定于所述载台上；所述测试架包括由转动轴铰接的立架和横架，所述立架与所述底座固定连接，所述横架的第一端设置平衡砝码，所述横架的第二端设置连接座，所述连接座上还设有配重砝码，所述连接座用于连接所述测试器，并使所述测试器正对所述载台，当所述横架绕所述转动轴旋转时，所述测试器与所述被测试件接触以进行测试；所述测试器为多种，包括压力组件和硬度组件，所述连接座连接所述压力组件或所述硬度组件，用于测试所述被测试件的承压性能或硬度。2.如权利要求1所述测试仪，其特征在于，所述压力组件包括套杆和测压头，所述连接座上设有与所述套杆配合的测压孔，所述测压头位于所述套杆与所述被测试件之间，固定于所述套杆上，用于与所述被测试件接触。3.如权利要求2所述测试仪，其特征在于，所述测压孔为通孔，所述套杆穿过所述测压孔，所述配重砝码穿过所述套杆设置于所述连接座上。4.如权利要求3所述测试仪，其特征在于，所述套杆上设有螺纹，使...

【专利技术属性】
技术研发人员：江国栋，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42