SPI-NAND的测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种SPI‑NAND的测试方法和装置。本发明专利技术SPI‑NAND的测试方法，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。本发明专利技术实现对SPI‑NAND的多测试案例的灵活组合，提高测试效率。

Test methods and devices for SPI-NAND

The invention discloses a test method and device for SPI NAND. The testing method of the invention of the present invention includes the receiving of test instructions, which include the number of the test cases and the corresponding test parameters, and the test cases and the test cases corresponding to each of the test cases are set up in advance according to the test requirements of the measured objects; the test instructions are called according to the test instructions described. The test code of the test case corresponds to the test code for the SPI NAND, in which the test parameters are taken as the input parameters of the test code, the test code is generated in advance according to the test case, and the test results are output according to the running results of the test code. The invention realizes flexible combination of multi test cases for SPI NAND and improves testing efficiency.

【技术实现步骤摘要】
SPI-NAND的测试方法和装置
本专利技术实施例涉及SPI-NAND技术，尤其涉及一种SPI-NAND的测试方法和装置。
技术介绍
调试模块(Debugmodule)是SPI-NAND的固件(Firmware)开发中重要的组成模块，用于对Firmware的代码(codes)进行测试、验证。Debugmodule包括针对被测试Firmwarecodes的测试代码(testcodes)的设计，其涵盖输入输出测试、逻辑功能验证测试、异常情况处理测试、参数越界测试等。在Firmware的开发过程中，通过调用相应的testcodes，反复测试验证已开发或调整的代码的功能，为Firmwarecodes的功能验证和继续优化提供测试数据支持。现有技术的Debugmodule以testcodes的source文件为测试基础，针对被测对象的测试需求，设计相应的testcodes，然后将testcodes加载在主函数中，将编译好的工程文件烧录到controller中，上电运行验证结果。但是，上述方法测试项目、参数的设定不灵活，只能提前固定写入工程文件中，如果改变测试项目、参数需要重新编译烧录，严重降低测试效率。
技术实现思路
本专利技术提供一种SPI-NAND的测试方法和装置，以实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，提高测试效率。第一方面，本专利技术实施例提供了一种SPI-NAND的测试方法，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。可选的，在所述接收测试指令之前，还包括：通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。可选的，在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前，还包括：接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种SPI-NAND的测试装置，包括：接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；测试模块，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；输出模块，用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。可选的，还包括：通信模块，用于通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。可选的，所述接收模块，还用于接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种存储设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述第一方面任一所述的SPI-NAND的测试方法。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种包含存储设备可执行指令的存储介质，所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法，该方法包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。本专利技术通过将测试案例按编号部署并提供测试案例选择和入参输入的外部通道，实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，即使只下载一次工程文件，也可以通过外部通道随机选择测试案例和测试参数，提高测试效率。附图说明图1为本专利技术实施例提供的SPI-NAND的测试方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种存储设备的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。图1为本专利技术实施例提供的SPI-NAND的测试方法的流程图，该方法可以由SPI-NAND存储装置来执行，具体包括如下步骤：步骤101、接收测试指令，该测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，测试案例和各测试案例对应的测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；本实施例中，以良好人机界面的上位机程序为测试指令的发送端，SPI-NAND设备端接收来自该程序传入的测试案例编号，测试参数。根据被测对象的测试需求设置测试案例和其对应的测试参数，其中，被测对象是SPI-NAND，可以将测试案例分为三类，分别对应SPI-NAND前端、传输、后台，然后在各大类中设置输入输出测试、逻辑功能验证测试、异常情况处理测试、参数越界测试等相关测试案例，有的测试案例还可以包含测试参数，即同一个案例可以通过改变测试参数测试SPI-NAND的不同性能。用户通过在计算机的应用程序上输入相关数据产生测试指令以启动对SPI-NAND的测试，即输入对应测试项目的测试案例的编号(或者测试案例的其他标识信息)，并输入在该测试案例下的测试参数。存储装置提前和计算机进行信息交互，以确定测试案例的编号和测试参数的传输格式，包括测试数据在数据包中的位置、编号的字符串长度、测试参数的字符串个数和各字符串的长度，例如，编号可以采用16bit的格式，测试参数最多可以有6个，每个测试参数采用16bit的格式，这样存储装置接收测试指令后，可以在数据包固定的位置提取约定长度的数据并解析得到上述编号和测试参数。步骤102、根据测试指令调用测试案例的编号对应的测试代码对SPI-NAND进行测试，其中，以测试参数作为测试代码的入参，测试代码是预先根据测试案例生成的；各个测试案例的测试代码已经预先生成了，因此得到测试案例的编号和测试参数后，就可以直接调用该编号对应的测试案例的测试代码，并且以测试参数为入参运行测试代码。步骤103、根据测试代码的运行结果输出测试结果。当测试代码运行完后就可以得到测试结果，存储装置将测试结果输出给计算机，供用户参考。本实施例的技术方案，通过将测试案例按编号部署并提供测试案例选择和入参输入的外部通道，实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，即使只下载一次工程文件，也可以通过外部通道随机选择测试案例和测试参数，提高测试效率。在上述技术方案的基础上，接收工程文件，该工程文件包括所述测试案例的测试代码。本实施例中，可以将测试案例的调用接口设置在SPI-NAND的Firmware的主函数中，编译后生成工程文件烧录存储装置，在后续的测试中只需要输入测试案例的编号和相应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SPI‑NAND的测试方法，其特征在于，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种SPI-NAND的测试方法，其特征在于，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述接收测试指令之前，还包括：通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前，还包括：接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。4.一种SPI-NAND的测试装置，其特征在于，包括：接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；测试模块，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄开锋，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11