一种光学镀膜测量系统反射式光路装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，包括装配底架、固定支撑架和显示屏，所述装配底架上设置有电力接入插头，所述电力接入插头与电路自检仪相连接，所述电路自检仪侧边设置有指示灯，所述电路自检仪侧边设置有导电管路，所述固定支撑架设置在所述绝缘蒙皮和所述上层横梁之间，所述上层横梁上设置有红外测距发射头阵列和红外线接收面板，所述红外线接收面板通过信息反馈链路与信息处理器相连接，所述信息处理器与所述显示屏相连接。有益效果在于：本发明专利技术可以通过红外测距的方式检测镀膜表层对红外线的反射程度，并通过采集反射的红外线信息绘制出镀膜表层平整度曲线，直接通过画面显示出来，方便工作人员直观的感受到镀膜的平整度。

A reflective optical circuit device for optical coating measurement system

The invention discloses a measuring system of optical coating reflection type optical path device, including assembly frame, fixed supporting frame and a display screen, wherein the assembly frame which is provided with power plug, the power plug is connected with the circuit self-test device, the circuit self-test instrument side is provided with an indicator light, the circuit self checking instrument side is provided with a conductive pipe, the fixed supporting frame is arranged on the insulation between the skin and the upper crossbeam, the upper crossbeam is arranged on the infrared emitter and infrared ranging array receiving panel, the infrared receiving panel through the information feedback link and the information processor is connected with the information processor the display screen is connected. The beneficial effect is that the invention can be reflected by the degree of infrared distance detection of infrared coating surface, and through the infrared information collecting the reflected draw flatness curve surface coating, directly through the screen display, the smoothness of the facilitatestaff intuitive feel of the film.

【技术实现步骤摘要】
一种光学镀膜测量系统反射式光路装置
本专利技术涉及光学镀膜设备领域，本专利技术涉及一种光学镀膜测量系统反射式光路装置。
技术介绍
镀膜是用物理或化学的方法在材料表面镀上一层透明的电解质膜，或镀一层金属膜，目的是改变材料表面的反射和透射特性，在可见光和红外线波段范围内，大多数金属的反射率都可达到78％～98％，但不可高于98％。无论是对于CO2激光，采用铜、钼、硅、锗等来制作反射镜，采用锗、砷化镓、硒化锌作为输出窗口和透射光学元件材料，还是对于YAG激光采用普通光学玻璃作为反射镜、输出镜和透射光学元件材料，都不能达到全反射镜的99％以上要求。不同应用时输出镜有不同透过率的要求，因此必须采用光学镀膜方法，光学镀膜机就是一种专门用于光学镀膜的设备。在光学镀膜完成后，需要测量镀膜平整度，从而判断镀膜质量，本专利技术就是一种用于判断镀膜平整度的反射式光路装置。
技术实现思路
本专利技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种光学镀膜测量系统反射式光路装置。本专利技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，包括装配底架、固定支撑架和显示屏，所述装配底架上设置有电力接入插头，所述电力接入插头与电路自检仪相连接，所述电路自检仪侧边设置有指示灯，所述电路自检仪侧边设置有导电管路，所述固定支撑架设置在所述绝缘蒙皮和所述上层横梁之间，所述上层横梁上设置有红外测距发射头阵列和红外线接收面板，所述红外线接收面板通过信息反馈链路与信息处理器相连接，所述信息处理器与所述显示屏相连接，所述显示屏侧边设置有连接架，所述连接架上设置有光敏感仪，所述装配底架底部设置有固定卯栓。本实施例中，所述电力接入插头与所述电路自检仪电连接，所述电路自检仪与所述指示灯电连接。本实施例中，所述电路自检仪安装在固定座上，所述电路自检仪与所述固定座通过螺栓固定连接。本实施例中，所述绝缘蒙皮、所述固定支撑架、所述上层横梁内部进行空心设计，铺设有电缆。本实施例中，所述电路自检仪与所述红外测距发射头阵列电连接，所述电路自检仪与所述红外线接收面板电连接，所述电路自检仪与所述光敏感仪电连接。本实施例中，所述上层横梁与所述红外测距发射头阵列通过凹槽嵌套连接，所述上层横梁与所述红外线接收面板通过凹槽嵌套连接。本实施例中，所述红外测距发射头阵列由拔插式接线柱、变压器、保护外壳、砷化镓发光二极管、聚光锆石、定位框架、导光通道和红外线发射探头组成，所述拔插式接线柱与所述电路自检仪电连接，所述拔插式接线柱与所述砷化镓发光二极管电连接，所述砷化镓发光二极管与所述聚光锆石固定连接。本实施例中，所述聚光锆石与所述导光通道嵌套连接，所述导光通道与所述红外线发射探头固定连接，所述定位框架与所述保护外壳铆接。本实施例中，所述红外线接收面板与所述信息反馈链路电连接，所述信息反馈链路与所述信息处理器电连接，所述信息处理器与所述显示屏电连接。本实施例中，所述显示屏与所述红外线接收面板进行分体式设计，可以拆开分别装配在不同的位置。本专利技术的有益效果在于：本专利技术可以通过红外测距的方式，检测镀膜表层对红外线的反射程度，并通过采集反射的红外线信息绘制出镀膜表层平整度曲线，直接通过画面显示出来，方便工作人员直观的感受到镀膜的平整度。附图说明图1是本专利技术所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的立体视图；图2是本专利技术所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的俯视图；图3是本专利技术所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的仰视结构简图；图4是本专利技术所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的所述红外测距发射头阵列的主视结构简图。附图标记说明如下：1、电力接入插头；2、装配底架；3、固定座；4、电路自检仪；5、指示灯；6、导电管路；7、绝缘蒙皮；8、固定支撑架；9、伸缩式信号接收头；10、红外测距发射头阵列；11、连接架；12、光敏感仪；13、红外线接收面板；14、显示屏；15、信息反馈链路；16、信息处理器；17、信息处理器；1001、拔插式接线柱；1002、变压器；1003、保护外壳；1004、砷化镓发光二极管；1005、聚光锆石；1006、定位框架；1007、导光通道；1008、红外线发射探头。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明：如图1-图4所示，一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，包括装配底架2、固定支撑架8和显示屏14，所述装配底架2上设置有电力接入插头1，所述电力接入插头1与电路自检仪4相连接，所述电路自检仪4侧边设置有指示灯5，所述电路自检仪4侧边设置有导电管路6，所述固定支撑架8设置在所述绝缘蒙皮7和所述上层横梁9之间，所述上层横梁9上设置有红外测距发射头阵列10和红外线接收面板13，所述红外线接收面板13通过信息反馈链路15与信息处理器16相连接，所述信息处理器16与所述显示屏14相连接，所述显示屏14侧边设置有连接架11，所述连接架11上设置有光敏感仪12，所述装配底架2底部设置有固定卯栓17。本实施例中，所述电力接入插头1与所述电路自检仪4电连接，所述指示灯5可以用于接入外部电力，为本专利技术提供电力支持，所述电路自检仪4与所述指示灯5电连接，所述电路自检仪4可以用于为本专利技术提供电路自检功能，并将自检结果通过所述指示灯5的颜色显示出来。本实施例中，所述电路自检仪4安装在固定座3上，所述电路自检仪4与所述固定座3通过螺栓固定连接，所述固定座3可以为所述电路自检仪4与所述指示灯5提供固定支撑的作用。本实施例中，所述绝缘蒙皮7、所述固定支撑架8、所述上层横梁9内部进行空心设计，铺设有电缆，可以用于传输电力。本实施例中，所述电路自检仪4与所述红外测距发射头阵列10电连接，所述电路自检仪4与所述红外线接收面板13电连接，所述电路自检仪4与所述光敏感仪12电连接，所述电路自检仪4可以为所述红外测距发射头阵列10、所述红外线接收面板13和所述光敏感仪12提供电路自检的功能，所述光敏感仪12可以用于检测本专利技术对红外线的敏感性，从而判断所述红外测距发射头阵列10、所述红外线接收面板13是否处于正常工作状态。本实施例中，所述上层横梁9与所述红外测距发射头阵列10通过凹槽嵌套连接，所述上层横梁9与所述红外线接收面板13通过凹槽嵌套连接，所述上层横梁9可以为所述红外测距发射头阵列10、所述红外线接收面板13提供固定支承的作用，保持所述红外测距发射头阵列10、所述红外线接收面板13处于同一平面上。本实施例中，所述红外测距发射头阵列10由拔插式接线柱1001、变压器1002、保护外壳1003、砷化镓发光二极管1004、聚光锆石1005、定位框架1006、导光通道1007和红外线发射探头1008组成，所述拔插式接线柱1001与所述电路自检仪4电连接，所述拔插式接线柱1001与所述砷化镓发光二极管1004电连接，所述砷化镓发光二极管1004与所述聚光锆石1005固定连接，所述拔插式接线柱1001使用方便，可以接入外部电力，并将电力由所述砷化镓发光二极管1004转换为红外线。本实施例中，所述聚光锆石1005与所述导光通道1007嵌套连接，所述导光通道1007与所述红外线发射探头1008固定连接，所述定位框架1006与所述保护外壳1003铆接，所述聚光锆石1005可以将汇聚后的红外线由所述导光通道1007传导至所述红外本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：包括装配底架、固定支撑架和显示屏，所述装配底架上设置有电力接入插头，所述电力接入插头与电路自检仪相连接，所述电路自检仪侧边设置有指示灯，所述电路自检仪侧边设置有导电管路，所述固定支撑架设置在所述绝缘蒙皮和所述上层横梁之间，所述上层横梁上设置有红外测距发射头阵列和红外线接收面板，所述红外线接收面板通过信息反馈链路与信息处理器相连接，所述信息处理器与所述显示屏相连接，所述显示屏侧边设置有连接架，所述连接架上设置有光敏感仪，所述装配底架底部设置有固定卯栓。

【技术特征摘要】
1.一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：包括装配底架、固定支撑架和显示屏，所述装配底架上设置有电力接入插头，所述电力接入插头与电路自检仪相连接，所述电路自检仪侧边设置有指示灯，所述电路自检仪侧边设置有导电管路，所述固定支撑架设置在所述绝缘蒙皮和所述上层横梁之间，所述上层横梁上设置有红外测距发射头阵列和红外线接收面板，所述红外线接收面板通过信息反馈链路与信息处理器相连接，所述信息处理器与所述显示屏相连接，所述显示屏侧边设置有连接架，所述连接架上设置有光敏感仪，所述装配底架底部设置有固定卯栓。2.根据权利要求1所述的一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：所述电力接入插头与所述电路自检仪电连接，所述电路自检仪与所述指示灯电连接。3.根据权利要求1所述的一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：所述电路自检仪安装在固定座上，所述电路自检仪与所述固定座通过螺栓固定连接。4.根据权利要求1所述的一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：所述绝缘蒙皮、所述固定支撑架、所述上层横梁内部进行空心设计，铺设有电缆。5.根据权利要求1所述的一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，其特征在于：所述电路自检仪与所述红外测距发射头阵列电连接，所述电路自检仪与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈路玉，黄兰英，杜瑞婷，杨永华，
申请(专利权)人：中山市创科科研技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44