光栅测距装置及光栅测距系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种光栅测距装置及光栅测距系统，涉及光栅测距技术领域，包括：主尺、磁力固定座、辅助调节装置、测量装置和读数装置。通过磁力固定座将主尺快读的安装在数控机床合适的位置上，同时利用磁力固定座可快速拆卸，利用辅助调节装置和测量装置调整主尺的水平度和磁力固定座吸附的平面之间的平行度，为动态测量目标物精确位移打下基础，利用读数装置读取测量数值；缓解了现有技术中存在的在数控机床中采用激光干涉技术测量目标物体移动距离时，在加工过程带负载的情况下，无法精准测量出目标物体的线性移动距离技术问题，实现了在数控机床上光栅尺快速、准确、可靠的安装或拆卸，准确测量动态物体线性位移的技术效果。

Grating range finder and grating range finding system

The utility model provides a grating distance measuring device and a grating ranging system, and relates to the field of grating ranging technology, including: main ruler, magnetic fixed seat, auxiliary adjusting device, measuring device and reading device. The magnetic fixing seat will be the main ruler read fast installed in the appropriate position by the CNC machine tool, and the use of magnetic fixing seat can be disassembled quickly between the plane adjustment device and the measuring device to adjust the level of the main ruler and the auxiliary magnetic fixed adsorption of parallelism for dynamic measurement of target accurate displacement basis with a reading device for reading, measuring value; alleviate the problem existing in the prior art in the CNC machine using laser interferometry technology target moving distance, with the load in the process of the case, can not accurately measure the linear distance problem of target. The fiber grating is realized in CNC machine tools, rapid and accurate ruler reliable installation or disassembly, technical effect of accurate measurement of linear displacement of dynamic objects.

【技术实现步骤摘要】
光栅测距装置及光栅测距系统
本技术涉及光栅测距
，尤其是涉及一种光栅测距装置及光栅测距系统。
技术介绍
随着科技的发展和社会的进步，精密测量应用于各个行业，尤其在制造业当中尤为重要。目前，大多数中低端数控机床一般采用光电编码器作为自己的位移测量工具，采用激光干涉技术精密测量目标物体移动距离。但是，激光干涉技术只能对非加工状态下以及无负载条件下的静态误差测量，而在动态情况下，特别是在加工过程(带负载)情况下，测量螺距误差和进行相关补偿时，该方法无法满足要求，无法准确测量。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种光栅测距装置及光栅测距系统，以缓解了现有技术中存在的在数控机床中采用激光干涉技术测量目标物体移动距离时，在加工过程带负载的情况下，无法精准测量出目标物体的线性移动距离技术问题。本技术提供的光栅测距装置，包括：主尺、磁力固定座、辅助调节装置、测量装置和读数装置；主尺两端设置有连接部，辅助调节装置通过连接部与主尺连接，辅助调节装置用于调整主尺的水平度以及磁力固定座吸附的平面之间的平行度；磁力固定座包括第一磁力固定座和第二磁力固定座，第一磁力固定座和第二磁力固定座均设置为两个，两个第一磁力固定座均与辅助调节装置远离主尺的一端连接，第一磁力固定座用于固定主尺，第二磁力固定座与主尺的一侧连接，读数装置位于两个第二磁力固定座之间，且分别与两个第二磁力固定座连接，两个第二磁力固定座用于将读数装置固定于主尺的一侧，以测量待测物的线性位移；测量装置与主尺远离读数装置的一侧连接，测量装置用于测量主尺的水平度。进一步的，磁力固定座包括导磁体、非磁体、永磁体和软磁体；导磁体设置为两个，非磁体均与两个导磁体连接并将两个导磁体隔开，导磁体通过辅助调节装置与主尺连接；两个导磁体与非磁体围成空心结构，软磁体设置于空心结构内，软磁体分别与导磁体和非磁体连接，永磁体设置于软磁体内，用于改变导磁体的磁性。进一步的，辅助调节装置包括水平调节器和平行调节器；水平调节器与连接部远离测量装置的一端连接，水平调节器用于调整主尺的水平度；平行调节器与连接部远离主尺的一端连接，平行调节器用于调整主尺与磁力固定座吸附的平面之间的平行度。进一步的，水平调节器包括第一调整螺丝、固定支架和第一反力弹簧丝；固定支架与磁力固定座连接，第一反力弹簧丝与连接部连接，固定支架设置有通孔，第一调整螺丝通过通孔与第一反力弹簧丝连接，第一调整螺丝用于调整第一反力弹簧丝的弹簧力。进一步的，平行调节器包括第二调整螺丝和第二反力弹簧丝；第二调整螺丝与磁力固定座连接，第二反力弹簧丝与第二调整螺丝连接，第二调整螺丝用于调整第二反力弹簧丝的弹簧力。进一步的，光栅测距装置还包括水平限位器；水平限位器与磁力固定座远离水平调节器的一端连接，水平限位器用于限定磁力固定座的水平区域。进一步的，光栅测距装置还包括操作手柄；操作手柄与磁力固定座远离主尺的一端连接，操作手柄用于控制磁力固定座吸附或分离待测物。进一步的，测量装置为千分表。进一步的，非磁体为铜棒。本技术提供的光栅测距系统，包括电源和光栅测距装置；电源与光栅测距装置电连接。本技术提供的光栅测距装置，包括：主尺、磁力固定座、辅助调节装置、测量装置和读数装置；主尺两端设置有连接部，辅助调节装置通过连接部与主尺连接，辅助调节装置用于调整主尺的水平度以及磁力固定座吸附的平面之间的平行度；磁力固定座包括第一磁力固定座和第二磁力固定座，第一磁力固定座和第二磁力固定座均设置为两个，两个第一磁力固定座均与辅助调节装置远离主尺的一端连接，第一磁力固定座用于固定主尺，第二磁力固定座与主尺的一侧连接，读数装置位于两个第二磁力固定座之间，且分别与两个第二磁力固定座连接，两个第二磁力固定座用于将读数装置固定于主尺的一侧，以测量待测物的线性位移；测量装置与主尺远离读数装置的一侧连接，测量装置用于测量主尺的水平度。通过磁力固定座将主尺快读的安装在数控机床合适的位置上，同时利用磁力固定座可快速拆卸，利用辅助调节装置和测量装置调整主尺的水平度和磁力固定座吸附的平面之间的平行度，为动态测量目标物精确位移打下基础，利用读数装置读取测量数值；缓解了现有技术中存在的在数控机床中采用激光干涉技术测量目标物体移动距离时，在加工过程带负载的情况下，无法精准测量出目标物体的线性移动距离技术问题，实现了在数控机床上光栅尺快速、准确、可靠的安装或拆卸，准确测量动态物体线性位移的技术效果。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的光栅测距装置的整体结构示意图；图2为本技术实施例提供的光栅测距装置中的磁力固定座的结构示意图；图3为本技术实施例提供的光栅测距装置中的磁力固定座带有辅助调节装置的结构示意图；图4为本技术实施例提供的光栅测距装置带有操作手柄的结构示意图。图标：100-主尺；110-连接部；200-磁力固定座；210-第一磁力固定座；220-第二磁力固定座；230-导磁体；240-非磁体；250-永磁体；260-软磁体；300-辅助调节装置；310-水平调节器；311-第一调整螺丝；312-固定支架；313-第一反力弹簧丝；320-平行调节器；321-第二调整螺丝；322-第二反力弹簧丝；400-测量装置；500-读数装置；600-水平限位器；700-操作手柄。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，如出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等，其所指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，如出现术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，如出现术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。图1为本实施例提供的光栅测距装置的整体结构示意图；图2为本实施例提供的光栅测距装置中的磁力固定座的结构示意图；图3为本实施例提供的光栅测距装置中的磁力固定座带有辅助调节装置的结构示意图；图4为本实施例提供的光栅测距装置带有操作手柄的结构示意图。如图1-4所示，本实施例提供的光栅测距装置，包括：主尺100本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光栅测距装置，其特征在于，包括：主尺、磁力固定座、辅助调节装置、测量装置和读数装置；所述主尺两端设置有连接部，所述辅助调节装置通过所述连接部与所述主尺连接，所述辅助调节装置用于调整所述主尺的水平度以及所述磁力固定座吸附的平面之间的平行度；所述磁力固定座包括第一磁力固定座和第二磁力固定座，所述第一磁力固定座和所述第二磁力固定座均设置为两个，两个所述第一磁力固定座均与所述辅助调节装置远离所述主尺的一端连接，所述第一磁力固定座用于固定所述主尺，所述第二磁力固定座与所述主尺的一侧连接，所述读数装置位于两个所述第二磁力固定座之间，且分别与两个所述第二磁力固定座连接，两个所述第二磁力固定座用于将所述读数装置固定于所述主尺的一侧，以测量待测物的线性位移；所述测量装置与所述主尺远离所述读数装置的一侧连接，所述测量装置用于测量所述主尺的水平度。

【技术特征摘要】
1.一种光栅测距装置，其特征在于，包括：主尺、磁力固定座、辅助调节装置、测量装置和读数装置；所述主尺两端设置有连接部，所述辅助调节装置通过所述连接部与所述主尺连接，所述辅助调节装置用于调整所述主尺的水平度以及所述磁力固定座吸附的平面之间的平行度；所述磁力固定座包括第一磁力固定座和第二磁力固定座，所述第一磁力固定座和所述第二磁力固定座均设置为两个，两个所述第一磁力固定座均与所述辅助调节装置远离所述主尺的一端连接，所述第一磁力固定座用于固定所述主尺，所述第二磁力固定座与所述主尺的一侧连接，所述读数装置位于两个所述第二磁力固定座之间，且分别与两个所述第二磁力固定座连接，两个所述第二磁力固定座用于将所述读数装置固定于所述主尺的一侧，以测量待测物的线性位移；所述测量装置与所述主尺远离所述读数装置的一侧连接，所述测量装置用于测量所述主尺的水平度。2.根据权利要求1所述的光栅测距装置，其特征在于，所述磁力固定座包括导磁体、非磁体、永磁体和软磁体；所述导磁体设置为两个，所述非磁体均与两个所述导磁体连接并将两个所述导磁体隔开，所述导磁体通过所述辅助调节装置与所述主尺连接；两个所述导磁体与所述非磁体围成空心结构，所述软磁体设置于所述空心结构内，所述软磁体分别与所述导磁体和所述非磁体连接，所述永磁体设置于所述软磁体内，用于改变所述导磁体的磁性。3.根据权利要求1所述的光栅测距装置，其特征在于，所述辅助调节装置包括水平调节器和平行调节器；所述水平调节器与所述连接部远离所述测量装置的一端连接，所述水平调节器...

【专利技术属性】
技术研发人员：张中明，吴晓苏，
申请(专利权)人：杭州职业技术学院，
类型：新型
国别省市：浙江,33