【技术实现步骤摘要】
薄膜电容检测系统
本技术涉及电容
,尤其是指薄膜电容检测系统。
技术介绍
现有的薄膜电容在生产时,采用人工一个个检测,其劳动强度大,效率低。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种结构合理、检测效果好、速度快的薄膜电容检测系统。为实现上述目的,本技术所提供的技术方案为:薄膜电容检测系统,它包括有检测台,检测台台面上设有下凹的输出槽,输出槽输入端两侧的台面上设有导向板,输出槽输出端设有上下贯穿的检测口,检测口底部一端设有检测器,检测器位于输出槽底部,检测口底部另一端设有旋转轴,旋转轴通过相应的电机带动旋转,旋转轴长度方向与输出槽的宽度方向一致,旋转轴两端设有连杆,连杆一端与旋转轴连接,连杆另一端连接的拨杆,位于旋转轴一侧的检测器上设有极片槽;检测口顶部一侧的检测台台面上设有感应器。所述的检测台台面上设有固定座,固定座顶部设有立轴,立轴上活动套装有滑块,套装后的滑块通过调节螺栓锁紧,滑块上安装有感应器。所述的拨杆的长度大于检测口的宽度。所述的导向板外侧设有调节螺栓,并通过调节螺栓活动安装在检测台台面的固定块上,安装后的两块导向板之间形成限位通道,限位通道入口处的导向板端部向外折弯形成喇叭状的进入口。本技术在采用上述方案后,未描述的结构均可采用市面常规方式,检测时,薄膜电容通过振料器振动,极片向前依次排列送入输出槽,行至感应器位置时,电机带动旋转轴旋转,通过拨杆接触极片并使电容竖起,极片即进入极片槽,通过检测器进行检测即可,合格品及不合格品则通过外部机械手抓取分造,采用本方案后的结构合理、检测效果好、速度快。附图说明图1为本技术的整体结构示 ...
【技术保护点】
薄膜电容检测系统,它包括有检测台(1),其特征在于:检测台(1)台面上设有下凹的输出槽(2),输出槽(2)输入端两侧的台面上设有导向板(3),输出槽(2)输出端设有上下贯穿的检测口,检测口底部一端设有检测器(4),检测器(4)位于输出槽(2)底部,检测口底部另一端设有旋转轴(5),旋转轴(5)通过相应的电机带动旋转,旋转轴(5)长度方向与输出槽(2)的宽度方向一致,旋转轴(5)两端设有连杆(6),连杆(6)一端与旋转轴(5)连接,连杆(6)另一端连接的拨杆(7),位于旋转轴(5)一侧的检测器(4)上设有极片槽(8);检测口顶部一侧的检测台(1)台面上设有感应器(9)。
【技术特征摘要】
1.薄膜电容检测系统,它包括有检测台(1),其特征在于:检测台(1)台面上设有下凹的输出槽(2),输出槽(2)输入端两侧的台面上设有导向板(3),输出槽(2)输出端设有上下贯穿的检测口,检测口底部一端设有检测器(4),检测器(4)位于输出槽(2)底部,检测口底部另一端设有旋转轴(5),旋转轴(5)通过相应的电机带动旋转,旋转轴(5)长度方向与输出槽(2)的宽度方向一致,旋转轴(5)两端设有连杆(6),连杆(6)一端与旋转轴(5)连接,连杆(6)另一端连接的拨杆(7),位于旋转轴(5)一侧的检测器(4)上设有极片槽(8);检测口顶部一侧的检测台(1)台面上设有感应器...
【专利技术属性】
技术研发人员:李建军,
申请(专利权)人:东莞市弘源电子有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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