一种清洁不规则柱状物体表面的方法技术

本发明专利技术公开了一种清洁不规则柱状物体表面的方法，包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元的中心点串联，得到清洁轨迹线；S4：根据所述清洁轨迹线对不规则柱状物体进行清洁。以清洁单元为基本单元在三维模型表面进行排列覆盖并生成清洁轨迹线，可以避免在清洁时对不规则柱状物体表面的某一区域进行重复多次清洁，有利于提高清洁效率；而且，沿清洁轨迹线进行清洁不会出现漏擦的地方，有利于提高清洁效果。

A method of cleaning the surface of an irregular columnar object

【技术实现步骤摘要】
一种清洁不规则柱状物体表面的方法
本专利技术涉及不规则柱状物体的清洁，尤其涉及一种清洁不规则柱状物体表面的方法。
技术介绍
在对不规则柱状物体表面进行清洁时，普遍是通过人工亲手操作的，不仅效率低下，而且经常有遗漏的地方致使清洁得不够干净。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种清洁不规则柱状物体表面的方法，该方法可以提高对不规则柱状物体表面的清洁效率以及清洁效果。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种清洁不规则柱状物体表面的方法，包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元的中心点串联，得到清洁轨迹线；S4：根据所述清洁轨迹线对不规则柱状物体进行清洁。本专利技术的有益效果在于：以清洁单元为基本单元在三维模型表面进行排列覆盖并生成清洁轨迹线，可以避免在清洁时对不规则柱状物体表面的某一区域进行重复多次清洁，有利于提高清洁效率；而且，沿清洁轨迹线进行清洁不会出现漏擦的地方，有利于提高清洁效果。附图说明图1为本专利技术实施例一的清洁不规则柱状物体表面的方法的原理图；图2为本专利技术实施例一的清洁不规则柱状物体表面的方法中采用多个预设检测不规则柱状物体平面轮廓的示意图；图3为本专利技术实施例一的清洁不规则柱状物体表面的方法中检测不规则柱状物体平面轮廓线的原理图；图4为本专利技术实施例一的清洁不规则柱状物体表面的方法中标准参照电子信号示意图；图5为本专利技术实施例一的清洁不规则柱状物体表面的方法中实测电子信号示意图；图6为本专利技术实施例二的清洁不规则柱状物体表面的方法中检测不规则柱状物体平面轮廓线的原理图。标号说明：1、预设光源；2、轮廓线；3、标准参照电子信号；4、实测电子信号；5、标准参照面；6、不规则柱状物体；7、基本单元；8、清洁轨迹线。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。本文所述清洁单元包括但不限于海绵、编织物(如抹布)、网状物(如沐浴球)和刷子，清洁单元的面积指的是清洁单元与不规则柱状物体表面直接接触的面积。本专利技术最关键的构思在于：以清洁单元的面积为基本单元在三维模型表面进行排列覆盖并生成清洁轨迹线。请参照图1至图6，一种清洁不规则柱状物体表面的方法，包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体6的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元7，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元7的中心点串联，得到清洁轨迹线8；S4：根据所述清洁轨迹线8对不规则柱状物体6进行清洁。从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：以清洁单元为基本单元在三维模型表面进行排列覆盖并生成清洁轨迹线，可以避免在清洁时对不规则柱状物体表面的某一区域进行重复多次清洁，有利于提高清洁效率；而且，沿清洁轨迹线进行清洁不会出现漏擦的地方，有利于提高清洁效果。进一步的，步骤S1中建立不规则柱状物体6的三维模型具体包括如下步骤：S11：将若干个预设光源1呈环形均匀设置，将所述不规则柱状物体6设置于所述若干个预设光源1所围成的环形的中间；S12：对每个预设光源1依次执行如下步骤：S121、将所述预设光源1发出的光线进行散射，生成若干个具有规则间隔的扇面发散光，根据所述若干个扇面发散光，生成标准参照电子信号3；S122、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则柱状物体6，检测经所述不规则柱状物体6反射的发散光，得到实测电子信号4；S123、根据所述标准参照电子信号3和实测电子信号4，得到对应所述预设光源1的所述不规则柱状物体6的轮廓线2；S13：将相邻预设光源1对应的两个轮廓线2首尾相连得到所述不规则柱状物体6的平面轮廓；S14：将所述若干个呈环形均匀设置的预设光源1竖直向上或向下移动，并重复步骤S12及S13，得到不规则柱状物体6的多个平面轮廓；S15：对相邻两个平面轮廓进行蒙皮处理，得到不规则柱状物体6的三维模型。本专利技术的原理简述如下：不规则柱状物体6距离预设光源1越近则实测电子信号4对应的波峰越少，实测电子信号4与标准参照电子信号3的比值越小，即不规则柱状物体6在该扇面发散光内对应的轮廓线段越短。扇面发散光的数量越多，则检测到的不规则柱状物体6的轮廓越精确，当扇面发散光的数量为无数个时，轮廓线段即为点，将无数点依次连接则得到了不规则柱状物体6的轮廓。由上述描述可知，区别于现有技术采用高精度传感器直接测量不规则柱状物体平面轮廓的检测方法，本专利技术通过对光进行散射得到光散射面，然后根据光散射面内实测轮廓线来确定不规则柱状物体表面上各点位距离预设光源的远近，从而间接求得不规则柱状物体的轮廓，在极大程度上降低了检测成本，而且本专利技术的检测方法是静态的，不会对被检测物体造成损伤，适合推广应用。进一步的，步骤S12中生成标准参照电子信号3具体包括：设置标准参照面5，得到各扇面发散光对应于所述标准参照面5上的线段，检测标准参照面5上扇面发散光对应的线段，得到标准参照电子信号3。进一步的，在步骤S121之后还包括步骤：将得到的标准参照电子信号3均分为N等分，求得每个扇面发散光各自对应的波峰所占的标准等分数，N为大于1的整数。进一步的，在步骤S122之后还包括步骤：将实测电子信号4也均分为N等分，得到每个扇面发散光各自对应的波峰所占的实测等分数。进一步的，步骤S123具体包括：S1231、根据所述标准等分数、实测等分数及所述扇面发散光对应标准参照面5上的线段长度，得到各扇面发散光内平行于标准参照面5的实测轮廓线段；S1232、将相邻两个所述实测轮廓线段首尾相连，得到对应所述预设光源1的不规则柱状物体6轮廓线2。进一步的，实测轮廓线段长度的求解公式为：BC＝DE×(n1÷n0)，其中，BC为实测轮廓线段长度，DE为扇面发散光对应标准参照面5上的线段长度，n1为实测等分数，n0为标准等分数。进一步的，在步骤S14中，将所述若干个呈环形均匀设置的预设光源1竖直向上或向下每移动一预设距离后便重复一次步骤S12及S13。由上述描述可知，所述预设距离可以是定值也可以是变量。进一步的，在步骤S3中除位于所述清洁轨迹线8首端和末端的两个基本单元7的中心点之外，其余的基本单元7的中心点只和与其相邻的两个基本单元7的中心点连接。进一步的，在步骤S4中对不规则柱状物体6进行清洁时，从清洁轨迹线8的首端沿所述清洁轨迹线8一直清洁到清洁轨迹线8的末端。实施例一请参照图1至图5，本专利技术的实施例一为：一种清洁不规则柱状物体表面的方法，包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体6的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元7，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元7的中心点串联，得到清洁轨迹线8；S4：根据所述清洁轨迹线8对不规则柱状物体6进行清洁。进一步的，步骤S1中建立不规则柱状物体6的三维模型具体包括如下步骤：S11：将若干个预设光源1呈环形均匀设置，将所述不规则柱状物体6设置于所述若干个预设光源1所围成的环形的中间；S12：对每个预设光源1依次执行如下步骤：S121、将所述预设光源1发出的光线进行散射，生成若干个具有规则间隔的扇面发散光，根据所述若干个扇面发散光，生成标准参照电子信号3；S122、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种清洁不规则柱状物体表面的方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元的中心点串联，得到清洁轨迹线；S4：根据所述清洁轨迹线对不规则柱状物体进行清洁。

【技术特征摘要】
1.一种清洁不规则柱状物体表面的方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：建立不规则柱状物体的三维模型；S2：以清洁单元的面积为基本单元，在三维模型表面进行排列覆盖；S3：将全部的基本单元的中心点串联，得到清洁轨迹线；S4：根据所述清洁轨迹线对不规则柱状物体进行清洁。2.根据权利要求1所述的清洁不规则柱状物体表面的方法，其特征在于：步骤S1中建立不规则柱状物体的三维模型具体包括如下步骤：S11：将若干个预设光源呈环形均匀设置，将所述不规则柱状物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间；S12：对每个预设光源依次执行如下步骤：S121、将所述预设光源发出的光线进行散射，生成若干个具有规则间隔的扇面发散光，根据所述若干个扇面发散光，生成标准参照电子信号；S122、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则柱状物体，检测经所述不规则柱状物体反射的发散光，得到实测电子信号；S123、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号，得到对应所述预设光源的所述不规则柱状物体的轮廓线；S13：将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则柱状物体的平面轮廓；S14：将所述若干个呈环形均匀设置的预设光源竖直向上或向下移动，并重复步骤S12及S13，得到不规则柱状物体的多个平面轮廓；S15：对相邻两个平面轮廓进行蒙皮处理，得到不规则柱状物体的三维模型。3.根据权利要求2所述的清洁不规则柱状物体表面的方法，其特征在于：步骤S12中生成标准参照电子信号具体包括：设置标准参照面，得到各扇面发散光对应于所述标准参照面上的线段，检测标准参照面上扇面发散光对应的线段，得到标准参照电子信号。4.根据权利要求3所述的清洁不规则柱状物体表面的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘峰，
申请(专利权)人：深圳市汯沐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44