一种对不规则物体轮廓的检测方法技术

技术编号:17559266 阅读:119 留言:0更新日期:2018-03-28 10:27
本发明专利技术公开了一种对不规则物体轮廓的检测方法,包括步骤:S0:将若干个预设光源呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间;S11、将所述预设光源发出的光线进行散射,生成若干个扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号;S13、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号,得到对应所述预设光源的所述不规则物体的轮廓线;S2:将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。本发明专利技术提供了一种新的间接检测不规则物体轮廓的检测方法,在极大程度上降低了检测成本。

A method for detecting the outline of irregular objects

The invention discloses a method for irregular object contour detection method, which comprises the following steps: S0: a number of default light circular uniform set, intermediate the irregular objects arranged in a plurality of default light surrounded by the ring; S11, the default light source of the light sent out scattering, generate a number of fan light, according to the number of fan light, generate standard reference electronic signal; S12, the number of fan light towards the irregular objects, detected by reflecting the irregular objects to light, measured electronic signals; S13, electronic reference signal and the measured electronic signal according to the standard profile of preset corresponding to the light source of the irregular object; S2: two line end to end adjacent the corresponding default light are irregular Then the outline of an object. The invention provides a new detection method for indirect detection of irregular object contour, which greatly reduces the detection cost.

【技术实现步骤摘要】
一种对不规则物体轮廓的检测方法
本专利技术涉及物体轮廓检测,尤其涉及一种对不规则物体轮廓的检测方法。
技术介绍
现有技术中,通常采用测距传感器与软件结合来检测不规则物体平面轮廓,具体来说,测距传感器将检测数据传输给电脑,然后利用电脑的软件将不规则物体的截面模拟出来,最后求得不规则物体平面轮廓线。上述检测方法,需要利用高精度的测距传感器以及复杂的软件,所以该检测方法会致使用户花费较大。因此,有必要提供一种对不规则物体轮廓的检测方法,该检测方法使用成本低,值得推广应用。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种对不规则物体轮廓的检测方法,该检测方法使用成本低,值得推广应用。为了解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为:一种对不规则物体轮廓的检测方法,包括步骤:S0:将若干个预设光源呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间;S1:对每个预设光源依次执行如下步骤:S11、将所述预设光源发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号;S13、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号,得到对应所述预设光源的所述不规则物体的轮廓线;S2:将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。本专利技术的有益效果在于:区别于现有技术采用高精度传感器直接测量不规则物体轮廓的检测方法,本专利技术提供的对不规则物体轮廓的检测方法通过对光进行散射得到光散射面,然后根据光散射面内实测轮廓线来确定不规则物体表面上各点位距离预设光源的远近,从而间接求得不规则物体的轮廓,在极大程度上降低了检测成本,而且本专利技术的检测方法是静态的,不会对被检测物体造成损伤,适合推广应用。附图说明图1为本专利技术实施例一的不规则物体轮廓检测方法的原理图;图2为本专利技术实施例一的不规则物体轮廓检测方法中标准参照电子信号示意图;图3为本专利技术实施例一的不规则物体轮廓检测方法中实测电子信号示意图;图4为本专利技术实施例二的不规则物体轮廓检测方法的原理图;标号说明:1、预设光源;2、轮廓线;3、标准参照电子信号;4、实测电子信号;5、标准参照面。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。本专利技术最关键的构思在于:通过对光进行散射得到光散射面,根据标准参照电子信号和实测电子信号求得光散射面内实测轮廓线以确定不规则物体表面上各点位与预设光源的远近程度,从而求得不规则物体的轮廓。请参照图1至图4,一种对不规则物体轮廓的检测方法,包括步骤:S0:将若干个预设光源1呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源1所围成的环形的中间;S1:对每个预设光源1依次执行如下步骤:S11、将所述预设光源1发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号3;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号4;S13、根据所述标准参照电子信号3和实测电子信号4,得到对应所述预设光源1的所述不规则物体的轮廓线2;S2:将相邻预设光源1对应的两个轮廓线2首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。本专利技术的原理简述如下:待检测物体距离检测单元越近则实测电子信号4对应的波峰越少,实测电子信号4与标准参照电子信号3的比值越小,即不规则物体在该扇面发散光内对应的轮廓线段越短。扇面发散光的数量越多,则检测到的不规则物体的轮廓越精确,当扇面发散光的数量为无数个时,轮廓线段即为点,将无数点依次连接则得到了不规则物体的轮廓。从上述描述可知,本专利技术的有益效果在于:区别于现有技术采用高精度传感器直接测量不规则物体轮廓的检测方法,本专利技术提供的对不规则物体轮廓的检测方法通过对光进行散射得到光散射面,然后根据光散射面内实测轮廓线来确定不规则物体表面上各点位距离预设光源的远近,从而间接求得不规则物体的轮廓,在极大程度上降低了检测成本,而且本专利技术的检测方法是静态的,不会对被检测物体造成损伤,适合推广应用。进一步的,S1中生成标准参照电子信号3具体包括:设置标准参照面5,得到各扇面发散光对应于所述标准参照面5上的线段,检测标准参照面5上扇面发散光对应的线段,得到标准参照电子信号3。进一步的,在步骤S11之后还包括步骤:将得到的标准参照电子信号3均分为N等分,求得每个扇面发散光各自对应的波峰所占的标准等分数,N为大于1的整数。进一步的,在步骤S12之后还包括步骤:将实测电子信号4也均分为N等分,得到每个扇面发散光各自对应的波峰所占的实测等分数。进一步的,步骤S13具体包括:S31、根据所述标准等分数、实测等分数及所述扇面发散光对应标准参照面5上的线段长度,得到各扇面发散光内平行于标准参照面5的实测轮廓线段;S32、将相邻两个所述实测轮廓线段首尾相连,得到对应所述预设光源1的不规则物体轮廓线2。进一步的,S1中生成标准参照电子信号3具体包括:建立二维坐标系,得到各扇面发散光两侧边与X轴的交点,检测X轴上扇面发散光对应的线段,得到标准参照电子信号3。进一步的,在步骤S11之后还包括步骤:将得到的标准参照电子信号3均分为N等分,求得每个扇面发散光各自对应的波峰所占的标准等分数,N为大于1的整数。进一步的,在步骤S12之后还包括步骤:将实测电子信号4也均分为N等分,得到每个扇面发散光各自对应的波峰所占的实测等分数。进一步的,步骤S13具体包括:S31、根据所述标准等分数、实测等分数及所述扇面发散光对应X轴上的长度,得到各扇面发散光内平行于X轴的实测轮廓线段;S32、根据S1得到的扇面发散光两侧边与X轴的交点及S31得到的实测轮廓线段,求得实测轮廓线段远离Y轴的端点坐标;S33、将多个所述端点坐标依次相连得到所述不规则物体的轮廓线2。进一步的,实测轮廓线段长度的求解公式为:BC=DE×(n1÷n0),其中,BC为实测轮廓线段长度,DE为扇面发散光对应X轴上的长度,n1为实测等分数,n0为标准等分数。实施例一请参照图1至图3,本专利技术的实施例一为:一种对不规则物体轮廓的检测方法,包括步骤:S0:将若干个预设光源1呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源1所围成的环形的中间;S1:对每个预设光源1依次执行如下步骤:S11、将所述预设光源1发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号3;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号4;S13、根据所述标准参照电子信号3和实测电子信号4,得到对应所述预设光源1的所述不规则物体的轮廓线2;S2:将相邻预设光源1对应的两个轮廓线2首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。具体的,S1中生成标准参照电子信号3具体包括:设置标准参照面5,得到各扇面发散光对应于所述标准参照面5上的线段,检测标准参照面5上扇面发散光对应的线段,得到标准参照电子信号3。在步骤S11之后还包括步骤:将得到的标准参照电子信号3均分为N等分,求得每个扇面发散光各自本文档来自技高网
...
一种对不规则物体轮廓的检测方法

【技术保护点】
一种对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于,包括步骤:S0:将若干个预设光源呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间;S1:对每个预设光源依次执行如下步骤:S11、将所述预设光源发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号;S13、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号,得到对应所述预设光源的所述不规则物体的轮廓线;S2:将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。

【技术特征摘要】
1.一种对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于,包括步骤:S0:将若干个预设光源呈环形均匀设置,将所述不规则物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间;S1:对每个预设光源依次执行如下步骤:S11、将所述预设光源发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据所述若干个扇面发散光,生成标准参照电子信号;S12、将所述若干个扇面发散光射向所述不规则物体,检测经所述不规则物体反射的发散光,得到实测电子信号;S13、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号,得到对应所述预设光源的所述不规则物体的轮廓线;S2:将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则物体的轮廓。2.根据权利要求1所述的对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于:S1中生成标准参照电子信号具体包括:设置标准参照面,得到各扇面发散光对应于所述标准参照面上的线段,检测标准参照面上扇面发散光对应的线段,得到标准参照电子信号。3.根据权利要求2所述的对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于:在步骤S11之后还包括步骤:将得到的标准参照电子信号均分为N等分,求得每个扇面发散光各自对应的波峰所占的标准等分数,N为大于1的整数。4.根据权利要求3所述的对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于:在步骤S12之后还包括步骤:将实测电子信号也均分为N等分,得到每个扇面发散光各自对应的波峰所占的实测等分数。5.根据权利要求4所述的对不规则物体轮廓的检测方法,其特征在于:步骤S13具体包括:S31、根据所述标准等分数、实测等分数及所述扇面发散光对应标准参...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘峰
申请(专利权)人:深圳市汯沐科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1