一种发光器件测试系统的导电保护结构技术方案

本实用新型专利技术公开了一种发光器件测试系统的导电保护结构，解决了常见发光器件测试系统中容易发生光参数测试装置与载片台异常碰撞的情况，造成光参数测试装置的损伤的问题，其技术方案要点是，包括：控制中心；设于一用于承载被测发光器件的载片台上、与所述控制中心连接的第一导电件；以及，设于一用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数的光参数测试装置上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件导通的第二导电件，所述第一导电件及所述第二导电件接触导通，以触发所述控制中心控制所述载片台停止移动以防止所述光参数测试装置撞伤，达到具有保护光参数测试装置的目的。

A conductive protective structure for a light emitting device test system

The utility model discloses a conductive protection structure of a light emitting device testing system, solves the optical parameter test device and stage of abnormal collision prone to common light emitting devices in the test system, causing light damage parameter test device, the key technical scheme, including: the control center; in a carrying a first conductive member measured light emitting device stage, connected with the control center; and, in a survey was used to collect light emitting surface of optical parameter parameter testing device for conduction of light emitting devices, connected with the control center, the second conductive element and the first conductive parts pass for the first conductive element and the second conductive contact conduction, to trigger the control center of the stage to stop moving in order to prevent the optical parameter testing device Crash, to achieve the purpose of testing device with protective light parameters.

【技术实现步骤摘要】
一种发光器件测试系统的导电保护结构
本技术涉及发光器件检测领域，特别涉及一种发光器件测试系统的导电保护结构。
技术介绍
有一种二极管发光器件，电极面与发光面相对。在发光器件测试系统中，通过导电物体接触电极面的P极和N极，点亮发光器件，对其光参数进行检测。发光器件测试系统中的载片台用于承载被测发光器件，光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数，在光参数测试装置上升至靠近载片台中被测发光器件以进行测试的位置时，由于光参数测试装置只做竖向移动，水平方向不移动，而当载片台在水平方向移动以调节被测发光器件的位置时，容易发生光参数测试装置与载片台异常碰撞的情况，造成光参数测试装置的损伤。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种发光器件测试系统的导电保护结构，具有保护光参数测试装置的优点。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种发光器件测试系统的导电保护结构，包括：控制中心；设于一用于承载被测发光器件的载片台上、与所述控制中心连接的第一导电件；以及，设于一用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数的光参数测试装置上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件导通的第二导电件，所述第一导电件及所述第二导电件接触导通，以触发所述控制中心控制所述载片台停止移动以防止所述光参数测试装置撞伤。通过采用上述技术方案，在载片台在水平方向移动以调节载片台位置的过程中，当载片台在移动过程中在要接触到光参数测试装置时，设置在载片台上的第一导电件与设置在光参数测试装置上的第二导电件接触导通，然后反馈给控制中心，控制中心能及时控制载片台停止移动，防止载片台对光参数测试装置的撞伤，从而具有在光参数测试装置与载片台发生异常接触的情况时，控制器控制载片台停止移动以对光参数测试装置进行保护的优点。本技术的进一步设置，所述第一导电件设有安装结构，所述安装结构一端设有可拆卸连接于所述载片台上的安装板，所述安装结构远离安装板的一端设有用于夹持所述第一导电件的夹持块。通过采用上述技术方案，安装板的设置，便于安装结构的安装和拆卸，从而便于第一导电件的安装和拆卸；夹持块用于夹持第一导电件，而且夹持块设置于安装结构上远离安装板的一端，使得载片台在靠近光参数测试装置的过程中，载片台上的第二导电件与第一导电件会先接触，避免了载片台直接接触到光参数测试装置上，从而进一步对光参数测试装置起到了保护作用。本技术的进一步设置，所述夹持块设有与所述第一导电件卡嵌配合的卡槽。通过采用上述技术方案，卡槽对第一导电件具有限制作用，从而第一导电件与第二导电件接触时不易松动。本技术的进一步设置，所述安装结构在所述载片台上间隔布置。通过采用上述技术方案，使第一导电件的安装较为稳定，便于第一导电件与第二导电件的接触。本技术的进一步设置，所述安装板上设有用于所述安装板安装拆卸的第一锁孔。通过采用上述技术方案，第一锁孔的设置，便于安装板的安装与拆卸，从而便于第一导电件的安装拆卸。本技术的进一步设置，所述夹持块设有用于锁紧所述第一导电件的第二锁孔。通过采用上述技术方案，第二锁孔的设置，可将第一导电件锁紧在夹持块上，进一步增加了第一导电件安装的稳定性。本技术的进一步设置，所述第一导电件及第二导电件均为导电圈。通过采用上述技术方案，导电圈相比其它形式的导电件，更容易相互接触到，从而可以及时导通并反馈给控制器以停止载片台的移动。本技术的进一步设置，所述第一导电件及第二导电件由铜制成。通过采用上述技术方案，铜的导电性较好，从而在第一导电件与第二导电件接触时，能够较为及时地反馈给控制中心。综上所述，本技术具有以下有益效果：在载片台在水平方向移动以调节载片台位置的过程中，当载片台在移动过程中在要接触到光参数测试装置时，设置在载片台上的第一导电件与设置在光参数测试装置上的第二导电件接触导通，然后反馈给控制中心，控制中心能及时控制载片台停止移动，防止载片台对光参数测试装置的撞伤，从而具有在光参数测试装置与载片台发生异常接触的情况时，控制器控制载片台停止移动以对光参数测试装置进行保护的优点。附图说明图1是实施例1中发光器件测试系统的整体结构示意图；图2是实施例1中载片台的结构示意图；图3是实施例1中旋转机构的结构示意图；图4是实施例1中检测组件的结构示意图；图5是实施例1中第二驱动件与第二导轨的连接关系示意图；图6是实施例1中光参数测试装置的结构示意图；图7是实施例1中接触板与积分球的连接关系示意图；图8是实施例1中驱动机构的结构示意图；图9是实施例1中导电保护结构的结构示意图；图10是实施例1中第一导电件的安装结构的结构示意图；图11是实施例2中第二驱动件与第二导轨的另一连接关系示意图。附图标记：1、机座；2、载片台；21、承载台；22、旋转机构；221、电机；222、传动件；23、滑移座；24、第一导轨；25、第一驱动件；26、固定座；27、第二导轨；28、第二驱动件；29、安装座；3、光参数测试装置；31、收光组件；311、积分球；312、积分球安装座；313、积分球夹具；32、驱动机构；321、固定板；322、移动座；323、丝杠；324、驱动电机；325、滑轨；326、滑块；327、延伸板；33、接触板；4、导电保护结构；41、第一导电件；42、第二导电件；43、安装结构；44、安装板；45、夹持块；46、卡槽；47、第一锁孔；48、第二锁孔；5、检测组件；51、光电传感器；52、挡片；6、让位缺口。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。实施例1：一种发光器件测试系统，如图1所示，包括：罩设于一护罩内的机座1；水平滑移连接于机座1上、用于承载被测发光器件的载片台2；设置于机座1上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置3；以及，用于对光参数测试装置3进行保护的导电保护结构4。在发光器件测试系统的测试过程中，光参数测试装置3接近载片台2的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试，当载片台2在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时，导电保护结构4能够有效地对光参数测试装置3进行保护。如图2所示，载片台2包括：用于承载被测发光器件的承载台21；设置于承载台21上、用于驱动承载台21旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构22；设置于承载台21下、用于驱动承载台21纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构；以及，设置于第一传输机构下、用于驱动第一传输机构及承载台21横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。第一传输机构可驱动承载台21纵向移动以靠近或远离测试位置，第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台21横向移动以靠近或远离测试位置，旋转机构22用于驱动承载台21旋转以实现被测发光器件在圆周方向调整位置，发光器件测试系统进行测试时，将被测发光器件置于承载台21上，可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台21向测试位置移动并进行调整至测试位置，然后通过旋转机构22对承载台21的位置进行进一步的调整，使承载台21准确地到达测试位置以使测量数据较为准确；测试完后，通过第一传输机构及第二传输机构将承载台21退出，以便取下被测发光器件；从而载片台2具有在输送和调节过程中较为方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光器件测试系统的导电保护结构，其特征在于，包括：控制中心；设于一用于承载被测发光器件的载片台(2)上、与所述控制中心连接的第一导电件(41)；以及，设于一用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数的光参数测试装置(3)上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件(41)导通的第二导电件(42)，所述第一导电件(41)及所述第二导电件(42)接触导通，以触发所述控制中心控制所述载片台(2)停止移动以防止所述光参数测试装置(3)撞伤。

【技术特征摘要】
1.一种发光器件测试系统的导电保护结构，其特征在于，包括：控制中心；设于一用于承载被测发光器件的载片台(2)上、与所述控制中心连接的第一导电件(41)；以及，设于一用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数的光参数测试装置(3)上、与所述控制中心连接的、用于与所述第一导电件(41)导通的第二导电件(42)，所述第一导电件(41)及所述第二导电件(42)接触导通，以触发所述控制中心控制所述载片台(2)停止移动以防止所述光参数测试装置(3)撞伤。2.根据权利要求1所述的一种发光器件测试系统的导电保护结构，其特征在于，所述第一导电件(41)设有安装结构(43)，所述安装结构(43)一端设有可拆卸连接于所述载片台(2)上的安装板(44)，所述安装结构(43)远离所述安装板(44)的一端设有用于夹持所述第一导电件(41)的夹持块(45)。3.根据权利要求2所述的一种发光器...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨波，刘振辉，韦日文，李景均，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44