机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统技术方案

本发明专利技术提出一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统，该方法包括以下步骤：获取发生保持时间违例的违例寄存器在当前扫描链中的位置；根据违例寄存器在当前扫描链中的位置，向自动测试向量生成工具发送第一至第三控制指令；自动测试向量生成工具根据第一控制指令对违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据第二控制指令对违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据第三控制指令对违例寄存器的输入和输出进行控制。本发明专利技术能够尽可能恢复保持时间违例所引起的测试覆盖率损失，从而有效恢复丢失的测试覆盖率。

Time violation handling method and system on the scanning path in the test of the machine

The invention provides a scanning time violation processing method and system on the path of the testing machine, the method comprises the following steps: obtaining the hold time violations occurred in the current illegal register in the scan chain position; according to the illegal register in the current scan chain in position to automatic test vector generation tool to send the first third control command; automatic test vector generation tool control according to the first control instruction to the illegal register register before the input and output, and control according to the control instruction of second illegal register registers after the input and output, and third control commands to the illegal register input and output according to the control. The invention can restore the test coverage loss caused by the retention time violation as much as possible, thus effectively restoring the lost test coverage.

【技术实现步骤摘要】
机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统
本专利技术涉及机台测试
，特别涉及一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统。
技术介绍
目前在机台测试时，一旦发现扫描链上存在保持时间违例，由于已经无法修改设计电路，常见的处理方法是在测试向量生成过程中需要将整条扫描链从ATPG(AutomaticTestPatternGeneration，自动测试向量生成)中移除，重新生成向量，ATPG工具在处理扫描链时，将不会对链上寄存器进行控制和观测，相应的错误点也将无法检测，因此大幅降低测试覆盖率。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决上述技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，该方法能够尽可能恢复保持时间违例所引起的测试覆盖率损失，从而有效恢复丢失的测试覆盖率。本专利技术的另一个目的在于提出一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理系统。为了实现上述目的，本专利技术第一方面的实施例提出了一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，包括以下步骤：获取发生保持时间违例的违例寄存器在当前扫描链中的位置；根据所述违例寄存器在当前扫描链中的位置，向自动测试向量生成工具发送第一至第三控制指令；所述自动测试向量生成工具根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制。另外，根据本专利技术上述实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法还可以具有如下附加的技术特征：在一些示例中，所述根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制，进一步包括：控制所述违例寄存器之前的寄存器进行正常输入，并忽略输出；控制违例寄存器之后的寄存器进行正常输出，忽略输入；控制所述违例寄存器忽略输入和输出。在一些示例中，所述第一控制指令为：add_cell_constraintsOX；所述第二控制指令为：add_cell_constraintsX；所述第三控制指令为：add_cell_constraintsXX。在一些示例中，所述自动测试向量生成工具为TetraMax。根据本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，通过区分对待扫描链中保持时间违例寄存器前后扫描寄存器部分可控性与可观测性，尽可能恢复保持时间违例所引起的测试覆盖率损失，从而有效恢复丢失的测试覆盖率。为了实现上述目的，本专利技术第二方面的实施例提出了一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理系统，包括：获取模块，所述获取模块用于获取发生保持时间违例的违例寄存器在当前扫描链中的位置；指令发送模块，所述指令发送模块与所述获取模块相连，用于根据所述违例寄存器在当前扫描链中的位置，向自动测试向量生成工具发送第一至第三控制指令；所述自动测试向量生成工具，用于根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制。另外，根据本专利技术上述实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理系统还可以具有如下附加的技术特征：在一些示例中，所述自动测试向量生成工具用于：控制所述违例寄存器之前的寄存器进行正常输入，并忽略输出；控制违例寄存器之后的寄存器进行正常输出，忽略输入；控制所述违例寄存器忽略输入和输出。在一些示例中所述第一控制指令为：add_cell_constraintsOX；所述第二控制指令为：add_cell_constraintsX；所述第三控制指令为：add_cell_constraintsXX。在一些示例中，所述自动测试向量生成工具为TetraMax。根据本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理系统，通过区分对待扫描链中保持时间违例寄存器前后扫描寄存器部分可控性与可观测性，尽可能恢复保持时间违例所引起的测试覆盖率损失，从而有效恢复丢失的测试覆盖率。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法的流程图；以及图2是根据本专利技术一个具体实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法的原理示意图；以及图3是根据本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理系统的结构框图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。以下结合附图描述根据本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统。在描述本专利技术实施例的本专利技术实施例的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法及系统之前，首先对本专利技术实施例涉及到的相关专业词汇及其背景进行简单描述。具体如下：扫描测试技术：扫描测试技术是指通过将集成电路中普通时序寄存器转换成扫描寄存器，并将这些扫描寄存器串接成扫描链从而极大增加电路可测试性的一种测试技术。这种测试技术是利用扫描链将测试激励通过扫描操作输入集成电路来实现测试激励施加，通过时序寄存器的采样来实现测试响应观测，并再次通过扫描链的扫描操作将观测到的测试响应输出到测试输出端口进行测试数据比对分析。这种测试技术的前提是扫描链能够正确传输测试数据(包括测试激励和测试响应)。当扫描链中某个扫描寄存器如果出现保持时间违例，扫描链就无法正常传送测试数据，从而大幅降低测试覆盖率。保持时间：保持时间是指寄存器的时钟信号上升沿到来以后，数据也必须保持一段时间。如果数据无法在规定时间内保持不变，扫描寄存器将会输出错误结果从而导致测试结果出错。扫描链上的扫描寄存器保持时间违例：从上文描述可知，扫描链是用来传输测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，其特征在于，包括以下步骤：获取发生保持时间违例的违例寄存器在当前扫描链中的位置；根据所述违例寄存器在当前扫描链中的位置，向自动测试向量生成工具发送第一至第三控制指令；所述自动测试向量生成工具根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制。

【技术特征摘要】
1.一种机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，其特征在于，包括以下步骤：获取发生保持时间违例的违例寄存器在当前扫描链中的位置；根据所述违例寄存器在当前扫描链中的位置，向自动测试向量生成工具发送第一至第三控制指令；所述自动测试向量生成工具根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制。2.根据权利要求1所述的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，其特征在于，所述根据所述第一控制指令对所述违例寄存器之前的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第二控制指令对所述违例寄存器之后的寄存器的输入和输出进行控制，以及根据所述第三控制指令对所述违例寄存器的输入和输出进行控制，进一步包括：控制所述违例寄存器之前的寄存器进行正常输入，并忽略输出；控制违例寄存器之后的寄存器进行正常输出，忽略输入；控制所述违例寄存器忽略输入和输出。3.据权利要求1或2所述的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法，其特征在于，所述第一控制指令为：add_cell_constraintsOX；所述第二控制指令为：add_cell_constraintsX；所述第三控制指令为：add_cell_constraintsXX。4.根据权利要求1所述的机台测试中扫描路径上的保持时间违例处理方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：荆泉，刘春燕，陆思安，
申请(专利权)人：北京国睿中数科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11