一种检测螺丝漏锁的测试PAD制造技术

本发明专利技术公开了一种检测螺丝漏锁的测试PAD及测试方法，方法为将要检测的螺丝孔周边PAD分区为第一测试PAD和第二测试PAD，并分别赋予高低电平，以螺丝作为开关形成螺丝漏锁的检测电路，用可编程芯片来检测PAD分区间的导通状况。本发明专利技术的一种检测螺丝漏锁的测试PAD和现有技术相比，可以快速判断螺丝漏锁情况，且当螺丝孔有多个时，不仅可以判断是否有螺丝漏锁，并能准确定位几个螺丝漏锁及漏锁螺丝的位置；操作简单、准确率高，大大提高了工作效率。

A test PAD for detecting screw leaks

【技术实现步骤摘要】
一种检测螺丝漏锁的测试PAD
本专利技术涉及板卡PAD设计
，具体地说是一种检测螺丝漏锁的测试PAD。
技术介绍
目前，为了将电子板卡装配到设备的固定支架上，一般会在电子板卡上设计有螺丝锁附孔；装配时，由厂线工人使用电动螺丝刀将电子板卡锁螺丝到固定支架上。然而，由于厂线工人操作存在不稳定性，会出现板卡的螺丝漏锁的现象。现今没有针对板卡上面螺丝是否漏锁的设计，产线组装过程中都是通过组装作业指导书及人工目视检测来确保螺丝没有漏锁，存在一定的失误率，如果产品已经组装完成或到达客户端发现有接触不良等问题，只能通过将产品全部拆卸来检查，以排除问题，耗时耗力。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是针对以上不足之处，提供一种检测螺丝漏锁的测试PAD。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种检测螺丝漏锁的测试PAD，包括第一PAD单元和第二PAD单元，所述的第一PAD单元和第二PAD单元配置在板卡表面，第一PAD单元和第二PAD单元位于螺丝与板卡之间，第一PAD单元和第二PAD单元互不接触。进一步的，优选的结构为：所述的第一PAD单元包括第一测试PAD以及与第一测试PAD相连接的第一线路；所述的第二PAD单元包括第二测试PAD以及与第二测试PAD相连接的第二线路；所述的第一线路与第二线路通过螺丝作为开关相连接，形成螺丝漏锁的检测电路。进一步的，优选的结构为：所述的第一测试PAD和第二测试PAD之间为螺丝孔。进一步的，优选的结构为：所述的第一测试PAD和第二测试PAD的形状为扇面形。本专利技术还包括一种检测螺丝漏锁的方法，方法为，将要检测的螺丝孔周边PAD分区为第一测试PAD和第二测试PAD，并分别赋予高低电平，以螺丝作为开关形成螺丝漏锁的检测电路，用可编程芯片来检测PAD分区间的导通状况。进一步的，优选的方法为：所述的可编程芯片为CPLD或FPGA。进一步的，优选的方法为：所述的螺丝孔为多个时，形成相应数量的检测电路。进一步的，优选的方法为：将多个检测电路之间串联，通过检测可编程芯片的信号输入可以判断是否有螺丝漏锁。进一步的，优选的方法为：将多个检测电路之间并联，通过检测可编程芯片的信号输入可以判断是否有螺丝漏锁，并能准确定位几个螺丝漏锁及漏锁螺丝的位置。本专利技术的一种检测螺丝漏锁的测试PAD和现有技术相比，有益效果如下：1、将螺丝孔周边PAD分区，并分别赋予高低电平，以螺丝作为开关，用CPLD或FPGA等可编程芯片来检测PAD分区间的导通状况，即螺丝锁与未锁的情况；2、当螺丝孔有多个时，可以判断是否有螺丝漏锁，并能准确定位几个螺丝漏锁及漏锁螺丝的位置；3、操作简单、准确率高，大大提高了工作效率。附图说明下面结合附图对本专利技术进一步说明。附图1为一种现有技术的PAD的结构示意图；附图2为一种检测螺丝漏锁的测试PAD结构示意图；附图3为一种检测螺丝漏锁的测试PAD结构安装示意图；附图4为单个检测电路的电路图；附图5为多个检测电路的电路图一；附图6为多个检测电路的电路图二；其中：1、现有技术的PAD；2、第一测试PAD；3、第二测试PAD；4、螺丝孔；5、螺丝；6、板卡；7、固定底板。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明。本专利技术为一种检测螺丝漏锁的测试PAD，板卡6通过螺丝5固定在固定底板7上；现有的PAD1位于螺丝孔4的周边，无检测螺丝漏锁的功能。实施例1：一种检测螺丝漏锁的测试PAD，包括第一PAD单元和第二PAD单元，所述的第一PAD单元和第二PAD单元配置在板卡6表面，第一PAD单元和第二PAD单元位于螺丝5与板卡6之间，第一PAD单元和第二PAD单元互不接触。所述的第一PAD单元包括第一测试PAD2以及与第一测试PAD2相连接的第一线路；所述的第二PAD单元包括第二测试PAD3以及与第二测试PAD3相连接的第二线路；所述的第一线路与第二线路通过螺丝5作为开关相连接，形成螺丝漏锁的检测电路。所述的第一测试PAD2和第二测试PA3之间为螺丝孔。所述的第一测试PAD2和第二测试PAD3的形状为扇面形。如附图4，本专利技术还包括一种检测螺丝漏锁的方法，方法为，将要检测的螺丝孔4周边PAD分区为第一测试PAD2和第二测试PAD3，并分别赋予高低电平，以螺丝5作为开关形成螺丝漏锁的检测电路，用可编程芯片来检测PAD分区间的导通状况。当螺丝5未锁时，开关打开（即PAD2部分和PAD3部分未导通），CPLD的Detect信号输入为高电平；当螺丝5锁紧后，开关闭合（即PAD2部分和PAD3部分导通），CPLD的Detect信号输入为低电平。所以只要检测CPLD的信号输入即可知道螺丝5是否漏锁。所述的可编程芯片为CPLD或FPGA。所述的螺丝孔为多个时，形成相应数量的检测电路。将多个检测电路之间串联，通过检测可编程芯片的信号输入可以判断是否有螺丝漏锁。将所有要检测的螺丝孔PAD串联，当任意一个或几个螺丝未锁时（即任意开关打开），线路2不通，CPLD的Detect信号输入为高电平；当所有螺丝锁紧后，即所有开关闭合，CPLD的Detect信号输入为低电平。所以只要检测CPLD的信号输入即可知道是否有螺丝漏锁。将多个检测电路之间并联，通过检测可编程芯片的信号输入可以判断是否有螺丝漏锁，并能准确定位几个螺丝漏锁及漏锁螺丝的位置。将所有要检测的螺丝孔PAD并联，通过CPLD检测所有Detect信号，信号为高电平的管脚连接的螺丝孔未锁螺丝，信号为低电平的管脚连接的螺丝孔螺丝已锁紧，这种方法可用于检测是否有螺丝漏锁，并能准确定位几个螺丝漏锁及漏锁螺丝的位置。通过上面具体实施方式，所述
的技术人员可容易的实现本专利技术。但是应当理解，本专利技术并不限于上述的几种具体实施方式。在公开的实施方式的基础上，所述
的技术人员可任意组合不同的技术特征，从而实现不同的技术方案。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测螺丝漏锁的测试PAD，其特征在于，包括第一PAD单元和第二PAD单元，所述的第一PAD单元和第二PAD单元配置在板卡表面，第一PAD单元和第二PAD单元位于螺丝与板卡之间，第一PAD单元和第二PAD单元互不接触。

【技术特征摘要】
1.一种检测螺丝漏锁的测试PAD，其特征在于，包括第一PAD单元和第二PAD单元，所述的第一PAD单元和第二PAD单元配置在板卡表面，第一PAD单元和第二PAD单元位于螺丝与板卡之间，第一PAD单元和第二PAD单元互不接触。2.根据权利要求1所述的一种检测螺丝漏锁的测试PAD，其特征在于，所述的第一PAD单元包括第一测试PAD以及与第一测试PAD相连接的第一线路；所述的第二PAD单元包括第二测试PAD以及与第二测试PAD相连接的第二线路；所述的第一线路与第二线路通过螺丝作为开关相连接，形成螺丝漏锁的检测电路。3.根据权利要求2所述的一种检测螺丝漏锁的测试PAD，其特征在于，所述的第一测试PAD和第二测试PAD之间为螺丝孔。4.根据权利要求2所述的一种检测螺丝漏锁的测试PAD，其特征在于，所述的第一测试PAD和第二测试PAD的形状...

【专利技术属性】
技术研发人员：何玉伟，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41