【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】高分辨率3-D谱域光学成像设备和方法
本专利技术涉及光学成像设备和方法,并且具体地,涉及具有全范围和扩展焦深的3D谱域光学相干断层扫描(OCT)设备,其对复数场进行采样。然而,应该理解的是,本专利技术不限于这个特定的使用领域。相关应用本申请要求于2015年5月28日提交的题为‘Highresolution3-Dspectraldomainopticalimagingapparatusandmethod’的澳大利亚临时专利申请号2015901970的优先权,其内容通过引用并入本文。
技术介绍
在整个说明书中对现有技术的任何讨论决不应该被认为是承认这种现有技术是广泛已知的或构成本领域公知常识的一部分。光学相干断层扫描(OCT)是一种广泛使用的干涉测量技术,用于使用包含在反射或散射光的幅度和相位内的信息,研究生物样本,包括诸如人眼等体内组织(具有横向和深度分辨率)。OCT系统通常利用迈克尔逊干涉仪配置,采用两种主要方法:时域OCT和谱域OCT。在时域OCT中,通过将从样本反射的光与由同一光源提供的参考光束(但具有时变路径长度)进行干涉来利用部分相干光源(诸如具有几微米相干长度的超辐射发光二极管(SLED))的相干特性。在对应于参考臂中的路径长度延迟的样本中的特定深度处,在组合的后向反射信号中检测到条纹的干涉包络,从而允许重建深度维度中的反射轮廓。通常,一次只对一个采样点这样做,并且相应的深度扫描被称为“A-扫描”。取代扫描延迟线,谱域OCT技术通过将反射光与参考光束相干涉来分析反射光,作为波长的时变函数(扫描源OCT),或者通过用光栅或其他光谱解复用器来分散不同 ...
【技术保护点】
一种用于视网膜成像的设备,所述设备包括:(i)多波长光源;(ii)角度可变照明系统,用于将从所述光源发射的光的至少两个部分引导到样本眼的视网膜的两个或多个体积中的每一个上;(iii)测量系统,用于接收从所述两个或多个体积中的每个体积反射或散射的光的信号,每个所述信号是反射或散射的光的电场矢量的相位和幅度的函数,并且用于同时在每个所述信号的一定波长范围内进行测量;以及(iv)处理器,用于处理所述测量,以生成所述视网膜的在所述两个或多个体积上的光学特性的一个或多个数字表示,并且从一个或多个所述数字表示产生在包括所述两个或多个体积的至少一部分的所述视网膜的区域上的三维复合图像。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.05.28 AU 20159019701.一种用于视网膜成像的设备,所述设备包括:(i)多波长光源;(ii)角度可变照明系统,用于将从所述光源发射的光的至少两个部分引导到样本眼的视网膜的两个或多个体积中的每一个上;(iii)测量系统,用于接收从所述两个或多个体积中的每个体积反射或散射的光的信号,每个所述信号是反射或散射的光的电场矢量的相位和幅度的函数,并且用于同时在每个所述信号的一定波长范围内进行测量;以及(iv)处理器,用于处理所述测量,以生成所述视网膜的在所述两个或多个体积上的光学特性的一个或多个数字表示,并且从一个或多个所述数字表示产生在包括所述两个或多个体积的至少一部分的所述视网膜的区域上的三维复合图像。2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述处理器适于使用所述样本眼的像差的数字重聚焦或数字校正来产生所述三维复合图像。3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备,其中,所述处理器适于产生在所述两个或多个体积中的每个体积上的所述光学特性的数字表示,并且从所述数字表示产生所述三维复合图像。4.根据权利要求1或权利要求2所述的设备,其中,所述处理器适于产生在所述两个或多个体积上的所述光学特性的数字表示,并且从所述数字表示产生所述三维复合图像。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述照明系统适于顺序将光的所述至少两个部分引导到所述视网膜的所述两个或多个体积上。6.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中,所述照明系统适于同时将光的所述至少两个部分引导到所述视网膜的所述两个或多个体积上。7.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述测量系统包括用于对所述信号进行采样的二维小透镜阵列和用于将采样信号分散到二维传感器阵列上的波长分散元件,其中,所述小透镜阵列的小透镜相对于所述波长分散元件定位,使得在使用中,每个所述采样信号分散到所述传感器阵列的一组像素上。8.根据权利要求7所述的设备,其中,所述二维小透镜阵列被定位成使得在傅立叶平面中对所述信号进行采样。9.根据权利要求7或权利要求8所述的设备,其中,所述二维小透镜阵列包括相对于所述波长分散元件的分散轴成角度的小透镜的直线阵列。10.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述两个或多个体积的相邻体积对部分重叠。11.根据前述权利要求中的任一项所述的设备,其中,所述处理器适于将所述三维复合图像缩小为所述视网膜的高分辨率B扫描。12.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述光学特性选自包括相位、反射率、折射率、折射率变化和衰减的组。13.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述测量系统适于捕获所述信号的至少第一偏振状态和第二偏振状态的相位和幅度信息。14.根据权利要求13所述的设备,其中,所述光学特性包括双折射或偏振度。15.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,对于所述两个或多个体积中的每一个,所述视网膜的照明表面的面积小于或等于500μm×500μm。16.根据权利要求15所述的设备,其中,对于所述两个或多个体积中的每一个,所述视网膜的照明表面的面积小于或等于200μm×200μm。17.一种用于对样本成像的设备,所述设备包括:(i)多波长光源;(ii)照明系统,用于将从所述光源发射的光的至少两个部分引导到样本的两个或多个体积中的每一个上,所述样本位于所述设备的光学功率元件的焦平面处或附近;(iii)测量系统,用于接收从所述两个或多个体积中的每个体积反射或散射的光的信号,每个所述信号是反射或散射的光的电场矢量的相位和幅度的函数,并且用于同时在每个所述信号的一定波长范围内进行测量;以及(iv)处理器,用于处理所述测量,以生成所述样本在所述两个或多个体积上的光学特性的一个或多个数字表示,并且从所述一个或多个数字表示产生在包括所述两个或多个体积的至少一部分的区域上的所述样本的三维复合图像。18.根据权利要求17所述的设备,其中,所述处理器适于使用所述样本的像差的数字重聚焦或数字校正来产生所述三维复合图像。19.根据权利要求17或权利要求18所述的设备,其中,所述处理器适于产生在所述两个或多个体积中的每个体积上的所述光学特性的数字表示,并且从所述数字表示产生所述三维复合图像。20.根据权利要求17或权利要求18所述的设备,其中,所述处理器适于产生在所述两个或多个体积上的所述光学特性的数字表示,并且从所述数字表示产生所述三维复合图像。21.根据权利要求17至20中任一项所述的设备,其中,所述测量系统包括用于对所述信号进行采样的二维小透镜阵列和用于将采样信号分散到二维传感器阵列上的波长分散元件,其中,所述小透镜阵列的小透镜相对于所述波长分散元件定位,使得在使用中,每个所述采样信号分散到所述传感器阵列的一组像素上。22.根据权利要求21所述的设备,其中,所述二维小透镜阵列被定位成使得在傅立叶平面中对所述信号进行采样。23.根据权利要求21或权利要求22所述的设备,其中,所述二维小透镜阵列包括相对于所述波长分散元件的分散轴成角度的小透镜的直线阵列。24.根据权利要求17至23中任一项所述的设备,其中,所述两个或多个体积的相邻体积对部分重叠。25.根据权利要求17至24中任一项所述的设备,其中,所述处理器适于将所述三维复合图像缩小为所述样本的高分辨率B扫描。26.根据权利要求17至25中任一项所述的设备,其中,所述光学特性选自包括相位、反射率、折射率、折射率变化和衰减的组。27.根据权利要求17至26中任一项所述的设备,其中,所述测量系统适于捕获所述信号的至少第一偏振状态和第二偏振状态的相位和幅度信息。28.根据权利要求27所述的设备,其中,所述光学特性包括双折射或偏振度。29.根据权利要求17至28中任一项所述的设备,其中,对于所述两个或多个体积中的每一个,所述样本的照明表面的面积小于或等于500μm×500μm。30.根据权利要求29所述的设备,其中,对于所述两个或多个体积中的每一个,所述样本的照明表面的面积小于或等于200μm×200μm。31.一种相对相敏光学相干断层扫描设备,包括:(i)成像系统,用于以三个空间维度获取样本区域的光学特性的第一图像和第二图像,每个图像包括在一定波长范围内的相位和幅度信息,并且在单次曝光中获取每个图像,所述第二图像在所述第一图像之后的预定时间段被获取;以及(ii)处理器,用于:(a)将所述第一图像与所述第二图像配准,以确定由在任何空间维度中的所述样本的运动或变形引起的空间分辨的相移;并且(b)从所述相移确定与所述运动或所述变形相关联的所述样本的位移的至少一个分量。32.根据权利要求31所述的设备,其中,所述处理器适于从所述相移和所述预定时间段确定与所述运动或所述变形相关联的所述样本的位移速率。33.根据权利要求31所述的设备,其中,所述处理器适于测量与所述样本的所述变形相关联的应变。34.根据权利要求31所述的设备,其中,所述处理器适于对所述样本进行弹性成像测量。35.一种偏振敏感的光学相干断层扫描设备,包括:(i)包括多波长光源的照明系统,用于用至少第一偏振状态的光照射样本的体积;(ii)分光器,用于将所述样本反射或散射的光的一部分引导离开所述光源;(iii)测量系统,用于针对从所述样本反射或散射的光的信号的至少偏振状态第一和第二偏振状态,在一定波长范围内进行第一组同时测量,所述信号是所述反射或散射的光的电场矢量的相位和幅度的函数;以及(iv)处理器,用于处理所述第一组同时测量,以生成所述样本的照射体积的一个或多个偏振特性的三维表示。36.根据权利要求35所述的设备,其中,所述一个或多个偏振特性包括双折射或偏振度。37.根据权利要求35或权利要求36所述的设备,其中,所述照明系统适于随后用与所述第一偏振状态不同的第二偏振状态的光照射所述样本的所述体积,并且所述测量系统适于在一定波长范围内进行第二组同时测量。38.根据权利要求37所述的设备,其中,所述处理器适于处理所述第一组同时测量和所述第二组同时测量,以产生所述样本的照射体积的一个或多个偏振特性的三维表示。39.根据权利要求35至38中任一项所述的设备,其中,所述分光器包括偏振无关分束器。40.根据权利要求35至39中任一项所述的设备,其中,所述分光器包括具...
【专利技术属性】
技术研发人员:史蒂文·詹姆斯·弗里斯肯,特雷弗·布鲁斯·安德森,阿明·乔治·塞格雷夫,格兰特·安德鲁·弗里斯肯,
申请(专利权)人:赛莱特私人有限公司,
类型:发明
国别省市:澳大利亚,AU
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