一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法技术

技术编号:17095518 阅读:31 留言:0更新日期:2018-01-21 06:21
本发明专利技术公开一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法,在利用图像传感器测量光阱中微粒位移时,若图像传感器的轴线与双光束轴向存在失准,会使微粒在图像横向和纵向上的观测位移出现相互耦合,并给位移的精密观测和光阱刚度的被动式标定带来极为不利的影响;在双光束光阱中,由于光学结合作用,给定直径和数量的微球将沿双光束轴向排列成稳定的一维链式结构;通过观测链结构中微球的位移,可以解算出图像传感器横向与双光束轴向之间存在的失准角度,从而矫正微粒在图像中的观测位移,进一步提高位移精密观测和光阱刚度被动式标定的精度。本发明专利技术具有易操作实现、观测便利和干扰因素少等优点,具有良好的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法
本专利技术属于微操控领域,涉及一种在双光束光阱中利用光学结合作用校对图像传感器轴线失准的方法。
技术介绍
在物理学领域,光阱技术的出现为基础理论的新认识和重要物理量的测量提供了新的实验方法和技术,其中涉及的光悬浮、光捕获和光致旋转等实验现象充分体现了光与微粒之间相互作用的力传递过程。光阱中力的测量一般采用间接的方法,即先把待测力转换成容易测量的光力,进而转换成捕获微球相对阱位的偏移;因此,在可实时标定刚度的光阱的简谐区内,对微力的精确测量主要依靠对微球位移的精确测量。目前光阱中测量微球位移的方法主要采用的方法之一是利用图像传感器对光阱平面成像,通过分析微球的图像得到其位移。一般在成像测量的过程中,主要分析垂直于观测方向的二维平面内微球的位移,这种位移通常会被沿两个方向分解,即沿双光束的轴向和与之垂直的径向,在这两个方向上微粒的布朗运动所引起的位移变化一般被认为是独立的。然而由于缺少较为精准的参考依据,传感器所采集图像中的横向和纵向较难分别与光阱中的轴向和径向完全对应,通常会存在一定的失准。这种差异将使得微球在轴向和径向上的实际位移不能与微粒在图像横向和纵向上的观测位移相互对应,且观测位移会出现相互耦合的情况[韩翔,倏逝波光阱中多微粒动力学理论和实验研究[D].国防科技大学博士论文,2016年6月]。若在观测位移方向上微球所感受的光阱刚度相近,这种耦合作用并不会给位移测量带来显著的影响,因此长期处于被忽视的状态。然而在双光束光阱中轴向和径向上的光阱刚度相差较大,这种耦合作用会给位移的精密观测和光阱刚度的被动式标定带来极为不利的影响。通常可根据微球在图像横向和纵向上由布朗运动所致位移波动的相关程度来定性判断失准状态,也可以通过关闭单侧光束并追踪微球的运动轨迹来粗略的动态解算失准参数,此时在微粒轨迹的追踪过程中容易受到复杂的背景光场和周围环境的影响而引入新的误差因素。
技术实现思路
为了克服现有方法的不足,本专利技术提供了一种在双光束光阱中利用光学结合作用校对图像传感器轴线失准的方法,具体技术方案如下:一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法,该方法包括以下步骤:步骤一、在双光束光阱的阱域内,加入N个同样大小的微球,所述微球由于光学结合作用将沿双光束光阱的轴线方向排列成稳定的一维链式结构;步骤二、以所记录图像中的横轴为X轴,纵轴为Y轴,左下顶点像素为原点O,建立直角坐标系XOY;通过图像解析方法,得到链中微球在观测时段内由于布朗运动所导致的位移波动为{xi(t),yi(t)},其中xi(t)代表第i个微球在t时刻的横坐标,yi(t)代表第i个微球在t时刻的纵坐标;分别对解算的位移离散数列{xi,yi}进行平均,确定出各微球的平衡位置{xi0,yi0},采用表达式1)和表达式2)进行计算:其中:n是解算位移的离散数列长度,n≥1000;xi0代表第i个微球平衡位置的横坐标;yi0代表第i个微球平衡位置的纵坐标;xi代表第i个微球的横坐标;yi代表第i个微球的纵坐标;步骤三、借助所选取的两个微球平衡位置的坐标{xp0,yp0}和{xq0,yq0},确定微球链的朝向,进而确定双光束光阱轴线的朝向以及双光束光阱轴线与所采集图像横向X轴的夹角θ,由此准确定量的得到所采集图像横向和纵向与双光束光阱轴向和径向的对应关系,从而实现对图像传感器轴线的定量校准;夹角θ采用表达式3)进行计算:其中:atan是反正切三角函数,θ为图像传感器轴线的失准角,xp0代表所选取的第一个微球平衡位置的横坐标,yp0代表所选取的第一个微球平衡位置的纵坐标,xq0代表所选取的第二个微球平衡位置的横坐标,yq0代表所选取的第二个微球平衡位置的纵坐标。以上技术方案中优选的,所述微球为二氧化硅微球或聚苯乙烯微球。以上技术方案中优选的,所述微球数量N和直径D可根据稳定光学结合作用形成的条件来确定,可参照文献:[TatarkovaSA,CarruthersAE,DholakiaK.One-dimensionalopticallyboundarraysofmicroscopicparticles[J].Physicalreviewletters,2002,89(28):283901;SingerW,FrickM,BernetS,etal.Self-organizedarrayofregularlyspacedmicrobeadsinafiber-opticaltrap[J].JournaloftheOpticalSocietyofAmericaB,2003,20(7):1568-1574.]。以上技术方案中优选的,所述微球数量N和直径D根据双光束光阱的捕获光波长、捕获光束腰间距、束腰半径以及流体介质折射率确定。以上技术方案中优选的,所述微球的个数N为5-10个,且选取的微球直径D应满足表达式4):其中:D是微球直径,λ0是捕获激光在真空中的波长,nm是流体介质的折射率。以上技术方案中优选的,所述步骤三中所选取的两个微球均为处于中间部位的微球。与分析观测位移的相关程度和关闭单侧光束观测微粒轨迹这两种方法相比,本专利技术的优势在于:(1)本专利技术所述方法校准结果的精度只与观测位移的离散数列长度n有关,便于控制;(2)多微球在光学结合作用下形成微球链,微球间的结合力远大于背景光场所导致的光力,特别是结构中心附近的微球,受干扰小,测算依据更为稳定可信;(3)本专利技术具有易操作实现、观测便利和干扰因素少等优点,具有良好的应用前景。附图说明图1是双光束光阱中采用图像法测量微球位移的原理示意图;图2是在捕获激光波长为1064nm的双光束光阱中直径1um的二氧化硅微球在光学结合作用下形成的一维微球链,在所记录的图像中建立了直角坐标系XOY,其中横向X轴与双光束光阱轴向(即链中心附近微球平衡位置的连线)的夹角为θ;图3是通过图像解析方法得到的各微球在X轴上的位移波动示意图(为表述方便,将图2中的九个微球从左往右依次标记为微球①到⑨;图3中自下往上依次是微球①到⑨在X轴上的的位移波动);图4是通过图像解析方法得到的各微球在Y轴上的位移波动示意图(由于各微球的Y轴坐标相近,图4中微球②到⑨的Y轴坐标依次增加了1um以直观展示其波动情况)。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步的说明,但不应因此限制本专利技术的保护范围。实施例1:本实施例提供一种在双光束光阱中利用光学结合作用校准图像传感器轴线的方法。参考图1,在双光束光阱中,借助LED照明光,捕获微粒可以通过显微物镜成像于图像传感器上,并转化为图像信号传输到PC机上记录存储。所记录的图像对应于微粒中心所在平面,在该平面内通常将双光束光轴所在方向称为轴向,将垂直于轴线方向称为径向。通过解析所记录的图像序列,可以得到微球的位移。一般情况下,所记录图像的横向和纵向与双光束的轴向和径向之间存在失准状态。参考图2,在捕获激光波长为1064nm的双光束光阱中,放置九个(即N取9)直径1um的二氧化硅微球(还可以采用聚苯乙烯微球),这些微球在光学结合作用下沿双光束光阱轴向形成一维微球链。由于布朗运动的影响,链中微球的位置存在波动。通过如图1所示的系统记录微球链的图像,以图像的横向(即横轴)和纵向(本文档来自技高网
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一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法

【技术保护点】
一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一、在双光束光阱的阱域内,加入N个同样大小的微球,所述微球由于光学结合作用将沿双光束光阱的轴线方向排列成稳定的一维链式结构;步骤二、以所记录图像中的横轴为X轴,纵轴为Y轴,左下顶点像素为原点O,建立直角坐标系XOY;通过图像解析方法,得到链中微球在观测时段内由于布朗运动所导致的位移波动为{xi(t),yi(t)},其中xi(t)代表第i个微球在t时刻的横坐标,yi(t)代表第i个微球在t时刻的纵坐标;分别对解算的位移离散数列{xi,yi}进行平均,确定出各微球的平衡位置{xi0,yi0},采用表达式1)和表达式2)进行计算:

【技术特征摘要】
1.一种在双光束光阱中校对图像传感器轴线失准的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一、在双光束光阱的阱域内,加入N个同样大小的微球,所述微球由于光学结合作用将沿双光束光阱的轴线方向排列成稳定的一维链式结构;步骤二、以所记录图像中的横轴为X轴,纵轴为Y轴,左下顶点像素为原点O,建立直角坐标系XOY;通过图像解析方法,得到链中微球在观测时段内由于布朗运动所导致的位移波动为{xi(t),yi(t)},其中xi(t)代表第i个微球在t时刻的横坐标,yi(t)代表第i个微球在t时刻的纵坐标;分别对解算的位移离散数列{xi,yi}进行平均,确定出各微球的平衡位置{xi0,yi0},采用表达式1)和表达式2)进行计算:其中:n是解算位移的离散数列长度,n≥1000;xi0代表第i个微球平衡位置的横坐标;yi0代表第i个微球平衡位置的纵坐标;xi代表第i个微球的横坐标;yi代表第i个微球的纵坐标;步骤三、借助所选取的两个微球平衡位置的坐标{xp0,yp0}和{xq0,yq0},确定微球链的朝向,进而确定双光束光阱轴线的朝向以及双光束光阱轴线与所采集图像横向X轴的夹角θ,由此准确定量的得到所采集图像横向和纵向与双光束光阱轴向和径向的对应关系,从而实现对图像传感器轴线的定量校准;夹角θ采用...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩翔肖光宗栾奇骏杨开勇罗晖
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科技大学
类型:发明
国别省市:湖南,43

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