改善LED灯点灯测试效率的治具制造技术

技术编号:17058480 阅读:32 留言:0更新日期:2018-01-17 20:57
本实用新型专利技术涉及一种改善LED灯点灯测试效率的治具,它包括治具主体,该治具主体包括基板、防静电皮和防静电接线扣,该基板横截面呈圆弧形,防静电皮固定铺设于该基板的外周面上,防静电接线扣与防静电皮固定连接。本实用新型专利技术采用弧形测试治具,利用不同圆周则周长不同的原理,LED外表面的周长更长,LED灯破损处裂缝处就会被放大,进而使LED的芯片线路断开,这样整个回路的LED灯将点不亮,或者发光与其它正常LED灯明显不同,从而使得破损的LED灯能被检出来,筛下不良品。使用本实用新型专利技术的弧形测试治具能够简单、快速而有效地检出破损LED灯,检出率和检出效率得到有效提高,提高产品合格率。

To improve the efficiency of LED lamp testing

The utility model relates to a method for improving the testing efficiency of the LED lamp lighting fixture, which comprises a fixture body, the fixture body comprises a substrate, antistatic leather and anti-static wire buckle, the substrate with a cross section of a circular arc shape, antistatic leather is paved on the substrate is fixed on the outer peripheral surface, anti-static buckle is fixedly connected with the wiring antistatic leather. The utility model adopts the arc test fixture, with different circumferential perimeter is different principle, the circumference of the outer surface of LED longer, LED lamp breakage cracks will be enlarged, and the chip LED line is disconnected, so that the whole circuit of the LED lamp will not light, or light with its normal LED lamps were significantly different. So that the LED lamp can be detected damaged, defective screen. The arc test fixture with the utility model can detect the damaged LED lights simply, quickly and effectively, and the detection rate and detection efficiency are effectively improved, and the qualified rate of products is improved.

【技术实现步骤摘要】
改善LED灯点灯测试效率的治具
本技术涉及一种灯条检测治具,特别是指一种改善LED灯点灯测试效率的治具。
技术介绍
背光产品灯条的LED灯存在死灯现象,死灯原因有静电击穿和破损(碎)两种原因,静电击穿可以通电测试检出。LED灯属于易碎品,背光制作过程中SMT、冲切、贴胶、测试等环节,对LED灯有挤压作用,均有可能造成LED灯破损。而破损则大部分检不出来的,究其原因,就是外形破损,线路依然连着,电性能正常,能正常发光,为此,采用常规的平板结构的测试治具进行检测,仍有很多破损处不能有效检出,需要缠绕试验才能检出。但如果每片产品都做缠绕试验,则工作量太大,严重影响交货,而且产品会留下品质隐患。
技术实现思路
本技术提供一种改善LED灯点灯测试效率的治具,以克服现有的LED灯条检测治具存在的检出率低、缠绕试验检测方式效率低且影响产品质量的问题。本技术采用如下技术方案:改善LED灯点灯测试效率的治具,包括治具主体,该治具主体包括基板、防静电皮和防静电接线扣。该基板为铝基板,该基板横截面呈圆弧形。防静电皮固定铺设于该基板的外周面上,防静电接线扣与防静电皮固定连接。上述基板横截面的弧度为2.0~1.2πrad。上述防静电皮外周面设有高温双面胶带,高温双面胶带沿防静电皮外周面高度方向和周向延伸。上述防静电接线扣设于防静电皮的边角处。由上述对本技术结构的描述可知,和现有技术相比,本技术具有如下优点:本技术采用弧形测试治具,利用不同圆周则周长不同的原理,LED外表面的周长更长,LED灯破损处裂缝处就会被放大,进而使LED的芯片线路断开,这样整个回路的LED灯将点不亮,或者发光与其它正常LED灯明显不同,从而使得破损的LED灯能被检出来,筛下不良品。使用本技术的弧形测试治具能够简单、快速而有效地检出破损LED灯,检出率和检出效率得到有效提高,提高产品合格率。附图说明图1为本技术的弧形测试治具的立体结构示意图。具体实施方式下面参照附图说明本技术的具体实施方式。参照图1,改善LED灯点灯测试效率的治具,包括治具主体1,该治具主体1包括基板11、防静电皮12和防静电接线扣13。该基板11为铝基板11,基板11主要起到支撑作用。该基板11横截面呈圆弧形,基板11横截面的弧度为2.0~1.2πrad,优选的弧度为2.5rad和1.1πrad。防静电皮12固定铺设于该基板11的外周面上,防静电皮12外周面设有高温双面胶带14,高温双面胶带14沿防静电皮12外周面高度方向和周向延伸,高温胶带用于固定产品的一端,确保产品能沿着治具的弧度紧贴,从而使得异常品能被检出。防静电接线扣13与防静电皮12固定连接,防静电接线扣13优选设于防静电皮12的边角处。防静电皮12和防静电接线扣13用于静电防护,确保产品在测试工序不被人体或治具上的静电击伤。继续参照图1,使用时,将LED灯条沿治具主体1的外周面贴合,然后将LED灯条接入检测电路,观察所有LED灯的亮起状态而判断LED灯的破损情况。本技术采用弧形测试治具,利用不同圆周则周长不同的原理,LED外表面的周长更长,LED灯破损处裂缝处就会被放大,进而使LED的芯片线路断开,这样整个回路的LED灯将点不亮,或者发光与其它正常LED灯明显不同,从而使得破损的LED灯能被检出来,筛下不良品。使用本技术的弧形测试治具能够简单、快速而有效地检出破损LED灯,检出率和检出效率得到有效提高,提高产品合格率。上述仅为本技术的具体实施方式,但本技术的设计构思并不局限于此,凡利用此构思对本技术进行非实质性的改动,均应属于侵犯本技术保护范围的行为。本文档来自技高网...
改善LED灯点灯测试效率的治具

【技术保护点】
改善LED灯点灯测试效率的治具,包括治具主体,其特征在于:所述治具主体包括基板、防静电皮和防静电接线扣,该基板横截面呈圆弧形,防静电皮固定铺设于该基板的外周面上,防静电接线扣与防静电皮固定连接。

【技术特征摘要】
1.改善LED灯点灯测试效率的治具,包括治具主体,其特征在于:所述治具主体包括基板、防静电皮和防静电接线扣,该基板横截面呈圆弧形,防静电皮固定铺设于该基板的外周面上,防静电接线扣与防静电皮固定连接。2.如权利要求1所述的改善LED灯点灯测试效率的治具,其特征在于:所述基板横截面的弧...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘开发黎忠良郭进王玉杰
申请(专利权)人:厦门鑫联信智能系统集成有限公司
类型:新型
国别省市:福建,35

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