本发明专利技术公开了一种自动耦合测焦距机,包括工作台、移动轴、耦合轴、阵列物料盘、高度测量笔、Z轴组件、接收传输部件、上治具、控制按键和工作控制机,所述移动轴、控制按键和Z轴组件均安装在工作台上并且工作控制机位于工作台的一侧。操作员只需进行上料和下料,该装置就可以自动输出TO光器件产品焦距和功率,可根据不同的产品设置不同规格要求即显示OK或NG,代替了现有的多台设备或人工手动操作进行焦距的测量筛选,工作速度快,工作稳定性好;该装置可以提供准确的测量焦距数据,大幅度提高了工作效率,降低了设备的投资成本,该装置可以进行一对一的数据记录,提高匹配产品的成功率。
【技术实现步骤摘要】
一种自动耦合测焦距机
本专利技术涉及光通讯器件领域,具体是一种自动耦合测焦距机。
技术介绍
光器件分为有源器件和无源器件,光有源器件是光通信系统中需要外加能源驱动工作的可以将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的光电子器件,是光传输系统的心脏。光无源器件是不需要外加能源驱动工作的光电子器件。目前光器件类TO产品的生产过程并未能准确的提供其光束焦距,而只能给出参考的焦距范围。主要是TO透镜的镀膜层未能达到高度一致的程度,导致聚焦距离有一定的差距,特别对于高速率、小体积的TO更加不好控制,加上在器件组件tosa,rosa封装过程中出现不同的物理偏差,使得生产效率大大较低,成本持续升高。对于单一工位来说要经过2分钟左右的耦合、计算才能判断该产品是否满足生产条件,结果OK则可以进行下一工艺制作,NG则重新更换TO再耦合计算。计算方式有的比较粗糙,存在较大的误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种自动耦合测焦距机,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种自动耦合测焦距机,包括工作台、移动轴、耦合轴、阵列物料盘、高度测量笔、Z轴组件、接收传输部件、上治具、控制按键和工作控制机,所述移动轴、控制按键和Z轴组件均安装在工作台上并且工作控制机位于工作台的一侧,耦合轴安装在移动轴的上方并且耦合轴的上端面与阵列物料盘的下端面相接触,上治具的一端固定在Z轴组件上并且上治具的另一端延伸至阵列物料盘的上方,高度测量笔垂直安装在上治具上并且高度测量笔位于阵列物料盘的上方,上治具的上部安装有接收传输部件并且接收传输部件与工作控制机电连接。作为本专利技术进一步的方案:工作台上还设置有鼠标。作为本专利技术进一步的方案:工作台底部的四角均设置有支撑脚。作为本专利技术进一步的方案:工作台和Z轴组件均采用不锈钢材料制作。作为本专利技术进一步的方案:控制按键通过控制支撑板安装在工作台上。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:该装置设计合理,结构简单,操作员只需进行上料和下料,该装置就可以自动输出TO光器件产品焦距和功率,可根据不同的产品设置不同规格要求即显示OK或NG,代替了现有的多台设备或人工手动操作进行焦距的测量筛选,工作速度快,工作稳定性好;该装置可以提供准确的测量焦距数据,大幅度提高了工作效率,降低了设备的投资成本,该装置可以进行一对一的数据记录,提高匹配产品的成功率。附图说明图1为自动耦合测焦距机的立体图。图2为自动耦合测焦距机的侧视图。其中:1-工作台,2-移动轴,3-耦合轴,4-阵列物料盘,5-高度测量笔,6-Z轴组件,7-接收传输部件,8-上治具,9-控制按键,10-鼠标。具体实施方式下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。请参阅图1-2,一种自动耦合测焦距机,包括工作台1、移动轴2、耦合轴3、阵列物料盘4、高度测量笔5、Z轴组件6、接收传输部件7、上治具8、控制按键9和工作控制机,所述移动轴2、控制按键9和Z轴组件6均安装在工作台1上并且工作控制机位于工作台1的一侧,耦合轴3安装在移动轴2的上方并且耦合轴3的上端面与阵列物料盘4的下端面相接触,上治具8的一端固定在Z轴组件6上并且上治具8的另一端延伸至阵列物料盘4的上方,高度测量笔5垂直安装在上治具8上并且高度测量笔5位于阵列物料盘4的上方,上治具8的上部安装有接收传输部件7并且接收传输部件7与工作控制机电连接。工作台1上还设置有鼠标10。工作台1底部的四角均设置有支撑脚。工作台1和Z轴组件6均采用不锈钢材料制作。控制按键9通过控制支撑板安装在工作台1上。本专利技术的工作原理是:工作台1用于承载各个部件,工作台1的底部安装有支撑脚可以增加工作台1的平稳性。移动轴2主要进行产品阵列物料盘4的移动和上下料位置的移动。阵列物料盘4的装载需要移动轴2长距离移动,方便人员操作,避免碰撞到Z轴组件6或上治具8,避免造成测量焦距的偏差,阵列物料盘4上有20个产品工位,工位与工位间的移动也是由移动轴2来完成的。耦合轴3和Z轴组件6是负责对各工位进行耦合,分别将阵列物料盘4上的产品依次峰值耦合或定值耦合,提取对应数据保存。阵列物料盘4可提供20个产品的装载,并由工作控制机的控制系统通过PLC对需要耦合测焦距的产品进行供电,可备置多个阵列物料盘4做上下料流转用。高度测量笔5则在耦合前对产品的基础高度进行测量并存至工作控制机,产品耦合后计算出对应的焦距参数,并保存至对应产品的data数据表中。接收传输部件7是产品功率的接收传输,连接工作控制机,控制系统根据产品功率的变化来决定耦合轴3和Z轴组件6的耦合动作。上治具8是耦合产品上物料件的装载体。控制按键9和鼠标10是生产操作时的重要途径,方便人们的操作。本专利技术只需操作员进行上下料,耦合系统会将产品自动耦合到峰值,并保存到对应产品的峰值data数据中,以进行对应区分,测量系统自动测出产品在峰值时的对应焦距,并对应保存到data数据中,阵列系统是给耦合测量提供多工位的产品,并依次移动到耦合区域,以进行多工位连续耦合测量,并提供多组阵列工装,以方便上下料的时间不影响耦合测量的时间。该设备会自动输出TO光器件产品焦距和功率,可根据不同的产品设置不同规格要求即显示OK或NG,操作员只需将产品区分放置即可交由下一工序,简单快捷。对于本领域技术人员而言,显然本专利技术不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本专利技术的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本专利技术。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本专利技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本专利技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动耦合测焦距机,其特征在于,包括工作台、移动轴、耦合轴、阵列物料盘、高度测量笔、Z轴组件、接收传输部件、上治具、控制按键和工作控制机,所述移动轴、控制按键和Z轴组件均安装在工作台上并且工作控制机位于工作台的一侧,耦合轴安装在移动轴的上方并且耦合轴的上端面与阵列物料盘的下端面相接触,上治具的一端固定在Z轴组件上并且上治具的另一端延伸至阵列物料盘的上方,高度测量笔垂直安装在上治具上并且高度测量笔位于阵列物料盘的上方,上治具的上部安装有接收传输部件并且接收传输部件与工作控制机电连接。
【技术特征摘要】
1.一种自动耦合测焦距机,其特征在于,包括工作台、移动轴、耦合轴、阵列物料盘、高度测量笔、Z轴组件、接收传输部件、上治具、控制按键和工作控制机,所述移动轴、控制按键和Z轴组件均安装在工作台上并且工作控制机位于工作台的一侧,耦合轴安装在移动轴的上方并且耦合轴的上端面与阵列物料盘的下端面相接触,上治具的一端固定在Z轴组件上并且上治具的另一端延伸至阵列物料盘的上方,高度测量笔垂直安装在上治具上并且高度测量笔位于阵列物料盘的上方,...
【专利技术属性】
技术研发人员:潘静周,
申请(专利权)人:潘静周,
类型:发明
国别省市:广西,45
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