照度测量装置以及照度测量结构制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种照度测量装置以及照度测量结构，照度测量装置包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。本实用新型专利技术的照度测量装置以及照度测量结构可代替暗室实现光照度测试，满足对微弱光的光照度测试，提高测试的准确性，节省成本且应用方式灵活，对室外已经完成安装的待测物同样适用。

【技术实现步骤摘要】
照度测量装置以及照度测量结构
本技术涉及发光量检测领域，更具体地涉及一种照度测量装置以及照度测量结构。
技术介绍
照度计是用来检测发光量的设备，图1和图2示出现有的照度计120对待测物900进行发光量检测的立体示意图和截面图，其中待测物900具有一定的发光量。检测时，照度计120的探头121与待测物900的表面之间会存在一定的间隙。在进行微弱光的光照度测试时，由于待测物发光量本身较小，如果图中箭头所示的环境光通过上述间隙进入探头121与待测物所发的光进行掺杂，将会影响到测试的准确性，因此此类测量通常是在暗室中进行，对暗室的设计和测量的操作都有很高的要求。然而，对于已经安装好的待测物，尤其是安装在室外环境中的待测物，要在暗室中进行测量往往是很难实现的。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种照度测量装置以及照度测量结构，用于代替暗室实现对微弱光的光照度测试。根据本技术的一方面，提供一种照度测量装置，包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。优选地，所述遮光板的通孔的尺寸小于所述照度计的一端的尺寸，并且所述通孔的内壁具有弹性。优选地，所述遮光板面向待测物的一面设有吸光层。优选地，还包括吸附结构，用于将所述遮光板与待测物吸附。优选地，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面边缘的吸附条。优选地，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面的多个磁体。优选地，所述多个磁体位于所述遮光板面向所述待测物的一面的边缘。优选地，所述多个磁体在所述遮光板面向所述待测物的一面对称分布。优选地，所述多个磁体至少部分嵌入所述遮光板内。优选地，所述照度计的一端为探头，所述通孔的形状与所述探头的形状相匹配。优选地，所述遮光板面向待测物的一面平坦。优选地，所述通孔位于所述遮光板的中心。根据本技术的另一方面，提供一种照度测量结构，包括：待测物；以及上述任一项的照度测量装置，所述照度测量装置的遮光板与所述待测物表面平行，所述测量装置的照度计测量所述待测物的发光量。优选地，所述遮光板与所述待测物表面接触。优选地，所述遮光板与所述待测物表面之间具有间隙。根据本技术的照度测量装置以及照度测量结构，照度测量装置的遮光板设有通孔，照度计的一端安装在所述通孔中，即遮光板通过通孔套设于照度计的一端，当照度测量装置对待测物进行发光量检测时，遮光板在探头周围可以阻挡相应部分的外界干扰光，避免无遮光板时干扰光直接或通过待测物表面反射进入探头中。遮光板与待测物表面相接触时，遮光板边缘部分的外界干扰光同样难以透过遮光板进入探头，即使遮光板与待测物表面之间存在间隙，遮光板边缘部分的外界干扰光进入该间隙后经过在遮光板与待测物表面之间多次反射，也极大地减弱了进入探头的干扰光的光量。本技术的照度测量装置及照度测量结构可代替暗室实现光照度测试，满足对微弱光的光照度测试，提高测试的准确性，节省成本且应用方式灵活，对室外已经完成安装的待测物同样适用。在优选的实施例中，通孔的尺寸小于照度计的一端的尺寸，并且通孔的内壁具有弹性，因而通孔的内壁与照度计接触紧密，一方面使照度测量装置遮光板与照度计之间连接更稳定，另一方面可以避免干扰光通过通孔内壁与照度计之间的间隙进入探头形成干扰。在优选的实施例中，照度测量装置的遮光板面向待测物的一面设有吸光层。当遮光板与待测物表面之间存在间隙时，遮光板边缘部分的干扰光进入该间隙后经过在遮光板与待测物表面之间多次反射，同时吸光层对该部分干扰光进一步吸收，从而减弱甚至消除到达探头的干扰光的光量。在优选的实施例中，所述照度测量装置还包括吸附结构，用于将遮光板与待测物吸附，一方面使得照度测量装置遮光板与待测物表面之间间隙减小甚至消除，另一方面也方便对非水平的待测物表面进行检测。附图说明通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。图1示出现有技术的照度计探头对待测物检测的立体图；图2示出现有技术的照度计探头对待测物检测的截面图；图3示出根据本技术第一实施例的照度测量装置的立体图；图4示出根据本技术第一实施例的照度测量装置的立体分解图；图5a示出本技术一个实施例的照度测量结构的立体图；图5b示出本技术一个实施例的照度测量结构的截面图；图6a示出本技术另一个实施例的照度测量结构的立体图；图6b示出本技术另一个实施例的照度测量结构的截面图；图7示出根据本技术第二实施例的照度测量装置的立体图；图8示出根据本技术第二实施例的照度测量装置的立体分解图；图9示出根据本技术第三实施例的照度测量装置的立体图；图10示出根据本技术第三实施例的照度测量装置的立体分解图。具体实施方式以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。在下文中描述了本技术的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本技术。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本技术。应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。图3和图4示出根据本技术第一实施例的照度测量装置的立体图和立体分解图。该照度测量装置包括遮光板210以及与遮光板210相连接的照度计220。其中，遮光板210设有通孔211，照度计220的一端安装在该通孔211中，即遮光板210通过通孔211套设于照度计220的一端。照度计220例如是筒式照度计，其一端为探头221，并且该探头221形状呈圆柱状。通孔211的形状可以与探头221的形状相匹配，例如本实施例中通孔211为与探头221相匹配的圆形孔。该照度测量装置在检测中将探头321安装在通孔311中。可以理解的是，照度计220可以是其它种类，探头221也可以是其他形状，相应地通孔211的形状也可以随之变化。本技术还提供一种照度测量结构，图5a和图5b分别示出本技术一个实施例的照度测量结构的立体图和截面图，本实施例的照度测量结构包括待测物900以及上述第一实施例的照度测量装置，其中照度测量装置的遮光板210与待测物表面900平行，照度测量装置的照度计220测量待测物900的发光量。在本实施例中，遮光板210与待测物900表面之间具有间隙。该照度测量装置对待测物900进行发光量检测时，外界照射在遮光板210上表面的第一部分干扰光C1被遮光板210遮挡，从而避免在无遮光板210时第一部分干扰光C1直接或通过待测物900表面反射进入探头221中。如图5b，即使遮光板210与待测物900表面之间存在间隙，遮光板210边缘部分的第二部分干扰光C2进入该间隙后经过在遮光板210与待测物900表面之间多次反射，极大地减弱了进入探头900的干扰光的光量。因此，本技术的照度测量装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种照度测量装置，其特征在于，包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。

【技术特征摘要】
1.一种照度测量装置，其特征在于，包括遮光板以及照度计，其中，所述遮光板设有通孔，所述遮光板通过所述通孔套设于所述照度计的一端。2.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述遮光板的通孔的尺寸小于所述照度计的一端的尺寸，并且所述通孔的内壁具有弹性。3.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，所述遮光板面向待测物的一面设有吸光层。4.根据权利要求1所述的照度测量装置，其特征在于，还包括吸附结构，用于将所述遮光板与待测物吸附。5.根据权利要求4所述的照度测量装置，其特征在于，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面边缘的吸附条。6.根据权利要求4所述的照度测量装置，其特征在于，所述吸附结构为设置在所述遮光板面向所述待测物的一面的多个磁体。7.根据权利要求6所述的照度测量装置，其特征在于，所述多个磁体位于所述遮光板面向所述待测物的一面的边缘。8.根据权利要求6所述的照度测量装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍宏，
申请(专利权)人：杭州视芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33