辅助测量装置及测量设备制造方法及图纸

技术编号:16946524 阅读:30 留言:0更新日期:2018-01-03 23:13
本实用新型专利技术提供一种辅助测量装置及测量设备,所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。本实用新型专利技术所述的辅助测量装置及测量设备避免了人工测量产生的误差,提升了产品精确度与质量,且因为是自动运行,可节约大量的时间,减少了人工成本。

【技术实现步骤摘要】
辅助测量装置及测量设备
本技术属于产品校验
,特别是涉及一种辅助测量装置及测量设备。
技术介绍
工业生产中对一些有要求的产品尺寸需要测出产品的实际数值,与标准数值做对比后,再进行人工的调整;目前人工将待测产品放在校验平台上,使用高度尺、卡尺、螺旋测微仪等工具进行手动测量,此时测出的数值准确度基于量具的精度和测量者的水平,这两者因人而异,差距较大,他别是测量一些要求精度较高的产品时,需要耗费大量的人力,物力,每次测出的数值还不尽相同,人为去查看测量数值往往会产生一些误判,导致不合格件流入市场,轻则影响产品质量,损害品牌声誉,重则产生安全事故,导致严重的人身伤害等。因此,如何提供一种辅助测量装置及测量设备,以解决现有技术中由于是通过手动测量待测产品尺寸,而导致出现测量结果精确度不高,且还需要耗费大量人力,物力等种种缺陷,实已成为本领域从业者亟待解决的技术问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本技术的目的在于提供一种辅助测量装置及测量设备,用于解决现有技术中由于是通过手动测量待测产品尺寸,而导致出现测量结果精确度不高,且还需要耗费大量人力,物力的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本技术一方面提供一种辅助测量装置,所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。于本技术的一实施例中,所述位移传感器通过固定件安装于所述底座的一侧面;所述位移传感器包括一位于其顶端,可与所述滑动机构压缩式接触的接触头,和与所述接触头连接,用于读取所述接触头的压缩位移的读取器。于本技术的一实施例中,所述滑动机构包括:用于为所述待测产品提供搁置平台的耐磨板;通过连接件与所述耐磨板连接,用于支撑所述耐磨板,及搁置于所述耐磨板上的待测产品的T型块;固定至所述T型块,用于按压所述接触头的按压台。于本技术的一实施例中,所述按压台包括:位于所述接触头正上方,且与所述接触头接触的压板;通过所述连接件将所述压板固定至所述T型块上的第一连接板和第二连接板;所述压板,第一连接板,第二连接板形成凹型的按压台。于本技术的一实施例中,所述T型块与所述按压台形成环形空间,该环形空间中设置有所述滑动机构所包括的滑动部;所述滑动部包括:设置于所述T型块上,用以引导所述T型块和所述按压台一起朝所述基准面移动的直线型导轨;和设置在所述直线型导轨上,与所述T型块固定连接的滑块。于本技术的一实施例中,所述底座的底端设置为工型台;所述工型台的顶端,与所述第一连接板和第二连接板相对应的位置处设置有凸耳;所述凸耳上开设有支撑孔。于本技术的一实施例中,所述辅助测量装置还包括安装于所述支撑孔内,用于顶持所述第一连接板和第二连接板的弹性部件。于本技术的一实施例中,所述辅助测量装置还包括设置于所述底座上,用于调节所述滑动机构的上限位的行程调节块。本技术另一方面提供一种测量设备,所述测量设备包括:抓取伺服装置,用于抓取待测产品;设置于一基准面上,所述的辅助测量装置,用于在所述抓取伺服装置按压所述待测产品至下限位时,测量自身相对于所述基准面的移动位移;及计算终端,与所述辅助测量装置电连接,用于根据所述辅助测量装置所测量的其相对于基准面的移动位移,计算所述待测产品的尺寸,并判定该待测产品是否合格。如上所述,本技术的辅助测量装置及测量设备,具有以下有益效果:本技术所述的辅助测量装置及测量设备以自动测量替代人工对待测产品进行测量,避免了人工测量产生的误差,提高了检测节拍,整体提升了产品精确度与质量。且因为是自动运行,可以节约大量的时间,减少了人工成本。附图说明图1显示为本技术的辅助测量装置的立体结构示意图。图2显示为本技术的辅助测量装置的侧视图。图3显示为本技术的测量设备的原理结构示意图。图4显示为本技术的待测产品的尺寸计算示意图。元件标号说明1辅助测试装置11底座12位移传感器13滑动机构14行程调节块15弹性部件111凸耳112第一支撑孔121接触头122读取器131耐磨板132T型块133按压台134滑动部133A压板133B第一连接板133C第二连接板2测量设备21支架22抓取伺服装置211移动导轨3测量平台4待测产品具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效。请参阅图1至图3。须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本技术可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本技术可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更
技术实现思路
下,当亦视为本技术可实施的范畴。实施例一本实施例提供一种辅助测量装置,所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。以下结合图示对本实施例所提供的辅助测量装置进行详细描述。本实施例所述的辅助测量装置与用于抓取待测产品,并将待测产品移动至检测位置的抓取伺服装置配合,通过所述抓取伺服装置的按压,以测量所述辅助测量装置相对于放置其的基准面的压缩位移。在本实施例中,所述抓取伺服装置架设在测量平台上的支架上,该支架的顶部设置有用于引导所述抓取伺服装置从来料位置移动至检测位置的移动导轨;所述辅助测量装置放置在所述测量平台上,并将所述测量平台的平面设置为基准面。在本实施例中,微波炉为待测产品。所述抓取伺服装置将微波炉从来料位置移动至检测位置,并在微波炉的四个脚下端设置所述辅助测量装置。请参阅图1和图2,分别显示为辅助测量装置的立体结构示意图和侧视图。如图1和图2所示,所述辅助测试装置1包括底座11、位移传感器12、滑动机构13、行程调节块14和弹性部件15。所述底座11为所述辅助测量装置的基准,并设置于作为基准面的测量平台上。所述位移传感器12、滑动机构13、行程调节块14都设置于所述底座11上。所述底座的底部设置有用于固定在所述测量平台的安装孔(未予图示)。所述底座11设置为工型台。所述工型台的顶端,与所述滑动机构12相对应的位置处设置有凸耳111。所述凸耳111上开设有第一支撑孔112。在本实施例中,所述位移传感器12采用直线位移传感器,该直线位移传感器的功能在于把直线机械位移量转换成电信号。为了达到这一效果,通常将可变电阻滑轨定置在传感器的固定部位,通过滑片在滑轨上的位移来测量不同的阻值。传感器滑轨连接稳态直流电压,允许流过微安培的小电流,滑片和始端之间的电压,与滑片移动的长度成正比。将传感器用作分压器可最大限度降低对滑轨总阻值精确性的要求,因为由温度变化引起的阻值变化不会影响到测量本文档来自技高网
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辅助测量装置及测量设备

【技术保护点】
一种辅助测量装置,其特征在于,用于测量待测产品的尺寸;所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。

【技术特征摘要】
1.一种辅助测量装置,其特征在于,用于测量待测产品的尺寸;所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。2.根据权利要求1所述的辅助测量装置,其特征在于:所述位移传感器通过固定件安装于所述底座的一侧面;所述位移传感器包括一位于其顶端,可与所述滑动机构压缩式接触的接触头,和与所述接触头连接,用于读取所述接触头的压缩位移的读取器。3.根据权利要求2所述的辅助测量装置,其特征在于:所述滑动机构包括:用于提供搁置平台的耐磨板;通过连接件与所述耐磨板连接,用于支撑所述耐磨板,及搁置于所述耐磨板上的待测产品的T型块;固定至所述T型块,用于按压所述接触头的按压台。4.根据权利要求3所述的辅助测量装置,其特征在于:所述按压台包括:位于所述接触头正上方,且与所述接触头接触的压板;通过所述连接件将所述压板固定至所述T型块上的第一连接板和第二连接板;所述压板,第一连接板,第二连接板形成凹型的按压台。5.根据权利要求4所述的辅助测量装置,其特征在于:所述T型块与所述按压台形成环形空间,该环形空间...

【专利技术属性】
技术研发人员:薛正东
申请(专利权)人:上海福赛特机器人有限公司
类型:新型
国别省市:上海,31

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