触控检测芯片、触控面板及触控检测方法技术

一种触控检测芯片、触控面板及触控检测方法。该触控检测方法包括：检测多个触控单元的信号量；根据多个触控单元的信号量，确定候选触控单元；以及根据候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从候选触控单元中确定目标触控单元。该触控检测方法可以有效改善触控面板中由于短路引起的“鬼手”问题，提高产品良率。

Touch control detection chip, touch panel and touch control method

A touch control detection chip, a touch control panel and a touch control detection method are provided. Including the touch detection method: to detect the signal quantity of a plurality of touch units; according to the signals of a plurality of touch control unit, touch control unit to determine a candidate; and according to the signal of adjacent touch unit candidate touch control unit, determine the target from the candidate unit in touch touch control unit. The touch detection method can effectively improve the touch panel due to a short circuit caused by the \ghost\ problem, improve product yield.

【技术实现步骤摘要】
触控检测芯片、触控面板及触控检测方法
本公开实施例涉及一种触控检测芯片、触控面板及触控检测方法
技术介绍
触控显示装置的触控面板可以是单层自电容结构。单层自电容触控面板只有一层ITO(IndiumTinOxides，铟锡金属氧化物)，每个ITO触控单元单独通过一条触控电极线与触控检测芯片连接，因此可以对每个ITO触控单元进行独立检测，从而可以实现单点触控和多点触控。
技术实现思路
本公开至少一实施例提供一种触控检测方法，包括：检测多个触控单元的信号量；根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元；以及根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测方法中，所述检测多个触控单元的信号量包括：向所述多个触控单元分别发送脉冲检测信号，并检测所述触控单元的电容值的变化量，所述多个触控单元中的信号量包括所述多个触控单元的电容值的变化量。例如，在本公开一实施例提供的触控检测方法中，所述根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元包括：判断所述多个触控单元的信号量是否大于第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测方法中，所述根据所述多个触控单元中的信号量，确定候选触控单元包括：将所述多个触控单元划分为多个触控检测组；对每一个所述触控检测组中的触控单元上的信号量作求和运算，以获取所述多个触控检测组的信号量之和；从所述多个触控检测组中确定候选触控检测组，所述候选触控检测组为信号量之和大于所述第一预设阈值的触控检测组；判断所述候选触控检测组中的每一个触控单元的信号量是否大于所述第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测方法中，所述将所述多个触控单元划分为多个触控检测组包括：将所述多个触控单元按照行或按照列划分为多个触控检测组。例如，在本公开一实施例提供的触控检测方法中，所述根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元包括：判断所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量是否大于第二预设阈值；如果所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量大于第二预设阈值，确定所述候选触控单元为所述目标触控单元。例如，本公开一实施例提供的触控检测方法还包括：根据所述目标触控单元，确定单点触控或多点触控的位置。本公开至少一实施例还提供一种触控检测芯片，包括处理器和存储器，所述存储器存储有可执行指令，所述可执行指令被所述处理器执行时进行如下操作：检测多个触控单元的信号量；根据所述多个触控单元中的信号量，确定候选触控单元；以及根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述检测多个触控单元的信号量包括如下操作：向所述多个触控单元分别发送脉冲检测信号，并检测所述触控单元的电容值的变化量，其中，所述多个触控单元中的信号量包括所述多个触控单元的电容值的变化量。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元包括如下操作：判断所述多个触控单元的信号量是否大于第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元包括如下操作：将所述多个触控单元划分为多个触控检测组；对每一个所述触控检测组中的触控单元上的信号量作求和运算，以获取所述多个触控检测组的信号量之和；从所述多个触控检测组中确定候选触控检测组，所述候选触控检测组为信号量之和大于所述第一预设阈值的触控检测组；判断所述候选触控检测组中的每一个触控单元的信号量是否大于所述第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述将所述多个触控单元划分为多个触控检测组包括如下操作：将所述多个触控单元按照行或按照列划分为多个触控检测组。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元包括如下操作：判断所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量是否大于第二预设阈值；如果所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量大于第二预设阈值，确定所述候选触控单元为所述目标触控单元。例如，在本公开一实施例提供的触控检测芯片中，所述可执行指令被所述处理器执行时还进行如下操作：根据所述目标触控单元，确定单点触控或多点触控的位置。本公开至少一实施例还提供一种触控面板，包括本公开任一实施例所述的触控检测芯片，多个触控单元以及多条触控电极线，所述多条触控电极线分别和所述多个触控单元电连接。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。图1为一示例性的显示面板由于短路引起的“鬼手”现象示意图；图2为一示例性的触控单元的信号量为有效信号量的示意图；图3为在图1中所示的触控单元C2处发生触控操作时的信号量分布示意图；图4为在图1中所示的触控单元A2处发生触控操作时的信号量分布示意图；图5为本公开实施例中的一个示例提供的一种触控检测方法的示意图；图6为本公开实施例中的另一个示例提供的一种触控检测方法的示意图；图7为本公开实施例中的一个示例提供的一种触控检测方法的流程示意图；图8为本公开实施例提供的一种触控检测芯片的示意图；以及图9为本公开实施例提供的一种触控面板的示意图。具体实施方式为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。目前，常见的电容式触控屏可分为自电容触控屏和互电容触控屏两种类型，自电容触控屏又分为双层ITO(IndiumTinOxides，铟锡金属氧化物)触控屏和单层ITO触控屏。例如，如图1所示的一种触控面板，该触控面板采用单层ITO结构。如图1所示，多个触控单元200呈阵列排布，每一个触本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控检测方法，包括：检测多个触控单元的信号量；根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元；以及根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元。

【技术特征摘要】
1.一种触控检测方法，包括：检测多个触控单元的信号量；根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元；以及根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元。2.根据权利要求1所述的触控检测方法，其中，所述检测多个触控单元的信号量包括：向所述多个触控单元分别发送脉冲检测信号，并检测所述触控单元的电容值的变化量，其中，所述多个触控单元中的信号量包括所述多个触控单元的电容值的变化量。3.根据权利要求1所述的触控检测方法，其中，所述根据所述多个触控单元的信号量，确定候选触控单元包括：判断所述多个触控单元的信号量是否大于第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。4.根据权利要求1所述的触控检测方法，其中，所述根据所述多个触控单元中的信号量，确定候选触控单元包括：将所述多个触控单元划分为多个触控检测组；对每一个所述触控检测组中的触控单元上的信号量作求和运算，以获取所述多个触控检测组的信号量之和；从所述多个触控检测组中确定候选触控检测组，所述候选触控检测组为信号量之和大于所述第一预设阈值的触控检测组；判断所述候选触控检测组中的每一个触控单元的信号量是否大于所述第一预设阈值，并将信号量大于所述第一预设阈值的触控单元确定为所述候选触控单元。5.根据权利要求4所述的触控检测方法，其中，所述将所述多个触控单元划分为多个触控检测组包括：将所述多个触控单元按照行或按照列划分为多个触控检测组。6.根据权利要求1所述的触控检测方法，其中，所述根据所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量，从所述候选触控单元中确定目标触控单元包括：判断所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量是否大于第二预设阈值；如果所述候选触控单元的相邻触控单元的信号量大于第二预设阈值，确定所述候选触控单元为所述目标触控单元。7.根据权利要求1-6任一所述的触控检测方法，还包括：根据所述目标触控单元，确定单点触控或多点触控的位置。8.一种触控检测芯片，包括处理器和存储器，所述存储器存储有可执行指令，所述可执行指令被所述处理器执行时进行如下操作：检测多个触控单元的信号量；根据所述多个触控单元中的信...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐帅，张郑欣，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11