The present invention provides a method for matching a graphic, including: the establishment of graphics library, input the original graphics matching; original graphics matching the similarity check; if the matching of the original graphics and graphics library graphics by similarity checking, the exact pattern matching the original graphics to be matched to the. In the invention, it can transform the old global exact graphics matching into the local pattern exact matching, and does not affect the final result of matching. The similarity judgement of the graph is automatically realized by the computer, which greatly improves the efficiency of graph matching.
【技术实现步骤摘要】
图形匹配方法
本专利技术涉及光刻
,尤其涉及一种图形匹配方法。
技术介绍
随着集成电路生产工艺进入亚波长技术节点,由于设计变得更加复杂,使用分辨率增强技术修复光刻工艺热点变得更加困难。为了解决这个问题,设计者在产品流片前必须对版图设计中的光刻工艺热点进行检测。因此,光刻工艺热点检查成为可制造性设计中的一项重要技术。然而半导体技术节点的不断深入,流片中产生的光刻工艺热点的数量变得越来越庞大,检查速度变得越来越慢。在大量的版图数据中快速的定位出光刻缺陷图形对产品的快速导入市场有重大的实际意义。图1所示为现有的传统的图形匹配技术流程。流程包括:首先对先前的Tapeout中认定为缺陷热点图形结构建立热点图形库;输入需要在集成电路版图设计原始版图设计数据,接着对原始区域划分,把这些划分好的区域交由不同的处理器同时启动图形匹配引擎;把原始版图设计图形中能匹配上缺陷图形库的图形区域作为结果输出;整个图形匹配的过程为全局过程,浪费大量时间在于启动搜索引擎去匹配那些明显不相似的热点图形区域。现有的图形库匹配技术为全局式的版图热点匹配,匹配数据量大,时间很长。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种图形匹配方法,解决现有技术中图形匹配数据量大、耗时长的技术问题。为了实现上述目的,本专利技术一种图形匹配方法,包括:建立图形库,输入待匹配的原始图形;对所述待匹配的原始图形进行相似度检查;若所述待匹配的原始图形与图形库图形通过相似度检查,对所述待匹配的原始图形进行精确图形匹配。可选的,对所述待匹配的原始图形进行相似度检查的步骤包括:分别对所述图形库图形与待匹配的原始图形进行 ...
【技术保护点】
一种图形匹配方法,其特征在于,包括:建立图形库,输入待匹配的原始图形;对所述待匹配的原始图形进行相似度检查;若所述待匹配的原始图形与图形库图形通过相似度检查,对所述待匹配的原始图形进行精确图形匹配。
【技术特征摘要】
1.一种图形匹配方法,其特征在于,包括:建立图形库,输入待匹配的原始图形;对所述待匹配的原始图形进行相似度检查;若所述待匹配的原始图形与图形库图形通过相似度检查,对所述待匹配的原始图形进行精确图形匹配。2.如权利要求1所述的图形匹配方法,其特征在于,对所述待匹配的原始图形进行相似度检查的步骤包括:分别对所述图形库图形与待匹配的原始图形进行二进制编码,产生对应的编码方阵;比较所述图形库图形的编码方阵与所述待匹配图形的编码方阵,筛选出所述图形库图形与所述待匹配图形相似的区域。3.如权利要求2所述的图形匹配方法,其特征在于,对所述图形库图形与待匹配的原始图形进行二级制编码的步骤包括:格点化图形,计算格点内图形的密度;若格点密度大于0,则二进制编码设为1,否则设为0,所有格点的二进制编码值组成对应的编码方阵;将所述待匹配的原始图形格点化编码方阵定义为AMN,将所述图形库图形定义为BIJ。4.如权利要求3所述的图形匹配方法,其特征在于,所述待匹配的原始图形与所述所述图形库图形的格点尺寸相同。5.如权利要求4所述的图形匹配方法,其特征在于,所述格点的尺寸为0~2微米。6.如权利要求3所述的图形匹配方法,其特征在于,比较所述图形库图形的编码方阵与所述待匹配图形的编码方阵的步骤包括:...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱忠华,王伟斌,魏芳,
申请(专利权)人:上海华力微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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