单键开关寿命测试机制造技术

本申请公开了一种单键开关寿命测试机，包括：机架内设有电机以及与电机相连的转轴，转轴上连接有至少两个直线往复机构，转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板，测头安装板上设置有一个安装孔，安装孔内安装一根测试头，测试头与测试孔螺纹连接，测试头正对测试工位，测试台上设有供直线往复机构直线移动的第一导向孔；机架上还设有计数器以及与计数器相连的行程开关。本发明专利技术提供的单键开关寿命测试机，通过电机驱动相应的升降机构，带动与升降机构相连的按压机构按压放置在测试工位处的待测开关的按键。本发明专利技术采用机械式的驱动方式，结构简单，按压力度稳定，噪音低、能耗低。

Single key switch life test machine

The invention discloses a single switch life testing machine, including a motor frame and a rotating shaft connected with the motor, the rotating shaft is connected with at least two linear reciprocating mechanism is connected with the probe mounting plate by the connecting linear reciprocating mechanism, a probe installation board is provided with a mounting hole, a test head is mounted in the mounting hole, the test head and the test hole threaded connection, the test head is the test station, a test bench is provided with a first guide hole for reciprocating linear movement of the mechanism; the frame is provided with a counter and a travel switch is connected with the counter. The single key switch life testing machine provided by the invention drives the corresponding lifting mechanism through the motor to drive the pressing mechanism connected with the lifting mechanism to press the key to be tested at the test station. The invention adopts the mechanical driving mode, the structure is simple, the press strength is stable, the noise is low, and the energy consumption is low.

【技术实现步骤摘要】
单键开关寿命测试机
本公开一般涉及按键寿命测试技术设备领域，特别涉及一种单键开关寿命测试机。
技术介绍
随着工业技术的不断发展，自动化生产替代人工，是当今社会的发展趋势，也是中国未来工业发展不可缺少的关键一环；智能生活是人们生活质量提高必不可少的一部分，开关更是随处可见，而按键的可按压次数从一方面表征了开关寿命的长短。单键开关在家庭中应用极其广泛，若被检的某一单键开关的任一按键可按压次数达不到要求，则同批次的开关或者应用该开关的产品很有可能也会存在这种问题，从而使用寿命方面存在缺陷。现有的开关按键寿命测试技术，一般采用电磁铁、气动驱动方式，电磁铁由于自身寿命不高，较少被采用；气动方式有结构简单和灵活的特点，但是噪声和功耗较大，且按压力度受气源控制不稳定，使用不方便。为此，亟需提供一种按压稳定、噪声和功耗低的单键开关寿命测试机。
技术实现思路
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种单键开关寿命测试机。本专利技术提供了一种单键开关寿命测试机，包括：机架和设置在所述机架上的测试台，所述测试台的表面设有用于放置待测开关的测试工位；所述机架内设有电机以及与所述电机相连的转轴，所述转轴上连接有至少两个直线往复机构，所述转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板，所述测头安装板上设置有一个安装孔，所述安装孔内安装一根测试头，所述测试头与所述测试孔螺纹连接，所述测试头正对所述测试工位，所述测试台上设有供所述直线往复机构直线移动的第一导向孔；所述机架上还设有计数器以及与所述计数器相连的行程开关。本专利技术提供的单键开关寿命测试机，电机连接转轴，与转轴相连的直线往复机构连接测头安装板。通过电机驱动转轴转动，转轴带动直线往复机构在竖直方向上进行直线移动，进而带动测头安装板在竖直方向上进行升降运动，测头安装板上的测试头在测试工位处按压待测开关的按键。本专利技术采用机械式的驱动方式，结构简单，按压力度稳定，噪音低、能耗低。附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1为本专利技术实施例提供的单键开关寿命测试机的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的单键开关寿命测试机的截面视图；图3为本专利技术实施例提供的单键开关寿命测试机中导向筒的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的单键开关寿命测试机中导向筒沿轴线的截面示意图；图5为本专利技术实施例提供的单键开关寿命测试机中导向机构的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。如图1和图2所示，本专利技术提供了一种单键开关寿命测试机，包括：机架1和设置在机架1上的测试台2，测试台2的表面设有用于放置待测开关的测试工位3；机架内设有电机4以及与电机相连的转轴5，转轴5上连接有至少两个直线往复机构，转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板6，测头安装板6上设置有一个安装孔，安装孔内安装有一根测试头7，测试头7与测试孔螺纹连接，测试头7正对测试工位3，测试台2上设有供直线往复机构直线移动的第一导向孔；机架上还设有计数器8以及与计数器相连的行程开关9。可选的，转轴5的两端分别连接有直线往复机构，转轴通过两直线往复机构连接测头安装板；转轴与电机之间通过链轮链条传动连接。本专利技术提供的单键开关寿命测试机，机架内的电机驱动转轴，转轴带动其上的直线往复机构沿第一导向孔在竖直方向上升降，进而与直线往复机构相连的测头安装板进行上下升降，测头安装板上的测试头对单键开关的按键进行按压测试。优选的，安装孔为螺纹孔，测试头为螺纹柱状件，测试头与测头安装板上的安装孔螺纹连接，方便测试头按压待测开关的过程中，可根据待测开关的厚度，调节测试头的高度。作为一种可选的实施方式，直线往复机构包括曲柄连杆机构，其包括设置在转轴上的曲柄10、与曲柄相连的第一连杆11以及与第一连杆11相连的第二连杆12，第二连杆通过第一导向孔沿竖直方向上下升降。在本专利技术的实施例中，电机与转轴之间通过链轮链条连接，转轴的两端均连接有曲柄连杆机构，转轴两端所连接的曲柄连杆机构的第二连杆一同连接并支撑测头安装板，曲柄连杆机构的第二连杆的运动路径限制在测试台上设置的第一导向孔内，通过转轴的转动时带动与其相连的曲柄连杆机构的第二连杆沿竖直方向升降往复。进一步地，与转轴相连的曲柄连杆机构之一的第一连杆表面设有第一凸伸部13，第一凸伸部凸伸于行程开关的上方，第一凸伸部与行程开关的触头可接触或分离。当第一凸伸部与触头相接触一次，计数器计数一次。作为一种可选的实施方式，直线往复机构还可以优选为凸轮机构，其包括设置在转轴上的凸轮以及与凸轮相配合的从动杆件；从动杆件通过第一导向孔沿竖直方向上下升降。进一步地，与转轴相连的凸轮机构之一的从动杆件的表面设有第二凸伸部，第二凸伸部凸伸于行程开关的上方，第二凸伸部与行程开关的触头可接触或分离。进一步地，测试头7为橡胶测试头。在校准测试头的高度位置的过程中，测试头易触碰到待测开关，使用橡胶测试头，避免刚性材质的测试头对待测开关的触碰力度较大的问题。进一步地，结合图3至图5，单键开关寿命测试机还包括导向机构，导向机构包括：设置在测试台上的立柱14以及设置在测头安装板上的正对立柱的第二导向孔；第二导向孔内设有与立柱间隙配合的上大下小的凸台式导向筒15，导向筒包括设有第一通孔的上筒体151和与上筒体相连的设有第二通孔的下筒体152；第一通孔和第二通孔同心且直径相同，即导向筒中心开设有通孔153；上筒体151的高度小于下筒体152的高度，便于导向筒与测头安装板之间的连接。进一步地，上筒体151为方形筒体或圆形筒体，下筒体152为圆形筒体；在导向筒的轴中心截面上，上筒体151的宽度大于下筒体152的宽度，即上筒体为大尺寸端，下筒体为小尺寸端；上筒体151位于第二导向孔上方，下筒体位于第二导向孔内且伸出于下筒体下方。进一步地，下筒体152与上筒体151为一体成型结构，使得导向筒成型便利，减少零部件的数量，且增强整个结构的强度。本专利技术中，测头安装板连接曲柄连杆机构的第二连杆，曲柄连杆机构的曲柄连接转轴；或者，测头安装板连接凸轮机构的从动杆件，从动杆件与凸轮配合，凸轮设置在转轴上。为了保证测头安装板在竖直方向上升降往复过程中的稳定性，设置导向机构，测试台上的立柱与安装在测头安装板上第二导向孔内的导向筒间隙配合，以确保测头安装板在与其相连的直线往复机构的作用下沿竖直方向往复运动，进而带动安装在测头安装板上的测试头沿竖直方向升降往复。本专利技术中，机架内至少设有平行的两支架，两支架上分别安装有相同、平行且正对的轴承座16，每个轴承座上设有一个轴承，通过两支架以及两轴承座支撑转轴。进一步地，电机为可调速减速电机。具体为，机架上设有调速器17，机架内设有与电机轴连接的减速器18，调速器17与电机4相连，调节电机的转速，减速器18与转轴之间通过链轮链条连接。如图2所示，转轴5与电机4之间通过链轮链条传动，具体包括：转轴7上设有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单键开关寿命测试机，其特征在于，包括：机架和设置在所述机架上的测试台，所述测试台的表面设有用于放置待测开关的测试工位；所述机架内设有电机以及与所述电机相连的转轴，所述转轴上连接有至少两个直线往复机构，所述转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板，所述测头安装板上设置有一个安装孔，所述安装孔内安装一根测试头，所述测试头与所述测试孔螺纹连接，所述测试头正对所述测试工位，所述测试台上设有供所述直线往复机构直线移动的第一导向孔；所述机架上还设有计数器以及与所述计数器相连的行程开关。

【技术特征摘要】
1.一种单键开关寿命测试机，其特征在于，包括：机架和设置在所述机架上的测试台，所述测试台的表面设有用于放置待测开关的测试工位；所述机架内设有电机以及与所述电机相连的转轴，所述转轴上连接有至少两个直线往复机构，所述转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板，所述测头安装板上设置有一个安装孔，所述安装孔内安装一根测试头，所述测试头与所述测试孔螺纹连接，所述测试头正对所述测试工位，所述测试台上设有供所述直线往复机构直线移动的第一导向孔；所述机架上还设有计数器以及与所述计数器相连的行程开关。2.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机，其特征在于，所述直线往复机构包括曲柄连杆机构，其包括设置在转轴上的曲柄、与所述曲柄相连的第一连杆以及与所述第一连杆相连的第二连杆；所述第二连杆通过所述第一导向孔沿竖直方向上下升降。3.根据权利要求2所述的单键开关寿命测试机，其特征在于，与所述转轴相连的曲柄连杆机构之一的第一连杆表面设有第一凸伸部，所述第一凸伸部凸伸于所述行程开关的上方，所述第一凸伸部与所述行程开关的触头可接触或分离。4.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机，其特征在于，所述直线往复机构包括凸轮机构，其包括设置在转轴上的凸轮以及与所述凸轮相配合的从动杆件；所述从动杆件通...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴义，王大庆，
申请(专利权)人：江苏博悦物联网技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32