本实用新型专利技术涉及一种太阳能硅片的外观检测装置,包含抓取部件、旋转部件、检测部件、驱动系统和控制系统,其中检测部件包含拍照部件一和拍照部件二,所述拍照部件一设于所述吸盘的下方,所述拍照部件一的位置适配所述吸盘的转动轨迹,所述拍照部件一用于拍摄硅片的底面,所述拍照部件二用于拍摄所述硅片的顶面。采用本装置能够通过所述吸盘对所述硅片只需一次取放及旋转即可实现对所述硅片正、反面的拍摄,以便对所述硅片进行外观尺寸及瑕疵的检测,无需将所述硅片进行翻面,简化抓取机构的结构,操作过程短,效率高,检测方便,减少机械损耗,避免硅片产品额外损失,提高外观质量,降低成本。
【技术实现步骤摘要】
一种太阳能硅片的外观检测装置
本技术涉及太阳能硅片检测
,特别是一种太阳能硅片的外观检测装置。
技术介绍
太阳能板的主要构成部件为太阳能硅片,太阳能硅片的光电转换功能效率不断提升,在民用、国防、航空、航天等诸方面都有极为重要的应用,已成为清净能源中不可或缺的成员之一,业界对太阳能硅片需求殷切,而太阳能硅片的外观品质会直接影响到后续的太阳能电池片的制作和转换效率等,同时太阳能硅片很轻薄,在自动化制造与检测过程中,稍有不慎,即可能造成破损、缺角甚至肉眼无法观察的微细裂缝,降低生产效率,增加生产成本,因此为提升太阳能硅片的质量,需要对太阳能硅片进行检测分级。在对硅片进行外形尺寸、外观缺陷等检测时,需要分别拍摄硅片的上下表面,现有技术在拍照时,常采用先拍摄硅片的一面,然后将硅片进行翻面后再拍摄另一面,该过程时间较长,效率低下,容易造成硅片破损,增加次品率。
技术实现思路
本技术的专利技术目的在于克服现有技术在对硅片进行外观检测的过程时间长效率低,机械损耗大,容易造成硅片破损等上述不足,提供一种太阳能硅片的外观检测装置,缩短机械行程,提高工作效率,减少机械损耗,提高外观质量。为了实现上述目的,本技术采用的技术方案为:一种太阳能硅片的外观检测装置,包括:抓取部件,包含至少一个吸盘,所有所述吸盘位于同一平面;旋转部件,所有所述吸盘均连接于所述旋转部件上,所述旋转部件带动所有所述吸盘同向运动;检测部件,包含拍照部件一和拍照部件二,所述拍照部件一设于所述吸盘的下方,所述拍照部件一的位置适配所述吸盘的转动轨迹,所述拍照部件一用于拍摄硅片的底面,所述拍照部件二用于拍摄所述硅片的顶面;驱动系统,驱动所述抓取部件、旋转部件和检测部件;控制系统,控制所述驱动系统。采用本技术的一种太阳能硅片的外观检测装置,由所述控制系统控制所述驱动系统带动所述旋转部件转动,所有所述吸盘位于同一平面,且均连接于所述旋转部件上,所述吸盘连接有负压源,当所述旋转部件带动所述吸盘转动至硅片上方时,所述硅片位于所述吸盘的吸附范围,所述吸盘形成负压在原位吸取所述硅片,然后所述控制系统控制所述驱动系统带动所述旋转部件,使所述吸盘转动至下一工位,当所述控制系统关闭负压时,所述吸盘放下所述硅片实现下料,当所述吸盘吸附所述硅片的顶面,此时采用设于所述吸盘下方的所述拍照部件一对所述硅片的底面进行拍摄以便检测,当所述吸盘未吸附所述硅片时,即在所述硅片吸取之前或放下之后,采用所述拍照部件二对所述硅片的顶面进行拍摄以便检测,采用本装置能够通过所述吸盘对所述硅片只需一次取放及旋转即可实现对所述硅片正、反面的拍摄,采用检测部件发现在初期肉眼无法观察,但在后道工序中很容易导致碎片的裂纹缺陷,以便提高所述硅片进行外观尺寸及瑕疵检测的精确性,同时无需将所述硅片进行翻面即可检测,简化抓取机构的结构,操作过程短,效率高,检测方便,减少机械损耗,减少对硅片的接触次数,避免对外观造成损伤,提高外观质量,降低成本,配置有多个所述吸盘时,每次转动均可对一张硅片进行抓取、放置及拍摄的动作,进一步提高工作效率,减少机械损耗。优选的,还包含显示部件。优选的,还包含上料装置和下料装置,所述上料装置和下料装置的位置适配所述吸盘的转动轨迹,以使每个所述吸盘旋转到所述上料装置和下料装置工位上方时分别实现上料和下料。所有所述吸盘位于同一平面内,且一直绕固定圆周旋转,所述吸盘旋转至所述上料装置处抓取所述硅片,待旋转至下料装置处放下所述硅片,所述上料装置和下料装置布置于所述吸盘的转动轨迹上,适配所述吸盘的高度以及转动的角度,以使每个所述吸盘旋转到所述上料装置和下料装置工位上方时分别实现上料和下料,采用多个所述吸盘时能够同时实现上料和下料操作,提高机械效率,便于机械控制。进一步优选的,所述上料装置包含顶升部件和吹气部件。由于所述吸盘的高度固定,而硅片极易破碎,待吸取的硅片与所述吸盘之间达到一定距离时所述吸盘的负压才能将所述硅片吸起,所述控制系统控制所述顶升部件将所述硅片顶升至适配所述吸盘吸取的位置,保障抓取环节持续不间断,提高工作效率,避免当所述吸盘到达上料位置时无法吸取所述硅片;由于硅片较轻较薄,采用所述吹气部件将待吸取的所述硅片吹散分离,便于所述吸盘吸取,避免一次吸取两张以上的所述硅片。进一步优选的,所述上料装置还包含光电传感器。所述光电传感器用于感应所述硅片距离所述吸盘所在平面的距离,也能用于感应所述吸盘上是否有所述硅片,所述控制系统根据所述光电传感器控制所述顶升部件顶升所述硅片至适配位置,并确认是否吸取硅片,保证抓取工作顺利进行。进一步优选的,所述拍照部件一位于所述上料装置和下料装置之间,所述下料装置为传输带,所述传输带的高度适配所述吸盘。在所述上料装置和下料装置之间,所述硅片被所述吸盘吸附,便于所述拍照部件一拍摄所述硅片的底面。进一步优选的,所述拍照部件二位于所述传输带的正上方。当所述吸盘将所述硅片放置于所述传输带上,所述拍照部件二能够对所述硅片的顶面进行拍摄。优选的,所述旋转部件包含一个分气组件,所述分气组件包含导气管和套筒,所述导气管为中空结构,所述套筒设有内孔,所述导气管的下端与所述内孔相连通,所述导气管的上端设有一个开口一,所述套筒的下端设有至少两个开口二,每个所述开口二均连通所述内孔,每个所述开口二连接有气管一,所述气管一连通所述吸盘。所述驱动系统连接所述套筒,带动所述套筒旋转,所述导气管的上端设有一个开口一,所述套筒的下端设有至少两个开口二,每个所述开口二连接有气管一,每个所述气管一用于连通一个吸盘,每个所述开口二均连通所述内孔,使得每个所述气管一与所述开口一相连通,所述开口一连接负压源,所述气管一通过所述导气管与套筒配合实现分气,所述套筒在带动所述吸盘旋转过程中,所述气管一与套筒同步旋转,每个气管一之间相对于所述套筒的位置固定,避免气管一在一直同向旋转的过程中出现缠绕,保障一直沿同向旋转的所述吸盘能够持续产生负压,有利于提高工作效率,不间断的旋转至不同工位进行取放,避免机械故障,结构简单,加工方便。进一步优选的,所述开口一通过旋转接头连接气管二。即所述旋转接头一端连接所述导气管、另一端连接气管二,工作时,所述旋转接头连接气管二的一端保持不动、连接所述导气管的一端随所述导气管一起转动,避免所述气管二因旋转导致扭转,影响负压形成。进一步优选的,所述套筒连接有转盘,所有所述吸盘连接于所述转盘,所有所述吸盘沿所述转盘的圆周均匀分布,所述吸盘每次转动的角度相同。采用上述方式,即所述吸盘旋转至不同工位时,每次转动角度相同,便于系统控制及工位布置,每转动一次,每个工位上均对应有所述吸盘,因此可以同时进行上料、检测及下料操作,提高工作效率。进一步优选的,所述转盘上连接有竖向的连接板,每个所述吸盘螺栓连接一个所述连接板。所述转盘上连接有竖向的连接板,所述连接板上设有滑槽,所述吸盘螺栓连接与所述滑槽上,便于调节所述吸盘的高度,方便更换所述吸盘,同时有利于提高强度,避免在旋转时产生晃动。进一步优选的,每个所述气管一连接有至少一个分气管,每个所述分气管连接有电磁阀。当设有多个所述吸盘时,每个所述分气管连通一个所述吸盘,每个所述分气管上连接有电磁阀,所述电磁阀连接有电气线,所述电气线通过本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,包括:抓取部件,包含至少一个吸盘(1),所有所述吸盘(1)位于同一平面;旋转部件,所有所述吸盘(1)均连接于所述旋转部件上,所述旋转部件带动所有所述吸盘(1)同向运动;检测部件,包含拍照部件一(10)和拍照部件二(11),所述拍照部件一(10)设于所述吸盘(1)的下方,所述拍照部件一(10)的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹,所述拍照部件一(10)用于拍摄硅片(12)的底面,所述拍照部件二(11)用于拍摄所述硅片(12)的顶面;驱动系统,驱动所述抓取部件、旋转部件和检测部件;控制系统,控制所述驱动系统。
【技术特征摘要】
1.一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,包括:抓取部件,包含至少一个吸盘(1),所有所述吸盘(1)位于同一平面;旋转部件,所有所述吸盘(1)均连接于所述旋转部件上,所述旋转部件带动所有所述吸盘(1)同向运动;检测部件,包含拍照部件一(10)和拍照部件二(11),所述拍照部件一(10)设于所述吸盘(1)的下方,所述拍照部件一(10)的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹,所述拍照部件一(10)用于拍摄硅片(12)的底面,所述拍照部件二(11)用于拍摄所述硅片(12)的顶面;驱动系统,驱动所述抓取部件、旋转部件和检测部件;控制系统,控制所述驱动系统。2.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,还包含显示部件。3.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,还包含上料装置和下料装置,所述上料装置和下料装置的位置适配所述吸盘(1)的转动轨迹,以使每个所述吸盘(1)旋转到所述上料装置和下料装置工位上方时分别实现上料和下料。4.根据权利要求3所述的一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,所述上料装置包含顶升部件(51)和吹气部件(52)。5.根据权利要求3所述的一种太阳能硅片的外观检测装置,其特征在于,所述拍照部件一(10)位于所述上料装置和下料装置之间,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹志明,张春雷,席劲松,谭平,唐星,赵成龙,
申请(专利权)人:成都福誉科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川,51
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