用于温度控制旋光仪样品室的技术制造技术

一种装置的特征在于：由传导材料制成的样品管适配器，具有第一部分以包含和接触其中具有样品的样品管，并且具有第二部分以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；以及样品支撑轨，接纳样品管适配器来提供对样品管的物理支撑，相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器与热组件之间存在接触，以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，并且相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准，以上均用于执行样品分析。

Technology for temperature controlled polarimeter sample room

A device is characterized in that: made of conductive material sample tube adapter has a first portion to contain and contact with the sample sample tube, and has second parts in order to provide for the hot path back and forth between the sample tube and the heat of the heat transfer component, for performing sample analysis and sample support rail, acceptance; the sample tube adapter to provide physical support to the sample tube, relative to the heat component oriented sample tube adapter, the sample tube contact between the adapter and the thermal components, to provide for the hot path back and forth between the sample tube and the thermal component of heat transfer, and relative to the light source at the sample tube adapter, which exists between the registration in the sample tube and provided by the light source light, above all for performing sample analysis.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于温度控制旋光仪样品室的技术相关申请的交叉引用本申请要求于2015年2月17日提交的美国临时申请No.62/117,296(代理人案号No.911-022.003-1//NB&S-X0002US)的权益，其通过引用以其整体内容并入本文。
本专利技术涉及用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的技术。
技术介绍
如本领域技术人员应理解的，旋光仪是本领域已知的用于测量由光学活性物质展示出的光学活性的仪器。在操作中，当穿过光学活性物质时，线偏振光束的偏振平面可能旋转，并且旋转可以由具体物质、该物质的浓度、以及光通过包含在样品室中的物质的光程长度来确定，由此具体物质的浓度可以通过测量到的旋转来计算。旋光度也可能受到包含在样品室中的物质的温度的影响，因此，如下可能是期望的并且在许多情况下是被管理规定要求的，即，样品物质的温度被控制在设定点处，以用于精确测量。在这种背景下，并且作为示例，用于使用这种旋光仪来实现珀耳帖控制样品的一些已知技术可以包括以下技术：用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的已知技术可以包括使用圆柱形管的样品室，以便最小化在室中但不在光路中的、被称为“死体积”的样品物质的量。在样品室的相对端处设置有法兰，在每个法兰中具有用于允许偏振光束穿过的光束孔。这些法兰的尺寸通常是标准尺寸，以用于当一对法兰位于由平行轨构成的室座上时，将样品室适当地定位在光路中。法兰可以从样品室移除，以允许清洗样品室。样品物质的温度控制是通过在包含该样品物质的样品室的外表面周围的水套中循环水而实现的。水套由与水管连通的外部管形成，该水管连接至处于预先确定温度的水源。然而，如本领域技术人员可以理解的，这种包括水套和冷却管的水温控制系统结构复杂。此外，如本领域技术人员还可以理解的，在清洗室和更换样品时连接和断开管道是不方便的，并且改变温度设定点也花费很长时间。用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术可以包括诸如热电冷却器(TEC)的热电温度控制技术。例如，通常为平板形状的TEC器件的一侧的温度是可由电流控制的。可以根据要求使热量在任一方向上流过器件。具有散热器的TEC元件被设置为是与容纳矩形样品室的矩形室座热传导的。偏振光束经由设置在室座上的孔穿过样品室。固体TEC元件看来消除了常规圆柱形室样品中所要求的水管道的复杂性和不便性。此外，室座的温度以及因此的样品室的温度可以容易且快速地被控制在设定点处。然而，矩形样品室具有大的死体积并且需要较大的样品体积来填充。当所测量的物质昂贵时，这样做的代价较高。这种矩形结构设计的另一问题表现为：室座不能与工业中通常使用的常规标准圆柱形样品室一起工作。此外，这种设计不能将温度控制在相关管理规定所要求的温度范围内。用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括使用倾斜平底板和单个水平轨的组合，例如，其中倾斜平底板由导热材料制成，以用于传递热电导体(TEC)与样品室内的材料之间的热量，其中倾斜平底板被偏置为迫使样品室抵着单个水平轨，并且该组合将样品室定位在预先确定的位置处，使得偏振光束纵向穿过样品室。用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括：使用倾斜平底板和阻挡器或侧壁的组合来将样品室定位在预先确定的位置处，使得偏振光束纵向穿过样品室。用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的其他已知技术还可以包括使用平行轨和底板的组合，其具有到安装在样品室之上的底板的楔形榫连接，其中底板相对于光束路径不固定，并且没有与光束路径相关的定位功能。用于使用这种旋光仪来实现珀耳帖控制样品的其他技术在本领域中也是已知的，但不在此阐述，这样的技术例如包括在本专利申请进行期间提供给专利局的现有技术中所阐述的那些技术。
技术实现思路
作为示例，本专利技术提供了一种用于在旋光仪中实现珀耳帖控制样品的新颖且独特的技术。根据一些实施例，并且作为示例，本专利技术可以包括如下装置或采取如下装置的形式，该装置被配置为对包含在样品管中的样品执行样品分析，其特征在于样品管适配器和样品支撑轨的组合。样品管适配器可以由传导材料制成，并且被配置有第一部分以至少部分地包含和接触其中具有样品的样品管，并且被配置有第二部分以提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。样品支撑轨可以被配置为：接纳样品管适配器，来提供对样品管的物理支撑，以用于执行样品分析，相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器的第二部分与热组件的某个部分之间存在接触，以便提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析，以及相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准(registration)，以用于执行样品分析。本专利技术可以包括以下特征中的一个或多个特征：样品管适配器的第一部分可以包括弯曲内表面，以靠在其中具有样品的样品管的弯曲外表面上并且与该弯曲外表面接触。样品管适配器的第二部分可以包括平坦表面，以与热组件的温度控制板接触。样品管适配器可以包括两个端部凸起法兰部分，其配置为靠在样品支撑轨上并且由样品支撑轨支撑。弯曲内表面可以是U形的，例如，以包含和包围样品管。样品支撑轨可以被配置为彼此平行地延伸，例如，包括以平行于样品管的纵向轴线的方式延伸。样品管适配器可以包括弯曲的外部表面，该弯曲的外部表面被配置为靠在其中具有样品的样品管的弯曲外表面上并且与该弯曲外表面接触。该弯曲的外部表面可以是半圆柱状的，例如，基本上具有圆柱的纵向一半的形状。样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的两个叶片，这两个叶片跨过从热组件的温度控制板向上延伸的垂直叶片，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的叶片，该叶片具有与热组件的温度控制板抵接的叶片表面，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。样品管适配器的第二部分可以包括向下延伸的两个叶片，每个叶片具有分别与热组件的对应温度控制板抵接的对应叶片表面，来提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析。该装置可以包括热组件，例如，该热组件具有温度控制板、珀耳帖器件和散热器的组合。该装置可以包括用于提供光束的光源，例如，包括其中光源是激光器并且光束是激光光束的情况。光源也可以包括用于提供白炽光束的白炽灯，或用于提供LED光束的发光二极管(LED)。该装置可以包括热组件和光源；并且还可以包括仪器机架，该仪器机架配置为相对于热组件和光源来固定地安装样品支撑轨，使得当样品支撑轨接纳样品管适配器时，样品支撑轨相对于热组件来定向样品管适配器，使得在样品管适配器的第二部分与热组件的一部分之间存在接触，以便提供用于在样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；并且样品支撑轨相对于光源来对准样品管适配器，使得在样品管与由光源提供的光束之间存在配准，以用于执行样品分析。该装置可以包括检测器/分析器，该检测器/分析器被配置为接收穿过样品管的光束并且执行样品分析。附图说明附图包括以下各图，其不一定按比例绘制：图1包括图1A和图1B，根据本专利技术的一些实施例，其中图1A示出了旋光仪沿着其纵向轴线的视图，并且其中图1B示出了图1A所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：样品管适配器和样品支撑轨的组合；所述样品管适配器由传导材料制成，并且被配置有第一部分以至少部分地包含和接触其中具有样品的样品管，并且被配置有第二部分以提供用于在所述样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；并且所述样品支撑轨被配置为：接纳所述样品管适配器，来提供对所述样品管的物理支撑，以用于执行所述样品分析，相对于所述热组件来定向所述样品管适配器，使得在所述样品管适配器的所述第二部分与所述热组件的某个部分之间存在接触，以便提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析，以及相对于光源来对准所述样品管适配器，使得在所述样品管与由所述光源提供的光束之间存在配准，以用于执行所述样品分析。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.02.17 US 62/117,2961.一种被配置为对样品执行样品分析的装置，所述样品被包含在样品管中，所述装置包括：样品管适配器和样品支撑轨的组合；所述样品管适配器由传导材料制成，并且被配置有第一部分以至少部分地包含和接触其中具有样品的样品管，并且被配置有第二部分以提供用于在所述样品管与热组件之间来回进行热量传递的热路径，以用于执行样品分析；并且所述样品支撑轨被配置为：接纳所述样品管适配器，来提供对所述样品管的物理支撑，以用于执行所述样品分析，相对于所述热组件来定向所述样品管适配器，使得在所述样品管适配器的所述第二部分与所述热组件的某个部分之间存在接触，以便提供用于在所述样品管与所述热组件之间来回进行热量传递的所述热路径，以用于执行所述样品分析，以及相对于光源来对准所述样品管适配器，使得在所述样品管与由所述光源提供的光束之间存在配准，以用于执行所述样品分析。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器的所述第一部分具有弯曲内表面，以靠在其中具有所述样品的所述样品管的弯曲外表面上并且与所述弯曲外表面接触。3.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器的所述第二部分具有平坦表面，以与所述热组件的温度控制板接触。4.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器具有两个端部凸起法兰部分，所述两个端部凸起法兰部分被配置为靠在所述样品支撑轨上并且由所述样品支撑轨支撑。5.根据权利要求2所述的装置，其中所述弯曲内表面是U形的。6.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品支撑轨被配置为彼此平行地延伸。7.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器具有弯曲的外部表面，所述弯曲的外部表面被配置为靠在其中具有所述样品的所述样品管的弯曲外表面上并且与所述弯曲外表面接触。8.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品管适配器的所述第二部分包...

【专利技术属性】
技术研发人员：V·R·维斯玛，
申请(专利权)人：埃克斯雷姆IP英国有限责任公司，
类型：发明
国别省市：卢森堡,LU