一种高清晰X射线荧光检测装置制造方法及图纸

一种高清晰X射线荧光检测装置，它涉及一种高清晰X射线荧光检测装置，本实用新型专利技术的目的是为了解决现有湿化学和传统XRF检测精度差，可靠性差，周期长，检测样品容易造成设备污染的问题。本实用新型专利技术的装置是将检测装置设置在外壳内，其中，检测装置包括X光发射装置、探测器、转盘式样品架、样品杯、电源和真空泵；X光发射装置发射X光对放置在转盘式样品架上的样品杯内的样品进行检测，并通过探测器进行探测，电源为其提供电能，真空泵为检测装置抽真空。本实用新型专利技术的装置精确度和可靠性高；检验周转时间短；对小型和不规则形状物体进行分析时，分析区域仅1mm

【技术实现步骤摘要】
一种高清晰X射线荧光检测装置
本技术涉及一种高清晰X射线荧光检测装置。
技术介绍
现有的湿化学和传统XRF检测装置，存在检测精度差，周期长，可靠性差的问题。而且对于XRF检测装置，在检测过程中存在一次只能检测一件样品的问题。这样就造成检测周期变长。另外，在检测时，一般是将样品直接放置于检测台上，样品容易造成设备的污染。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有湿化学和传统XRF检测精度差，可靠性差，周期长，检测样品容易造成设备污染的问题。而提供了一种高清晰X射线荧光检测装置。本技术的一种高清晰X射线荧光检测装置，它包括外壳和检测装置；其中，所述的检测装置设置于外壳内，检测装置包括X光发射装置、探测器、转盘式样品架、样品杯、电源和真空泵；所述的X光发射装置包括X光发射管和DCC反射镜；所述的X光发射装置和探测器设置于转盘式样品架上方，转盘式样品架设置于外壳底部；其中，X光发射装置的射线出口正对于转盘式样品架上的样品杯；X光发射装置发出的X射线与探测器的夹角为45°；所述的转盘式样品架上设置有样品杯放置口，样品杯放置其中；转动轴一端与转盘式样品架底部中间位置固定连接，另一端与外壳底部转动连接，并带动转盘式样品架转动；所述的电源为高清晰X射线荧光检测装置供电，并设置于外壳底部左侧，信号控制电路板控制高清晰X射线荧光检测装置，并设置于外壳外侧壁上；所述的检测装置的进气口与真空泵的出气口连通，其中，真空泵设置于外壳底部右侧；所述的样品杯的样品放置区为倒圆锥形。本技术包含以下有益效果：本技术的检测装置采用HDXRF(高清晰X射线荧光)元素分析技术，将多个DCC反射镜捕获来自X光管的X光白光束，从低到高选定几个特定能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测样品表面。HDXR(高清晰X射线荧光)检测装置可选择使用这几束单色光来激发样品，从而分别对涂层和基体中的有毒元素浓度进行量化分析。此外，通过采用单色光激发，分析仪消除了荧光峰下的散射背景，从而大大改善了检测下限；聚焦激发光技术让分析区域直径小至1mm，分析准确。本技术的装置经无损测试，精确度和可靠性都可与湿化学法(ICP)相媲美；检验周转时间短；对小型和不规则形状物体进行分析时，分析区域仅1mm2；与传统XRF仪器/方法相比，结果更准确、更可靠。本技术的装置通过设置转盘式样品架，在转盘式样品架上开设多个样品杯放置口，将待检测的样品放置于样品杯后，再将样品杯放入转盘式样品架上，随着转动轴的转动，依次将样品杯置于X光发射装置进行检测；这样就实现了对多个样品进行检测。另外，对样品杯本技术进了改进，为了避免X光照射样品时，由于样品在样品杯底部，造成检测可能存在误差的问题，本技术将样品杯的样品放置区域做成倒圆锥形结构，并提高了样品放置区的高度，使其更接近X光发射装置，这样就能避免此类问题发生。而且，在检测土壤或者粉末类的样品时，可以在样品杯上覆盖透明薄膜，避免样品对设备的污染。附图说明图1为本技术的高清晰X射线荧光检测装置结构示意图；图2为图1中的转盘式样品架结构示意图；图3为图1中样品的剖面图。具体实施方式具体实施方式一：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式的一种高清晰X射线荧光检测装置，它包括外壳1和检测装置；其中，所述的检测装置设置于外壳1内，检测装置包括X光发射装置10、探测器3、转盘式样品架5、样品杯6、电源8和真空泵11；所述的X光发射装置10包括X光发射管2和DCC反射镜4；所述的X光发射装置10和探测器3设置于转盘式样品架5上方，转盘式样品架5设置于外壳1底部；其中，X光发射装置10的射线出口正对于转盘式样品架5上的样品杯6；X光发射装置10发出的X射线与探测器3的夹角为45°；所述的转盘式样品架5上设置有样品杯放置口，样品杯6放置其中；转动轴7一端与转盘式样品架5底部中间位置固定连接，另一端与外壳1底部转动连接，并带动转盘式样品架5转动；所述的电源8为高清晰X射线荧光检测装置供电，并设置于外壳1底部左侧，信号控制电路板9控制高清晰X射线荧光检测装置，并设置于外壳1外侧壁上；所述的检测装置的进气口与真空泵11的出气口连通，其中，真空泵11设置于外壳1底部右侧；所述的样品杯6的样品放置区为倒圆锥形。具体实施方式二：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式与具体实施方式一不同点在于：转盘式样品架5设置多个样品杯6放置处。其它组成和连接方式与具体实施方式一相同。具体实施方式三：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式与具体实施方式一不同点在于：所述的DCC反射镜4的数量为三个。其它组成和连接方式与具体实施方式一相同。具体实施方式四：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式与具体实施方式一不同点在于：样品杯6的倒圆锥形样品放置区的高度为样品杯6整体高度的一半。其它组成和连接方式与具体实施方式一相同。具体实施方式五：结合图1至图3说明本实施方式，本实施方式与具体实施方式一不同点在于：所述的样品杯6的杯口上覆盖一层透明薄膜。其它组成和连接方式与具体实施方式一相同。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高清晰X射线荧光检测装置，其特征在于它包括外壳(1)和检测装置；其中，所述的检测装置设置于外壳(1)内，检测装置包括X光发射装置(10)、探测器(3)、转盘式样品架(5)、样品杯(6)、电源(8)和真空泵(11)；所述的X光发射装置(10)包括X光发射管(2)和DCC反射镜(4)；所述的X光发射装置(10)和探测器(3)设置于转盘式样品架(5)上方，转盘式样品架(5)设置于外壳(1)底部；其中，X光发射装置(10)的射线出口正对于转盘式样品架(5)上的样品杯(6)；X光发射装置(10)发出的X射线与探测器(3)的夹角为45

【技术特征摘要】
1.一种高清晰X射线荧光检测装置，其特征在于它包括外壳(1)和检测装置；其中，所述的检测装置设置于外壳(1)内，检测装置包括X光发射装置(10)、探测器(3)、转盘式样品架(5)、样品杯(6)、电源(8)和真空泵(11)；所述的X光发射装置(10)包括X光发射管(2)和DCC反射镜(4)；所述的X光发射装置(10)和探测器(3)设置于转盘式样品架(5)上方，转盘式样品架(5)设置于外壳(1)底部；其中，X光发射装置(10)的射线出口正对于转盘式样品架(5)上的样品杯(6)；X光发射装置(10)发出的X射线与探测器(3)的夹角为45o；所述的转盘式样品架(5)上设置有样品杯放置口，样品杯(6)放置其中；转动轴(7)一端与转盘式样品架(5)底部中间位置固定连接，另一端与外壳(1)底部转动连接，并带动转盘式样品架(5)转动；所述的电...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丽丽，薛忠辉，张蕊，薛巍，陈洪侠，吕妍，张凤姝，
申请(专利权)人：黑龙江省计量检定测试院，
类型：新型
国别省市：黑龙江,23