一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统，涉及电阻测试设备领域，该电阻框架测试系统包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具，该电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱、电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。相较于现有技术，本实用新型专利技术提供的电阻框架测试夹具夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

Resistance frame testing fixture and resistance frame testing system

The utility model provides a frame resistance test fixture and resistance test system framework, relates to the resistance test equipment, test system framework includes a substrate, the resistance resistance resistance analyzer and test fixture frame, the frame resistance test fixture assembly, including holding column, resistance testing device, containing the column with one end of the fixed component placement connection resistance testing device comprises a probe mechanism and a limit component, let the side column is provided with a first end of the strip hole, a probe mechanism through the first strip holes and along the first side sliding bar hole, the other end of the suspension mechanism probe placed components and selectively abutting on one side of a component, limit a component is arranged in the holding column and connected with the probe mechanism, sliding mechanism to control the probe. Compared with the prior art, the resistance frame testing fixture provided by the utility model is stable in clamping, improves the measuring accuracy, and makes the test data accurate and the repeated measurement effect is good.

【技术实现步骤摘要】
一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统
本技术涉及电阻测试设备领域，具体而言，涉及一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统。
技术介绍
在工业生产中，往往需要对生产出的工业产品进行电阻测试，以测定其电阻率。特别地，对于一些特定的采样电阻框架的测试需要精准的将电阻框架的阻值进行阻值分段，以便于调阻时候统一使用整体减薄的方法来进行调阻，使其达到规定的电阻精度，提高合格率。采样电阻采用精密合金进行制作，前段制程使用冲压工艺，调阻采用统一减薄的方法，这种方法要想提高产品的合格率，就要想办法将冲压框架的来料的阻值保持稳定，不离散。而该电阻为了生产的需要，必须采用阵列式排布，来进行规模化生产。这就导致电阻框架很长，要想将电阻框架的阻值尽量的集中不至于离散，就要将每一个进行精准的测试，于是就要将框架的测试点、测试的压力、测试的方式等统一起来。经专利技术人调研发现，现有的测试方法通常是通过手工来对电阻框架进行测试，由于每个人测试的习惯不同，测试点不同，测试的压力也不同，就导致无法得到一个可信的数据来知道我们进行整体减薄调阻。有鉴于此，设计制造出一种能够固定测试压力和测试点位置的电阻框架测试夹具显得尤为重要。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电阻框架测试夹具，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。本技术的另一目的在于提供一种电阻框架测试系统，测试精度高，测试数据准确。本技术是采用以下的技术方案来实现的。一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。进一步地，探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口，承载板的一端伸入第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，多根探针设置于承载板的底部且远离容置柱，多根探针可选择性地抵持于放置组件，并夹持电阻框架，电阻分析接口设置在承载板上并与多根探针电性连接。进一步地，探针的根数为4根，采用四线探针法对电阻框架进行测量电阻率的操作。进一步地，4根探针两两相对设置，每根探针的延伸方向相互平行。进一步地，探针为导电金属探针。进一步地，限位组件包括限位把手、探针下压限位件和弹性件，容置柱的侧面还设置有第二条形孔，限位把手的一端伸入第二条形孔并可沿第二条形孔滑动，限位把手伸入第二条形孔的一端与探针机构固定连接，探针下压限位件设置于容置柱的侧面上且靠近第二条形孔，用于止挡限位把手，弹性件的一端抵接于放置台，另一端抵接于探针机构。进一步地，弹性件为一压缩弹簧。进一步地，放置组件包括基台和放置板，容置柱的底部固定连接于基台，放置板可拆卸地设置在基台上并与探针机构相对应。进一步地，放置板上设置有测试槽，测试槽的延伸方向与放置板的延伸方向一致，用于放置电阻框架。一种电阻框架测试系统，用于测试电阻框架的电阻率，包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。放置组件可拆卸地设置在基板上，电阻分析仪与探针机构电性连接，用于分析电阻框架的电阻率。本技术具有以下有益效果：本技术提供的一种电阻框架测试夹具，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。在使用过程中，将电阻框架放置到放置组件上位于探针机构的下方，利用限位组件控制探针机构抵持在放置组件上，从而夹持住电阻框架。相较于现有技术，本技术提供的一种电阻框架测试夹具，由于限位组件和容置柱的存在，使得探针机构可以以固定压力抵持在放置组件上，从而施加在电阻框架上的压力也恒定，同时探针机构的探测位置也固定，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。本技术提供的一种电阻框架测试系统，利用上述的电阻框架测试夹具对电阻框架进行夹持，再利用电阻分析仪测定电阻框架的电阻率。相较于现有技术，本技术提供的一种电阻框架测试系统，测试数据准确，重复测量效果好。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术第一实施例提供的电阻框架测试夹具第一视角结构示意图；图2为本技术第一实施例提供的电阻框架测试夹具第二视角结构示意图；图3为本技术第一实施例提供的电阻框架测试夹具第三视角结构示意图；图4为本技术第一实施例提供的电阻框架测试夹具第四视角结构示意图。图标：100-电阻框架测试夹具；110-放置组件；111-放置板；1111-测试槽；113-基台；130-容置柱；131-第一条形孔；133-第二条形孔；150-电阻测试装置；151-探针机构；1511-探针；1513-承载板；1515-电阻分析接口；153-限位组件；1531-限位把手；1533-探针下压限位件；1535-弹性件。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，还需要说明的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，其特征在于，所述电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，所述容置柱的一端与所述放置组件固定连接，所述电阻测试装置包括探针机构和限位组件，所述容置柱的侧面设置有第一条形孔，所述第一条形孔的延伸方向与所述容置柱的延伸方向一致，所述探针机构的一端穿过所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动，所述探针机构的另一端悬置于所述放置组件的一侧并可选择性地抵持于所述放置组件的一侧，所述限位组件设置在所述容置柱上并与所述探针机构连接，用以控制所述探针机构的滑动。

【技术特征摘要】
1.一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，其特征在于，所述电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，所述容置柱的一端与所述放置组件固定连接，所述电阻测试装置包括探针机构和限位组件，所述容置柱的侧面设置有第一条形孔，所述第一条形孔的延伸方向与所述容置柱的延伸方向一致，所述探针机构的一端穿过所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动，所述探针机构的另一端悬置于所述放置组件的一侧并可选择性地抵持于所述放置组件的一侧，所述限位组件设置在所述容置柱上并与所述探针机构连接，用以控制所述探针机构的滑动。2.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口，所述承载板的一端伸入所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动，多根所述探针设置于所述承载板的底部且远离所述容置柱，多根所述探针可选择性地抵持于所述放置组件，所述电阻分析接口设置在所述承载板上并与多根所述探针电性连接。3.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针的根数为4根。4.根据权利要求3所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，4根所述探针两两相对设置，每根所述探针的延伸方向相互平行。5.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针为...

【专利技术属性】
技术研发人员：史书刚，韩玉成，杨成，陈天磊，朱威禹，黄伟训，
申请(专利权)人：中国振华集团云科电子有限公司，
类型：新型
国别省市：贵州,52