一种环形元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种电子元器件的测试设备，尤其涉及一种环形元件测试装置。它包括测试支架、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构，在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构。所述的旋转机构由步进电机和由步进电机控制的升降杆组成，在升降杆上还设有光电探孔，所述的光电探孔内设有光电传感器。所述的测试装置包括测正调节座、测针安装座和测试针。此装置机构简单，快速精准定位，定位精度高，采用可控旋转，光电判断定位，集成数据模块，快速精准定位。

A ring element testing device

The utility model relates to a testing device for an electronic component, in particular to a ring element testing device. The tester comprises a testing bracket, a test mechanism connected with the PLC controller on the bracket, and a rotating mechanism which is connected with the PLC controller and can rotate the product. The rotating mechanism is composed of a stepping motor and a lifting rod controlled by a stepping motor, and a photoelectric probe is also arranged on the lifting rod, and the photoelectric probe is provided with a photoelectric sensor. The testing device comprises a positive adjusting seat, a needle mounting seat and a test needle. The device has the advantages of simple mechanism, fast and precise positioning, high positioning accuracy, controllable rotation, photoelectric judgment and positioning, integrated data module, fast and accurate positioning.

【技术实现步骤摘要】
一种环形元件测试装置
本技术涉及一种机械设备
，尤其涉及一种环形元件测试装置。
技术介绍
薄圆片且直径小的被银面元件的使用很广泛，该元件的测试机构大多是单一测试系统，只能对有被银面产品检测，没有对元件进行定位和纠正。有时候元件的被银面没有正对测试部件时，便会被这种设备判为不良品而被弃入不良品收集箱，这就造成合格品的很大浪费，如果再靠人工挑选出来，人工成本大大提高。而此装置设计带旋转头纠正系统和测试系统，可对圆片、薄片、直径小的外径、两面有被银面元件的侧面、正面进行测试，相对于单一测试系统更加精确；拆卸方便，维护方便可靠，数据判断定位准确、检测精确，也可更换多种测试方法检测，兼容范围广。
技术实现思路
针对现有技术的技术缺陷，本技术提供了一种数据判断定位准确、检测精确的环形元件测试装置。本技术需解决上述技术问题是通过以下技术方案实现的：一种环形元件测试装置，包括测试支架、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构，在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构。进一步：在上述环形元件测试装置中，所述的旋转机构由步进电机和由步进电机控制的升降杆组成，在升降杆上还设有光电探孔，所述的光电探孔内设有光电传感器。所述的测试装置包括测正调节座、测针安装座和测试针。所述的支架上还设有驱动测试机构与旋转机构上下升降的驱动装置，所述的驱动装置包括主动轮和从动轮,主动轮和从动轮之间通过皮带轮连接。所述的从动轮包括贯穿机架的升降传动轴，在升降传动轴上设有同步轮，在升降传动轴的两端设有凸轮。升降传动轴的两端凸轮均通过联动机构分别与测试机构和旋转机构连接。所述的联动机构包括轴承小轴、调节杆、调节座、调节块、旋转安装座以及滑块安装板。所述的轴承小轴设置在凸轮上端，所述的轴承小轴上套有与凸轮直接接触并产生相对滑动的滑轮。所述的支架上还设有直线滑轨。联动机构沿直线滑轨作上下运动。与现有技术相比，本技术的环形元件测试装置，包括测试支架、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构，在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构。主动轮通过同步皮带带动从动轮，从动轮两端的凸轮同步旋转，滑轮随着凸轮的转动，直线滑轨起到升降作用，使旋转机构与测试机构同步旋转；当光电传感器感应到产品不是被银面时，旋转机构下降，升降杆接触到产品，并把信号传给PLC，步进电机旋转，把产品纠正为被银面，否则电机不转。同时测试机构对产品被银面进行测试。此装置机构简单，快速精准定位，定位精度高，采用可控旋转，光电判断定位，集成数据模块，快速精准定位。即它是同轴异向传动机构相配合，达到结构紧凑、平稳、机构简洁，降低加工成本，提高测试效率。附图说明图1、2、3均是本实施方式测试装置的结构示意图；图4是本实施方式的测试产品，即外径被银产品；图5是图4的AA向截面图。其中：1支架、2测试机构、3旋转机构、4步进电机、5升降杆、6光电探孔、7测正调节座、8测针安装座、9测试针、10主动轮、11从动轮、12升降传动轴、13凸轮、14轴承小轴、15调节杆、16调节座、17调节块、18旋转安装座、19滑块安装板、20滑轮、21直线滑轨、22被银面。具体实施方式参照附图1及具体实施方式来对比说明本技术。如图1-2所示，一种环形元件测试装置，包括测试支架1、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构2，在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构3。所述的旋转机构由步进电机4和由步进电机控制的升降杆5组成，在升降杆5上还设有光电探孔6。所述的测试装置包括测正调节座7、测针安装座8和测试针9。所述的支架1上还设有驱动测试机构2与旋转机构3上下升降的驱动装置，所述的驱动装置包括主动轮10和从动轮11,主动轮和从动轮之间通过皮带轮连接。所述的从动轮包括贯穿机架的升降传动轴12，在升降传动轴的两端设有凸轮13。升降传动轴的两端凸轮13均通过联动机构分别与测试机构2和旋转机构3连接。所述的联动机构包括轴承小轴14、调节杆15、调节座16、调节块17、旋转安装座18以及滑块安装板19。所述的轴承小轴14设置在凸轮13上端，所述的轴承小轴14上套有与凸轮13直接接触并产生相对滑动的滑轮20。所述的支架上还设有直线滑轨21。所述的光电探孔6内设有光电传感器。工作时，被测产品是外径被银产品，主动轮10通过同步皮带带动从动轮11，从动轮11两端的凸轮13同步旋转，滑轮20随着凸轮13的转动，直线滑轨21起到升降作用，使旋转机构3与测试机构2同步旋转；当光电传感器感应到产品不是被银面时，旋转机构3下降，升降杆5接触到产品，并把信号传给PLC，步进电机旋转，把产品纠正为被银面，否则电机不转。同时测试机构3对产品被银面22进行测试。此装置机构简单，快速精准定位，定位精度高，采用可控旋转，光电判断定位，集成数据模块，快速精准定位。以上所述为本技术较佳的实施方式，在不脱离本技术构思情况下，进行任何显而易见的变形和替换，均属本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种环形元件测试装置，包括测试支架(1)、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构(2)，其特征在于：在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构(3)；所述的旋转机构由步进电机(4)和由步进电机控制的升降杆(5)组成，在升降杆(5)上还设有光电探孔(6)。

【技术特征摘要】
1.一种环形元件测试装置，包括测试支架(1)、在支架上设有与PLC控制器连接的测试机构(2)，其特征在于：在支架上还设有与PLC控制器连接并能旋转产品的旋转机构(3)；所述的旋转机构由步进电机(4)和由步进电机控制的升降杆(5)组成，在升降杆(5)上还设有光电探孔(6)。2.根据权利要求1所述的环形元件测试装置，其特征在于：所述的测试装置包括测正调节座(7)、测针安装座(8)和测试针(9)。3.根据权利要求2所述的环形元件测试装置，其特征在于：所述的支架(1)上还设有驱动测试机构(2)与旋转机构(3)上下升降的驱动装置，所述的驱动装置包括主动轮(10)和从动轮(11),主动轮和从动轮之间通过皮带轮连接。4.根据权利要求3所述的环形元件测试装置，其特征在于：所述的从动轮包括贯穿机架的升降传动轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢辉，孔祥坚，何鉴森，
申请(专利权)人：肇庆市众一自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44