一种轨道电路一次参数测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制、上位机、负载控制和测量电路，所述的MCU控制模块连接有上位机、面板输入与显示模块和负载控制，MCU控制通过串口通讯连接测量电路，所述的MCU控制上还设有正弦波信号源、功放电路和幅度调节电路，功放电路连接轨道。

【技术实现步骤摘要】
一种轨道电路一次参数测试仪
本技术涉及电子应用领域，尤其是一种轨道电路一次参数测试仪。
技术介绍
我国现行的无绝缘音频轨道电路与传统轨道电路相比，大大的提高了轨道电路的可靠性，通过电气绝缘方法降低了轨道电路的不平衡系数，改善了钢轨线路的运营质量，同时还可以通过轨道电路向车载设备传输报文。测算轨道电路的一次参数，是信号检修中的一项经常性工作。轨道电路的计算和调整，以至于轨道电路所用器材的设计等问题，都要根据一次参数来进行，所以一次参数是轨道电路的一个最基本的参数。运用无绝缘轨道电路一次参数的测算方法,对无绝缘轨道电路一次参数进行测量,可以为准备引进任何一个信号系统(采用轨道电路)、进行系统设计提供可靠的理论依据[2]。然而，对于音频无绝缘轨道电路的一次参数测算，目前国内尚无合适的方法。传统的开路、短路法，对于音频无绝缘轨道电路来说，已不能适用。测试仪是通过利用“二次短路法”，对音频条件下的轨道电路一次参数进行了测算，研究开发了适合当前城市轨道交通工程及维修现场使用的轨道电路测试仪，以满足国内轨道交通建设运营的需要。开发的测试仪使用方便，人机界面友好，符合目前的现场情况；能够进行多种计算，且计算结果满足工程设计及维修保养的要求；能在各种不同条件下，进行轨道电路输出端电压、轨道电路极限长度及断轨情况参数的测量。
技术实现思路
为解决上述问题本技术的目的是提供一种结构简单、操作方便、功能多样和计算准确的轨道电路一次参数测试。为解决上述问题本技术的技术方案：一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制、上位机、负载控制和测量电路，所述的MCU控制模块连接有上位机、面板输入与显示模块和负载控制，MCU控制通过串口通讯连接测量电路，所述的MCU控制上还设有正弦波信号源、功放电路和幅度调节电路，功放电路连接轨道。作为优选，所述测量电路和MCU控制机分别连接第一电源和第二电源。作为优选，所述测量电路与轨道并联设置。作为优选，所述正弦波信号源中的幅度调节范围：0.5-10.5Vram，频率调节范围：10.0-100.0kHz。作为优选，所述测量电路上设有交流电压表和交流电流表，交流电压表范围：0-15Vram，交流电流表范围：测量范围：0-3A。作为优选，所述负载控制内电阻的调节范围：0-10欧姆。有益条件：本技术提供了一种轨道电路一次参数测试仪，设计合理、操作简单、功能多样、计算准确便且很大的提高工作效率。附图说明图1为本技术的测试仪结构示意图。图2为本技术的两次短路法测量示意图。图中：MCU控制模块1、上位机2、负载控制3、测量电路4、面板输入与显示模块5、正弦波信号源6、功放电路7、幅度调节电路8、轨道9、第一电源10、第二电源11、Us为正弦交流电压、Is为正弦交流电流、L为轨道长度。具体实施方式如图1、2所示一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制模块1、上位机2、负载控制3和测量电路4，所述的MCU控制模块1连接有上位机2、面板输入与显示模块5和负载控制3，MCU控制模块1通过串口通讯连接测量电路4，所述的MCU控制模块1上还设有正弦波信号源6、功放电路7和幅度调节电路8，功放电路7连接轨道9，所述测量电路4和MCU控制模块1分别连接第一电源10和第二电源11，所述测量电路4与轨道9并联设置，所述正弦波信号源6中的幅度调节范围：0.5-10.5Vram，频率调节范围：10.0-100.0kHz，所述测量电路4上设有交流电压表和交流电流表，交流电压表范围：0-15Vram，交流电流表范围：测量范围：0-3A，所述负载控制3内电阻的调节范围：0-10欧姆。下面将结合本技术的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术提供了一种轨道电路一次参数测试仪，请参照图1所示，面板输入与显示模块5上显示有幅度、频率、电阻和电流表等参数，且可以通过面板输入与显示模块5上的按键来调整，也可以通过上位机2进行调整，且幅度调节范围：0.5-10.5Vram，频率调节范围：10.0-100.0kHz，MCU控制模块1采用R8C型号，MCU控制模块1通过正弦波信号源6产生正弦波信号，在通过功放电路7放大功率，输出到轨道9上，测量电路4与轨道9呈并联方式设置，通过两次短路法进行测量，这样测量电路采集的电压和电流将数据传输到MCU控制模块1中，并在面板输入与显示模块5中进行显示，数值为Us和Is，在通过公式进行计算，第一电源10和第二电源11分别对测量电路4和MCU控制模块1进行供电，负载控制3用于提供负载，本技术提供了一种轨道电路一次参数测试仪，设计合理、操作简单、功能多样、计算准确便且很大的提高工作效率。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制模块（1）、上位机（2）、负载控制（3）和测量电路（4），其特征在于，所述的MCU控制模块（1）连接有上位机（2）、面板输入与显示模块（5）和负载控制（3），MCU控制模块（1）通过串口通讯连接测量电路（4），所述的MCU控制模块（1）上还设有正弦波信号源（6）、功放电路（7）和幅度调节电路（8），功放电路（7）连接轨道（9）。

【技术特征摘要】
1.一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制模块（1）、上位机（2）、负载控制（3）和测量电路（4），其特征在于，所述的MCU控制模块（1）连接有上位机（2）、面板输入与显示模块（5）和负载控制（3），MCU控制模块（1）通过串口通讯连接测量电路（4），所述的MCU控制模块（1）上还设有正弦波信号源（6）、功放电路（7）和幅度调节电路（8），功放电路（7）连接轨道（9）。2.根据权利要求1所述一种轨道电路一次参数测试仪，其特征在于，所述测量电路（4）和MCU控制模块（1）分别连接第一电源（10）和第二电源（11）。3.根据权利要求1所述一...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍小飞，范雪芳，徐文孝，
申请(专利权)人：浙江兰科电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33