The invention discloses a device for measuring the total element content by focusing technique, including cavity component, filter switch module, detector component, Cr target tube assembly, curved crystal components, Ag target tube assembly, supporting frame, sample components, high voltage power supply Cr target and Ag target of high voltage power supply and gas generating device, filter switch component, component, Cr target detector tube assembly and assembly are fixedly connected with the bent crystal cavity assembly, Ag target tube assembly is fixedly connected with the bent crystal component, the cavity component is fixed on the bracket, the sample assembly is disposed in the cavity assembly, gas generating device connected through the ventilation pipe and the high pressure cavity assembly, Cr target the power supply and the Cr target tube assembly is electrically connected to the high voltage power supply and Ag target Ag target tube assembly is electrically connected. The invention realizes the high-precision analysis of the whole element of the spectrometer by using the full focus technique, the gas filled in the sealed cavity of the sample and the X ray fluorescence spectrum analysis technique of the two sets of light tubes.
【技术实现步骤摘要】
一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置
本专利技术涉及光谱分析
,特别是涉及一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置。
技术介绍
目前,国内外X荧光能谱分析仪(以下简称能谱仪)主要用于周期表中K以上的中等或重元素分析,如果将能谱仪用于Na→Cl等轻元素分析,其分析精度均比较差,因此轻元素分析领域仍以波谱仪为主导。最近几年,出现了对X光管的相关谱线(CrK2或AgLa1)进行单色聚焦的能谱分析新技术。采用此种新技术能够高精度、高灵敏度分析Na→Cl的各种轻元素,但能同时分析轻元素的全元素能谱分析仪,则尚在探索过程中。综上所述,如何提高能谱仪的轻元素的分析精度,并且实现全元素能谱分析的能谱仪成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置,以解决上述现有技术存在的问题,使能谱仪的轻元素的分析精度更高,且能够实现全元素的能谱分析。为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案:本专利技术提供了一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置,包括腔体组件、滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件、弯晶组件、Ag靶管组件、支撑架、样品组件、Cr靶高压电源、Ag靶高压电源和气体发生装置,所述滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件和弯晶组件均固定连接在所述腔体组件上,所述Ag靶管组件固定连接在所述弯晶组件上,所述腔体组件固定在所述支撑架上,所述样品组件设置在所述腔体组件内,所述气体发生装置通过通气管与所述腔体组件连通,所述Cr靶高压电源与所述Cr靶管组件电连接,所述Ag靶高压电源与所述Ag靶管组件电连接。优选地,所述滤光片切换组件包括驱动 ...
【技术保护点】
一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:包括腔体组件、滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件、弯晶组件、Ag靶管组件、支撑架、样品组件、Cr靶高压电源、Ag靶高压电源和气体发生装置,所述滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件和弯晶组件均固定连接在所述腔体组件上,所述Ag靶管组件固定连接在所述弯晶组件上,所述腔体组件固定在所述支撑架上,所述样品组件设置在所述腔体组件内,所述气体发生装置通过通气管与所述腔体组件连通,所述Cr靶高压电源与所述Cr靶管组件电连接,所述Ag靶高压电源与所述Ag靶管组件电连接。
【技术特征摘要】
1.一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:包括腔体组件、滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件、弯晶组件、Ag靶管组件、支撑架、样品组件、Cr靶高压电源、Ag靶高压电源和气体发生装置,所述滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件和弯晶组件均固定连接在所述腔体组件上,所述Ag靶管组件固定连接在所述弯晶组件上,所述腔体组件固定在所述支撑架上,所述样品组件设置在所述腔体组件内,所述气体发生装置通过通气管与所述腔体组件连通,所述Cr靶高压电源与所述Cr靶管组件电连接,所述Ag靶高压电源与所述Ag靶管组件电连接。2.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述滤光片切换组件包括驱动电机、滤光片支撑、挡光片、支撑板、光电开关和光电开关安装板,所述光电开关安装板、驱动电机和滤光片支撑均安装在支撑板上,所述支撑板固定连接在所述腔体组件上,所述滤光片支撑上设置有齿条和滤光片安装孔,所述光电开关安装在所述光电开关安装板上,所述挡光片安装在所述滤光片支撑上,并与所述滤光片支撑一起运动,同时与所述光电开关滑动接触,所述驱动电机的输出轴与一齿轮固定连接,所述齿轮与所述齿条啮合。3.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述弯晶组件包括弯晶安装盒、弯晶、弯晶托板、晶体微调板、螺钉固定块、弹簧、晶体调节轴、密封法兰和螺钉,所述弯晶安装盒固定连接在所述腔体组件上,所述晶体固定在弯晶托板上,所述弯晶托板固定在所述晶体调节轴置于所述弯晶安装盒内部的一端上,所述晶体调节轴位于所述弯晶安装盒外部的一端与所述晶体微调板固定连接,所述晶体调节轴可以相对于所述弯晶安装盒转动,所述晶体调节轴与所述弯晶安装盒连接位置处设置有密封圈,所述密封圈外侧设置有密封法兰;所述晶体微调板的一侧对应位置设置所述螺钉固定块,所述螺钉固定块固定在所述弯晶安装盒外壁上...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘小东,
申请(专利权)人:深圳市华唯计量技术开发有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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