放射线检测器以及具备该检测器的放射线图像取得装置制造方法及图纸

该放射线检测器（3）具备：平板状的波长变换板（6），响应于透过了对象物（A）的放射线的入射而产生闪烁光；直接变换型检测器（5），检测透过了波长变换板（6）的放射线；以及遮光板（7），配置在波长变换板（6）与直接变换型检测器（5）之间，防止闪烁光向直接变换型检测器（5）的入射。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及放射线检测器以及具备该检测器的放射线图像取得装置。
技术介绍
一直以来，关于X射线图像的检测技术，为人所知的有：通过检测由入射到检测器的放射线产生的电荷而直接检测放射线的方式即直接变换方式、以及使用闪烁器材料等的放射线变换构件来将放射线变换成光之后用检测器进行检测的方式即间接变换方式。在这2种变换方式中存在放射线的检测能量带受限制的倾向。为了应付这样的问题而设计了如下结构，即在直接检测放射线的放射线检测元件的检测面设置由闪烁器材料构成的放射线变换膜，由放射线检测元件同时检测透过了放射线变换膜的放射线以及被放射线变换膜变换后的闪烁光（参照下述专利文献1）。根据这样的结构，能够提高放射线的检测效率并取得S/N良好的图像数据。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2000-46951号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题然而，在上述那样的现有的结构中，用同一检测器检测宽能量带的放射线，因而所得到的图像数据有产生图像模糊的倾向。其原因在于：本来比较低的能量带的放射线容易被波长变换膜变换成闪烁光，放射线检测元件检测一边变宽一边透过放射线变换膜而来的闪烁光，因而在低能量带的放射线，检测信号（S）容易减弱，另一方面，在高能量带由于变宽了的闪烁光而使相对于检测信号的噪声容易增加，宽能量带的放射线的检测信号的S/N下降。因此，本专利技术有鉴于上述所涉及的技术问题而做出的，其目的在于，提供一种可以遍及宽能量带而取得模糊少的放射线检测图像的放射线检测器以及具备该放射线检测器的放射线图像取得装置。解决技术问题的手段为了解决上述技术问题，本专利技术的一个侧面所涉及的放射线检测器，具备：平面状的波长变换构件，响应于透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；放射线检测元件，检测透过了波长变换构件的放射线；以及遮蔽构件，配置在波长变换构件与放射线检测元件之间，防止闪烁光向放射线检测元件的入射。根据这样的放射线检测器，透过了对象物的放射线当中比较低能够量带的放射线被波长变换构件变换成闪烁光，该闪烁光被配置在波长变换构件的放射线的入射面侧的检测器检测，由此可以作为图像信号被检测。与此同时，透过了对象物的放射线当中比较高能量带的放射线透过波长变换构件和遮蔽构件而作为直接图像信号被放射线检测元件检测出。此时，由于通过遮蔽构件防止闪烁光向放射线检测元件的入射，因而高能量带的图像信号中的S/N提高，并且由于闪烁光在波长变换构件的入射面侧被检测，因此还能够防止低能量带的图像信号中的图像模糊。其结果，能够取得放射线的检测信号的S/N遍及宽能量带良好的图像。再有，“比较低能量带的放射线”以及“比较高能量带的放射线”是指，具有相互分离的能量带的放射线、或者具有共同的能量带的放射线。或者，本专利技术的另一个侧面所涉及的放射线图像取得装置，具备：放射线源，出射放射线；平面状的波长变换构件，响应于从放射线源出射并透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；摄像元件，对从波长变换构件的放射线的入射侧的面辐射的闪烁光进行摄像；放射线检测元件，检测透过波长变换构件的放射线；以及遮蔽构件，配置在波长变换构件与放射线检测元件之间，防止闪烁光向放射线检测元件的入射。根据这样的放射线图像取得装置，透过了对象物的放射线当中比较低能够量带的放射线被波长变换构件变换成闪烁光，该闪烁光被配置在放射线的入射面侧的摄像元件检测，由此可以作为图像信号被检测。与此同时，透过了对象物的放射线当中比较高能量带的放射线透过波长变换构件和遮蔽构件而作为直接图像信号被放射线检测元件检测。此时，由于通过遮蔽构件防止闪烁光向放射线检测元件的入射，因此高能量带的图像信号中的S/N提高，并且由于闪烁光在波长变换构件的入射面侧被检测，因此还能够防止低能量带的图像信号中的图像模糊。其结果，由于分别取得在摄像元件被摄像的低能量带的放射线图像以及被放射线检测元件检测的高能量带的放射图像，因此通过对所取得的图像进行加法运算，能够取得放射线的检测信号的S/N遍及宽能量带良好的图像。另外，通过对所取得的图像进行差分，能够取得良好的能量减影（energysubtraction）图像。专利技术效果根据本专利技术，能够取得遍及宽能量带而模糊少的放射线检测图像。附图说明图1是本专利技术的优选的一个实施方式所涉及的放射线图像取得装置的正面图。图2是放大图1的放射线检测器来表示的正面图。图3是表示图1的放射线检测器的组装状态的正面图。图4是表示图1的放射线检测器的组装状态的正面图。图5是本专利技术的变形例的放射线检测器的正面图。图6是本专利技术的变形例的放射线图像取得装置的正面图。图7是本专利技术的变形例的放射线图像取得装置的正面图。符号说明：1…放射线图像取得装置，2…放射线源，4…光检测器（摄像元件），5…直接变换型检测器（放射线检测元件），6…波长变换板、波长变换膜（波长变换构件），7…遮光板、遮光膜（遮蔽构件），107…反射板、反射膜（遮蔽构件）。具体实施方式以下，一边参照附图一边就本专利技术所涉及的放射线检测器和使用该放射线检测器的放射线图像取得装置的优选实施方式进行详细说明。再有，在附图的说明中对相同或者相当的部分赋予相同符号，省略重复的说明。另外，各个图面是为了说明用而作成的，以特别强调说明的对象部位的方式进行描绘。因此，附图中的各构件的尺寸比例不一定与实物相一致。图1是表示本专利技术的优选的一个实施方式所涉及的放射线图像取得装置1的概略结构的正面图，图2是放大图1的放射线检测器3来表示的正面图，图3和图4是表示图1的放射线检测器3的组装状态的正面图。如图1所示，放射线图像取得装置1具备：放射线源2，朝向半导体器件等的电子部件和食品等对象物A出射X射线等放射线；放射线检测器3，检测从放射线源2出射并透过了对象物A的放射线；以及光检测器（摄像元件）4，对被放射线检测器3变换的光进行摄像。该放射线检测器3是直接检测入射的放射线并生成表示对象物A的检测图像的图像信号的直接变换方式的检测器，光检测器4是检测基于入射的放射线而变换的光并生成图像信号的CMOS传感器、CCD传感器等的间接变换方式的检测器。如图1和图2所示，放射线检测器3具备直接检测从放射线源2出射并透过了对象物A的放射线的直接变换型检测器（放射线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线检测器，其特征在于： 具备： 平面状的波长变换构件，响应于透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光； 直接变换型的放射线检测元件，直接检测透过了所述波长变换构件的所述放射线；以及 遮蔽构件，配置在所述波长变换构件与所述放射线检测元件之间，防止所述闪烁光向所述放射线检测元件的入射。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.01.25 JP 2011-0131911.一种放射线检测器，其特征在于：
具备：
平面状的波长变换构件，响应于透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；
直接变换型的放射线检测元件，直接检测透过了所述波长变换构件的所述放射线；以及
遮蔽构件，配置在所述波长变换构件与所述放射线检测元件之间，防止所述闪烁光向所述放射线检测元件的入射。
2.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于：
所述遮蔽构件是对所述闪烁光具有遮光性的平面状构件。
3.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于：
所述遮蔽构件是反射所述闪烁光的平面状反射构件。
4.如权利要求1～3中任一项所述的放射线检测器，其特征在于：
所述遮蔽构件阻断所述放射线当中的低能量带。
5.一种放射线图像取得装置，其特征在于：
具备：
放射线源，出射放射线；
平面状的波长变换构件，响应于从所述放射线源出射并透过了对象物的所述放射线的入射而产生闪烁光；
摄像元件，对从所述波长变换构件的所述放射线入射侧的面辐射的所述闪烁光进行摄像；
直接变换型的放射线检测元件，直接检测透过了所述波长变换构件的所述放射线；
遮蔽构件，配置在所述波长变换构件与所述放射线检测元件之间，防止所述闪烁光向所述放射线检测元件的入射。
6.如权利要求5所述的放射线图像取得装置，其特征在于：
所述遮蔽构件是对所述闪烁光具有遮光性的平面状构件。
7.如权利要求5所述的放射线图像取得装置，其特征在于：
所述遮蔽构件是反射所述闪烁光的平面状反射构件。
8.如权利要求5～7中任一项所述的放射线图像取得装置，其特征在于：
所述遮蔽构件阻断所述放射线当中的低能量带。
9.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于：
所述遮蔽构件和所述波长变换构件依照该顺序被蒸镀在所述放射线检测元件的检测面上。
10.如权利要求5所述的放射线图像取得装置，其特征在于：
所述遮蔽构件和所述波长变换构件依照该顺序被蒸镀在所述放射线检测元件的检测面上。
11.如权利要求1所述的放射线检测器...

【专利技术属性】
技术研发人员：须山敏康，杉山元胤，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：新型
国别省市：日本;JP