The present invention provides methods and apparatus for controlling the temperature of a multi zone heater in a process chamber. In some embodiments, a method of controlling a multi zone heater is provided, wherein the multi zone heater is disposed on the substrate support, wherein the multi zone heater has a first region and a second region. In some embodiments, the method comprises the following steps: measuring the current in the first time is the first region to obtain the voltage measurement; the first time was the first region to obtain the resistance; according to the current and voltage was obtained to measure the first area in the first time to calculate the first region to determine the first; the temperature according to a predetermined relationship between the resistance and the temperature of the first area; and adjust the first regional temperature in response to temperature determination.
【技术实现步骤摘要】
用于控制在处理腔室中的多区域加热器的温度的方法及装置本申请是申请日为2012年5月17日、申请号为201280023374.4、专利技术名称为“用于控制在处理腔室中的多区域加热器的温度的方法及装置”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术的实施方式大体涉及半导体处理以及,更特定而言,涉及用于控制在处理腔室内的多区域加热器的温度的方法与装置。
技术介绍
在半导体处理系统的处理腔室内,基板在被处理时通常由基板支撑件支撑。在许多这些系统中,在一或更多处理步骤期间,基板支撑件会被加热以提升基板温度。加热器通常为电阻丝(resistivewire)线圈或金属化层(metalizedlayer)。当电流被施加至该丝或该层时加热器产生热,产生的热以传导方式通过基板支撑件被传递至基板。在一些情形中,单区域加热器被用来加热基板。使用单区域加热器的缺点在于单区域加热器的中心通常比单区域加热器的外部边缘温度更高,这种情况会导致在基板上不均匀的材料沉积。多区域加热器能将更均匀的热提供至基板。然而,多区域加热器的缺点在于多区域加热器的温度难以测量与控制,且因此传递至基板的热量便难以测量与控制。例如,一个用以确定多区域加热器的外区域温度的方法是监控传送至加热器内区域的功率量,将此功率乘以实验上计算的功率比,然后将此功率施加在外区域。然而,此方法的准确度会受到在半导体处理系统的处理腔室内的处理条件改变的影响。因此专利技术人提供用于控制在处理腔室内的多区域加热器的温度的改进的方法与装置。
技术实现思路
在此提供用于控制在处理腔室内的多区域加热器的温度的方法与装置。在一些实施方式中,提供控制 ...
【技术保护点】
一种装置,所述装置包括:多区域加热器,所述多区域加热器配置于基板支撑件中;电源,所述电源提供第一功率馈送至所述多区域加热器的第一区域,且所述电源提供第二功率馈送至所述多区域加热器的第二区域;电阻测量器件,所述电阻测量器件耦合至所述第一功率馈送以测量所述第一区域获取的电流与电压,所述测量彼此间隔至多约110毫秒内;及控制器,所述控制器耦合至所述电源和所述电阻测量器件以响应从所述电阻测量器件接收的数据来控制所述电源,其中所述多区域加热器包括内区域与外区域,所述内区域与所述外区域分别对应于基板的中心部与外围部,所述基板由所述基板支撑件支撑,且其中所述外区域为所述多区域加热器的所述第一区域,且所述内区域为所述多区域加热器的所述第二区域,且其中热电偶被耦合至所述第二区域以测量所述第二区域的温度。
【技术特征摘要】
2011.05.20 US 13/113,0151.一种装置,所述装置包括:多区域加热器,所述多区域加热器配置于基板支撑件中;电源,所述电源提供第一功率馈送至所述多区域加热器的第一区域,且所述电源提供第二功率馈送至所述多区域加热器的第二区域;电阻测量器件,所述电阻测量器件耦合至所述第一功率馈送以测量所述第一区域获取的电流与电压,所述测量彼此间隔至多约110毫秒内;及控制器,所述控制器耦合至所述电源和所述电阻测量器件以响应从所述电阻测量器件接收的数据来控制所述电源,其中所述多区域加热器包括内区域与外区域,所述内区域与所述外区域分别对应于基板的中心部与外围部,所述基板由所述基板支撑件支撑,且其中所述外区域为所述多区域加热器的所述第一区域,且所述内区域为所述多区域加热器的所述第二区域,且其中热电偶被耦合至所述第二区域以测量所述第二区域的温度。2.如权利要求1所述的装置,其中所述电源为约190V至约240V的交流电源。3.如权利要求1至2中的任一项所述的装置,其中所述电阻测量器件包括霍尔效应电流传感器,所述霍尔效应电流传感器具有约200千赫兹或更高的采样速率。4.如权利要求1至2中的任一项所述的装置,其中所述电源为交流电源,且其中所述电阻测量器件能对所述电源的每周期获得多组被所述第一区域获取的电压与电流的测量值。5.如权利要求1至2中的任一项所述的装置,其中所述电源为交流电源,其中所述电阻测量器件能对所述电源的每周期获得至少256组被所述第一区域获取的电压与电流的测量值。6.如权利要求1至2中的任一项所述的装置,其中所述控制器能检测所述第一区域中电阻的16毫欧姆(milliohm)的变化。7.一种控制多区域加热器的方法,...
【专利技术属性】
技术研发人员:哈里·基肖尔·安巴拉,尤纬·保罗·哈勒,周建华,
申请(专利权)人:应用材料公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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