In order to solve the technical problem, the invention relates to a measuring device, in particular to production control equipment for measuring nanometer materials, can measure the structure size in the production control of nano materials, the guide screw form can ensure the accuracy of measurement, between the sliding block and the base is located in the installation of the installation. Block II, sensor sliding seat is connected with the sliding block, the intermediate fixed block is connected with a sliding block, the rotating seat is connected with the sliding block, the rotating seat is connected with the screw, the screw and the bearing 1 is connected with the screw rod and the nut is connected with screw bearing 2 connected; end cover connected with the mounting block first, the positioning plate and the sliding base is connected with the baffle plate and the sliding block is connected with the sliding block of retaining sleeve is connected with screw measuring base is connected with the screw sleeve 2 connected, tooth The bearing ring is connected with the installation block block II, and the bearing is located between the screw rod and the installation block block ii.
【技术实现步骤摘要】
一种测量纳米材料的生产控制设备
本专利技术涉及一种测量设备领域,更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备。
技术介绍
纳米材料是指在三维空间中至少有一维处于纳米尺寸(0.1-100nm)或由它们作为基本单元构成的材料,这大约相当于10~100个原子紧密排列在一起的尺度,传统的陶瓷材料中晶粒不易滑动,材料质脆,烧结温度高。纳米陶瓷的晶粒尺寸小,晶粒容易在其他晶粒上运动,因此,纳米陶瓷材料具有极高的强度和高韧性以及良好的延展性,这些特性使纳米陶瓷材料可在常温或次高温下进行冷加工。如果在次高温下将纳米陶瓷颗粒加工成形,然后做表面退火处理,就可以使纳米材料成为一种表面保持常规陶瓷材料的硬度和化学稳定性,而内部仍具有纳米材料的延展性的高性能陶瓷,纳米陶瓷的外形尺寸的测量,目前采用直尺直接测量,误差较大,所以设计一种测量纳米材料的生产控制设备。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种测量纳米材料的生产控制设备,可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸,采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度。为解决上述技术问题,本专利技术涉及一种测量设备领域,更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备,包括滑动底座、传感器滑动座、中间固定块、滑动块、转动座、丝杠、安装挡块Ⅰ、端盖、定位板、挡板、挡套Ⅰ、螺钉、测量底座、顶丝、挡套Ⅱ、安装挡块Ⅱ、齿轮、轴承挡环、轴承Ⅰ、垫圈、固定螺钉、定位螺钉、螺母和轴承Ⅱ,可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸,采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度。滑动块上设有三角底、通孔、滑槽、底板和固定口;转动座上设有螺纹孔;丝杠上设有螺纹段、丝杠段、轴承 ...
【技术保护点】
一种测量纳米材料的生产控制设备,包括滑动底座(1)、传感器滑动座(2)、中间固定块(3)、滑动块(4)、转动座(5)、丝杠(6)、安装挡块Ⅰ(7)、端盖(8)、定位板(9)、挡板(10)、挡套Ⅰ(11)、螺钉(12)、测量底座(13)、顶丝(14)、挡套Ⅱ(15)、安装挡块Ⅱ(16)、齿轮(17)、轴承挡环(18)、轴承Ⅰ(19)、垫圈(20)、固定螺钉(21)、定位螺钉(22)、螺母(23)和轴承Ⅱ(24),其特征在于:滑动块(4)上设有三角底(4‑1)、通孔(4‑2)、滑槽(4‑3)、底板(4‑4)和固定口(4‑5);转动座(5)上设有螺纹孔(5‑1);丝杠(6)上设有螺纹段(6‑1)、丝杠段(6‑2)、轴承配合段(6‑3)、齿轮配合段(6‑4)和键槽(6‑5);装挡块Ⅰ(7)上设有轴承孔(7‑1);测量底座(13)上设有边台(13‑1)和U型槽(13‑2);滑动底座(1)与安装挡块Ⅰ(7)相连接,滑动底座(1)与安装挡块Ⅱ(16)相连接,且滑动底座(1)位于安装挡块Ⅰ(7)与安装挡块Ⅱ(16)之间,传感器滑动座(2)与滑动块(4)相连接,中间固定块(3)与滑动块(4)相连接,转动 ...
【技术特征摘要】
1.一种测量纳米材料的生产控制设备,包括滑动底座(1)、传感器滑动座(2)、中间固定块(3)、滑动块(4)、转动座(5)、丝杠(6)、安装挡块Ⅰ(7)、端盖(8)、定位板(9)、挡板(10)、挡套Ⅰ(11)、螺钉(12)、测量底座(13)、顶丝(14)、挡套Ⅱ(15)、安装挡块Ⅱ(16)、齿轮(17)、轴承挡环(18)、轴承Ⅰ(19)、垫圈(20)、固定螺钉(21)、定位螺钉(22)、螺母(23)和轴承Ⅱ(24),其特征在于:滑动块(4)上设有三角底(4-1)、通孔(4-2)、滑槽(4-3)、底板(4-4)和固定口(4-5);转动座(5)上设有螺纹孔(5-1);丝杠(6)上设有螺纹段(6-1)、丝杠段(6-2)、轴承配合段(6-3)、齿轮配合段(6-4)和键槽(6-5);装挡块Ⅰ(7)上设有轴承孔(7-1);测量底座(13)上设有边台(13-1)和U型槽(13-2);滑动底座(1)与安装挡块Ⅰ(7)相连接,滑动底座(1)与安装挡块Ⅱ(16)相连接,且滑动底座(1)位于安装挡块Ⅰ(7)与安装挡块Ⅱ(16)之间,传感器滑动座(2)与滑动块(4)相连接,中间固定块(3)与滑动块(4)相连接,转动座(5)与滑动块(4)相连接,转动座(5)与丝杠(6)相连接,丝杠(6)与轴承Ⅰ(19)相连接,丝杠(6)与螺母(23)相连接,丝杠(6)与轴承Ⅱ(24)相连接;端盖(8)与安装挡块Ⅰ(7)相连接,定位板(9)与滑动底座(1)相连接,挡板(10)与滑动块(4)相连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔建勋,
申请(专利权)人:复朗施北京纳米科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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