修复有机电致发光器件亮点的方法、有机电致发光器件及其制备方法及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了修复有机电致发光器件亮点的方法、有机电致发光器件及其制备方法及显示装置，该修复有机电致发光器件亮点的方法为阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输。通过阻断亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输，可以有效阻断电流流向亮点对应的子像素单元中的有机功能层，从而使得该子像素单元不会发光，进而将亮点转换为暗点，有效提高了有机电致发光器件的显示效果和品质。

【技术实现步骤摘要】
修复有机电致发光器件亮点的方法、有机电致发光器件及其制备方法及显示装置
本专利技术涉及显示
，具体的，涉及修复有机电致发光器件亮点的方法、有机电致发光器件及其制备方法及显示装置。
技术介绍
在OLED(有机电致发光器件)生产过程中，亮点不良一直是制约OLED产品良率的一个关键因素。在OLED生产过程中，亮点不良是一个因工艺，环境等因素，发生率极高的一种不良，亮点的存在，直接降低了产品的等级，超过一定数量时，显示面板将直接被报废，浪费人力物力的同时，也提高了成本。因而，目前亮点不良仍亟需改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种有效修复有机电致发光器件亮点的方法。在本专利技术的一个方面，本专利技术提供了一种修复有机电致发光器件亮点的方法。根据本专利技术的实施例，该方法为阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输。专利技术人发现，通过阻断亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输，可以有效阻断电流流向亮点对应的子像素单元中的有机功能层，从而使得该子像素单元不会发光，进而将亮点转换为暗点，有效提高了有机电致发光器件的显示效果和品质。根据本专利技术的实施例，阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输是通过使所述亮点对应的子像素单元中第一电极和有机功能层之间绝缘实现的。根据本专利技术的实施例，该方法包括：确定基底上所述亮点对应的子像素单元的坐标，其中，所述基底包括衬底和设置在所述衬底一侧的第一电极；在所述坐标对应的位置形成绝缘层，所述绝缘层覆盖所述第一电极。根据本专利技术的实施例，所述亮点对应的子像素单元的坐标是通过自动光学检测确定的。根据本专利技术的实施例，形成所述绝缘层的材料包括聚酰亚胺。在本专利技术的另一方面，本专利技术提供了一种制备有机电致发光器件的方法。根据本专利技术的实施例，该方法包括通过前面所述的方法对亮点进行修复的步骤。专利技术人发现，通过该方法制备获得的有机电致发光器件亮点不良的数量显著减少，显示效果和品质明显提高，质检等级明显提高。根据本专利技术的实施例，该制备有机电致发光器件的方法包括：在衬底上形成第一电极，得到基底；确定所述基底上亮点对应的子像素单元的坐标；在所述坐标对应的位置形成绝缘层，所述绝缘层覆盖所述第一电极；在所述第一电极和所述绝缘层远离所述衬底的一侧依次形成有机功能层和第二电极。在本专利技术的再一方面，本专利技术提供了一种有机电致发光器件。根据本专利技术的实施例，该有机电致发光器件是通过前面所述的方法制备的。专利技术人发现，该有机电致发光器件亮点不良的数量显著减少，显示效果和品质明显提高，质检等级明显提高。在本专利技术的又一方面，本专利技术提供了一种有机电致发光器件。根据本专利技术的实施例，该有机电致发光器件包括：第一电极；第二电极，所述第二电极与所述第一电极相对设置；有机功能层，所述有机功能层设置于所述第一电极和所述第二电极之间；其中，与亮点对应的子像素单元中，所述第一电极和所述有机功能层之间还设置有绝缘层。在本专利技术的又一方面，本专利技术提供了一种显示装置。根据本专利技术的实施例，该显示装置包括前面所述的有机电致发光显示器件。专利技术人发现，该显示装置出现亮点不良的可能性大大降低，显示效果和品质明显改善。附图说明图1显示了根据本专利技术一个实施例的基底的结构示意图。图2显示了根据本专利技术一个实施例的修复有机电致发光器件亮点的方法的流程示意图。图3A至图3C显示了根据本专利技术一个实施例的形成绝缘层的流程示意图。图4显示了根据本专利技术一个实施例的制备有机电致发光器件的方法的流程示意图。图5显示了根据本专利技术一个实施例的有机电致发光器件的结构示意图。图6显示了根据本专利技术另一个实施例的有机电致发光器件的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例。下面描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。实施例中未注明具体技术或条件的，按照本领域内的文献所描述的技术或条件或者按照产品说明书进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可以通过市购获得的常规产品。在本专利技术的一个方面，本专利技术提供了一种修复有机电致发光器件亮点的方法。根据本专利技术的实施例，该方法为阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输。专利技术人发现，通过阻断亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输，可以有效阻断电流流向亮点对应的子像素单元中的有机功能层，从而使得该子像素单元不会发光，进而将亮点转换为暗点，有效提高了有机电致发光器件的显示效果和品质。需要说明的是，本专利技术中所采用的术语“亮点”是指有机电致发光器件中一直点亮的子像素点或像素点。根据本专利技术的实施例，阻断亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输的具体方式没有特别限制，只要使得电流不会通过该子像素单元中的有机功能层，使其不会发光即可。在本专利技术的一些实施例中，采用的方式可以为在空穴或电子的传输通路上的任意部分形成绝缘部件，使得电流不会流向有机功能层，从而使得子像素单元不会发光。在本专利技术的一些具体示例中，阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输是通过使所述亮点对应的子像素单元中第一电极和有机功能层之间绝缘实现的。由此，可以有效阻断空穴的传输，使得有机功能层不会发光，进而该子像素单元由亮点变为暗点，有机电致发光器件的等级明显提高，显示效果显著改善。根据本专利技术的实施例，上述第一电极是指能够为有机功能层提供施加电压的电极之一，可以为阴极也可以为阳极。在本专利技术的一些实施例中，第一电极可以为阳极。根据本专利技术的实施例，参照图2，该修复有机电致发光器件亮点的方法可以包括以下步骤：S100：确定基底上所述亮点对应的子像素单元的坐标，其中，所述基底包括衬底和设置在所述衬底一侧的第一电极。根据本专利技术的实施例，可以采用的衬底的具体种类不受特别限制，本领域技术人员可以根据需要灵活选择，例如包括但不限于玻璃衬底、聚合物衬底、陶瓷衬底或金属衬底等。根据本专利技术的实施例，形成第一电极的材料也没有特别限制，只要能够满足导电需要，保证有机电致发光器件的正常工作即可。在本专利技术的一些实施例中，形成第一电极的材料包括但不限于透明导电氧化物如氧化铟锡、氧化锌锡、氧化铟锌、铝掺杂氧化锌等，石墨烯、碳管等。由此，具有较好的导电性能，显示效果更佳。另外，本领域技术人员可以理解，第一电极在衬底上是阵列排布的，对应多个子像素单元，即每个子像素单元对应一个第一电极，在此不再过多赘述。具体的，图1示出了存在亮点不良的基底的结构示意图，包括衬底100和第一电极10，其中，圈出的位置为亮点对应的子像素单元。当然，本领域技术人员可以理解，衬底上第一电极的分布方式并不限于图1所示的情形，只要满足有机电致发光器件的显示要求即可。根据本专利技术的实施例，造成像素亮点不良的因素通常为短路、少锡、缺件等，而自动光学检测(AOI检测)是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。检测过程是当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描基底，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出基底上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，AOI检测覆盖以下缺陷或不良：锡膏印刷：有无、偏移、少锡、多锡、断路、连锡、污染等，零件缺陷：缺件、偏移、歪斜、立碑、侧立、翻件、错件，OCV、破损、电容极性反向等，波峰焊后和炉后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种修复有机电致发光器件亮点的方法，其特征在于，阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输。

【技术特征摘要】
1.一种修复有机电致发光器件亮点的方法，其特征在于，阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，阻断所述亮点对应的子像素单元中的空穴或电子传输是通过使所述亮点对应的子像素单元中第一电极和有机功能层之间绝缘实现的。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，包括：确定基底上所述亮点对应的子像素单元的坐标，其中，所述基底包括衬底和设置在所述衬底一侧的第一电极；在所述坐标对应的位置形成绝缘层，所述绝缘层覆盖所述第一电极。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述亮点对应的子像素单元的坐标是通过自动光学检测确定的。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，形成所述绝缘层的材料包括聚酰亚胺。6.一种制备有机电致发光器件的方法，其特征在于，包括通过权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：马群，王铁，敖宁，王建强，修海志，许瑾，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11