The present invention provides a substrate processing method that removes the protrusion while controlling the shape of an resist thick film. Wafer processing method (W) includes: a first step, on the surface of the wafer (W) (Wa) coating solution is supplied and forming a coating film; second steps from the nozzle (46) discharged from the organic solvent and supply it to the coating film of the periphery part of the peripheral part is convex convex part. Dissolved to the uniform and the coating film among other parts of the same degree of thickness; third steps of heating the coating film in second steps, forming a cured film by coating film solidify; and fourth steps from the nozzle (46) discharged from the organic solvent and the supply to the cured film. The edge of the periphery, and the dissolved from the substrate is removed.
【技术实现步骤摘要】
基板处理方法和基板处理装置
本专利技术涉及基板处理方法、基板处理装置和计算机可读取的存储介质。
技术介绍
近年,在制造MEMS(MicroElectroMechanicalSystems)等时,为了立体地对基板进行加工,有时在基板的表面形成例如5μm~60μm程度的膜厚的较厚的抗蚀剂膜(抗蚀剂厚膜)。作为抗蚀剂厚膜的材料,例如能够使用粘度高且在基板表面难以流动的涂敷液(例如聚酰亚胺)。将这样的粘度高的涂敷液滴下到基板的表面并进行旋涂时,在基板的周缘部产生凸状的突起(即凸起)而抗蚀剂厚膜变得特别厚,抗蚀剂厚膜的面内均匀性降低。因此,专利文献1公开一种基板处理方法,包括:在基板的表面滴下涂敷液而形成抗蚀剂厚膜;对抗蚀剂厚膜加热使其固化;和对固化了的抗蚀剂厚膜(固化膜)的周缘部供给有机溶剂来除去该周缘部。由于在对抗蚀剂厚膜加热使其固化时抗蚀剂厚膜内的溶剂挥发,所以固化膜对于有机溶剂的溶解性比固化前高。因此,能够容易将成为面内均匀性的降低的重要原因的抗蚀剂厚膜的周缘部与凸起一起除去。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平11-333355号公报
技术实现思路
专利技术想要解决的技术问题但是,由于抗蚀剂厚膜的周缘部的膜厚特别厚,所以利用有机溶剂难以仅将抗蚀剂厚膜的周缘部除去。因此,除去周缘部后的抗蚀剂厚膜的端面可能破坏,难以控制抗蚀剂厚膜的形状。因此,本公开说明能够一边控制抗蚀剂厚膜的形状一边除去凸起的基板处理方法、基板处理装置和计算机可读取的存储介质。用于解决技术问题的技术方案本公开的一个观点的基板处理方法包括:第一步骤,对基板的表面供给涂敷液而形成涂敷膜;第二步 ...
【技术保护点】
一种基板处理方法,其特征在于,包括:第一步骤,对基板的表面供给涂敷液而形成涂敷膜;第二步骤,从第一喷嘴排出第一有机溶剂并将其供给到所述涂敷膜的周缘部,将该周缘部之中呈凸状突起的凸起部溶解而使其均匀成与所述涂敷膜之中其他的部分相同程度的厚度;第三步骤,在所述第二步骤之后对所述涂敷膜进行加热,形成由所述涂敷膜固化而成的固化膜;和第四步骤,从第二喷嘴排出第二有机溶剂并将其供给到所述固化膜的周缘部,将该周缘部溶解从而将其从所述基板上除去。
【技术特征摘要】
2016.02.03 JP 2016-0189851.一种基板处理方法,其特征在于,包括:第一步骤,对基板的表面供给涂敷液而形成涂敷膜;第二步骤,从第一喷嘴排出第一有机溶剂并将其供给到所述涂敷膜的周缘部,将该周缘部之中呈凸状突起的凸起部溶解而使其均匀成与所述涂敷膜之中其他的部分相同程度的厚度;第三步骤,在所述第二步骤之后对所述涂敷膜进行加热,形成由所述涂敷膜固化而成的固化膜;和第四步骤,从第二喷嘴排出第二有机溶剂并将其供给到所述固化膜的周缘部,将该周缘部溶解从而将其从所述基板上除去。2.如权利要求1所述的基板处理方法,其特征在于:所述第一有机溶剂对所述涂敷膜和所述固化膜的构成成分的溶解性,与所述第二有机溶剂对所述涂敷膜和所述固化膜的构成成分的溶解性相同或者比其高。3.如权利要求1或者2所述的基板处理方法,其特征在于:在所述第四步骤中,在使所述第二喷嘴的排出口相对于所述基板的表面铅垂向下的状态下从所述第二喷嘴排出所述第二有机溶剂,或者,在使所述第二喷嘴的排出口从所述基板的中心部向所述周缘部朝斜下方倾斜的状态下从所述第二喷嘴排出所述第二有机溶剂。4.如权利要求1~3中任一项所述的基板处理方法,其特征在于:所述第二步骤中包括:一边从所述第一喷嘴排出所述第一有机溶剂,一边使所述第一喷嘴以第一速度从所述基板的周缘向比该周缘靠中心部侧的位置移动的步骤;和一边从所述第一喷嘴排出所述第一有机溶剂,一边使所述第一喷嘴以比所述第一速度慢的第二速度从所述位置向所述基板的周缘移动的步骤。5.一种基板处理装置,其特征在于,包括:对基板的表面供给涂敷液的涂敷液供给部;对所述基板的表面供给第一有机溶剂和第二有机溶剂的溶剂供给部;...
【专利技术属性】
技术研发人员:佐藤好友,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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