输入装置以及电子设备制造方法及图纸

技术编号:15894744 阅读:30 留言:0更新日期:2017-07-28 19:32
本发明专利技术涉及一种输入装置,该输入装置具备:向某一方向位移的键;第1检测电路,具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部;以及第2检测电路,具有第1电极,并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

Input device and electronic device

The present invention relates to an input device, the input device comprises a displacement in one direction keys; first detection circuit with capacitance change caused by pressing the button on the body to contact or close to the capacitance detection; and second detection circuit has a first electrode electrical connection among them, the second and the first electrodes and the displacement detection and the key to the above together in a direction displacement, according to the displacement of the key, the exclusive switch by the first detection circuit first detection and at the same time these second detection circuit and is not detected by the second detection circuit and at the same time the first detection circuit does not detect second state detection.

【技术实现步骤摘要】
输入装置以及电子设备本申请基于2015年12月18日申请的特愿2015-247182号、2016年9月30日申请的特愿2016-192554号、2016年10月28日申请的特愿2016-211534号各日本专利申请来主张优先权,将这些申请的全部内容引入到本专利技术中。
本专利技术涉及输入装置以及电子设备。
技术介绍
以往公知有例如日本特开2010-74689号公报那样具备输入装置的电子设备,其中,所述输入装置具有:检测正被触碰的键的第1检测单元、和对被进行了使状态变位的操作的键加以检测的第2检测单元。在以往的电子设备的输入装置中,在键的触摸操作时当然进行通过第1检测单元对触摸操作的检测,即便是键的按下操作时(参照专利文献1的图3(C)),也进行了通过第1检测单元对触摸操作的检测。即,需要在键向其按下方向位移的期间,也能够检测因对键的触摸操作而产生的静电电容的变化的构成。由此,设计能够检测对各键的触摸操作和按下操作双方的输入装置时的自由度受到限制。
技术实现思路
本专利技术鉴于上述课题而提出,其目的在于,提供一种输入装置,该输入装置具备:向某一方向位移的键;第1检测电路,具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部;以及第2检测电路,具有第1电极,并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。另外,本专利技术还提供一种电子设备,具备输入装置和控制部,上述输入装置具备:向某一方向位移的键;第1检测电路,具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部;以及第2检测电路,具有第1电极,并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态,上述控制部根据上述第1检测电路以及上述第2检测电路的检测结果来执行至少一个功能。附图说明其中,附图中的各部件不一定相互成比例。图1是表示本专利技术的实施方式涉及的作为输入装置的电子计算器10的俯视图。图2是表示本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的输入部11的数值键110的图,(A)是数值键110的俯视图,(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图,(C)是表示数值键110的键结构的触击操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。图3是表示本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的触摸检测片120上的导电图案的透视俯视图。图4是本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的框图。图5是表示使用了本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的输入操作检测处理的流程图。图6是表示本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的存储部400中存储的触摸输入图案的数据结构。图7是表示使用了本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的用户操作的一个例子的图。图8是表示本专利技术的第1变形例涉及的电子计算器10A的触摸检测片120上的导电图案的透视俯视图。图9是本专利技术的第2变形例涉及的电子计算器10B的与Ⅱ-Ⅱ剖视图相当的剖视图,(A)是数值键110的俯视图,(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。具体实施方式首先,使用图1~图7对本专利技术的实施方式进行说明。图1是表示本专利技术的实施方式涉及的作为输入装置的电子计算器10的俯视图。图2是表示本专利技术的实施方式涉及的电子计算器10的输入部11的数值键110的图,(A)是数值键110的俯视图,(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时(第1检测状态)的Ⅱ-Ⅱ剖视图,(C)是表示数值键110的键结构的触击操作检测时(第2检测状态)的Ⅱ-Ⅱ剖视图。如图1所示,电子计算器10具备输入部11、显示部12、太阳能电池面板13。输入部11具备全部清除键[AC]、清除当前输入键[C]、正负切换键[+/-]、数字键[0]~[9]、运算键[+][-][×][÷][=]等键。每一个键都是构成为能够向某一方向(与纸面正交的方向)位移,并能够检测其触击的触击键。数字键[0]~[9]中的9个数值键[1]~[9]110、110…被配置为3×3的行列状。另外,这些数值键[1]~[9]110、110…不仅作为按键(strokekey)发挥功能,还作为触摸键发挥功能。输入部11的键结构如在图2(B)、(C)中表示了剖面那样,具备数值键110、触摸检测片120、键施力片130、和基板140。数值键110由导电性金属等具有导电性的材料构成,如图2(A)所示,俯视下在中央部具备键顶部111,并在其周边部以包围键顶部111的四方的形式具备ロ字状的凸缘部112。另外,在键顶部111的上表面印刷有该数值键所固有的数字。在图2(A)中,表示了数值键[9]110来进行说明,但任意的数值键[1]110~[8]110除了向键顶部111的印刷内容之外都相同。以下,在本说明书中有时将“数值键[1]~[9]110、110…”的每一个单独表现为“数值键110”。触摸检测片120具备:绝缘片121,设有供各数值键110分别插入的多个孔121h、121h…;和导电图案(参照图3),包括2个触摸检测电极122R、122L、与各触摸检测电极122R、122L连接的布线123R、123L,2个触摸检测电极122R、122L至少形成在绝缘片121的下表面的、各孔121h的周边部且与ロ字状的凸缘部112的对置的2条边相对应的各位置。键施力片130由橡胶等弹性部件构成,具备整体俯视为近似矩形状的基部131、和该近似矩形状中的与各数值键110重合地配置的部分成为向上方(相对于键施力片130、配置各数值键110的一侧)隆起的形状的键上推部132。键上推部132具备:配置在数值键110的正下方的抵接部133、和伴随着数值键110的触击操作而变形来产生将抵接部133以及数值键110向上施力的弹性回弹力的裙状部134。在抵接部133的下表面(与基板140的上表面相对的面)设置有对置电极135。基板140具备绝缘性的基部141和形成在基部141上表面的电极、布线、电子部件等,尤其在基部141上表面中的与键施力片130的各对置电极135相对的部分设置有触击检测电极(第1电极)142。参照图2(B)、(C),对触摸操作检测时和触击操作检测时的各键结构简单地进行说明。如图2(B)所示,在不进行数值键110的触击操作的状态下,检测触摸操作。在该状态下,键施力片130基于其材质所具有的弹性回弹力而保持其本身原来的形状。由此,键上推部132的抵接部133的上表面与数值键110的下表面抵接(推压下表面)来对其进行支承,并且使凸缘部112的对置的2条边的上表面与触摸检测片120的触摸检测电极122R、122L抵接。键顶部111经由凸缘部112和触摸检测电极122R,与触摸检测电路(第1检测电路)211(参照图4)所具备的静电电容检测部的一个连接,并且经由凸缘部112和触摸检测电极122L,与触本文档来自技高网...
输入装置以及电子设备

【技术保护点】
一种输入装置,具备:向某一方向位移的键;第1检测电路,具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部;以及第2检测电路,具有第1电极,并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

【技术特征摘要】
2015.12.18 JP 2015-247182;2016.09.30 JP 2016-192551.一种输入装置,具备:向某一方向位移的键;第1检测电路,具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部;以及第2检测电路,具有第1电极,并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。2.根据权利要求1所述的输入装置,其中,根据上述键的位移量,以排他的方式切换上述第1检测状态和上述第1检测电路以及上述第2检测电路都不检测的中间状态,并且以排他的方式切换上述中间状态和上述第2检测状态。3.根据权利要求1所述的输入装置,其中,上述键具备通过上述按压体而从上述输入装置的外部接触或者接近的导电性的第1导电部、和具有与该第1导电部电连接的导电性的第2导电部的凸缘,上述输入装置还具备:面板,设有供上述键从背面侧嵌入的孔;和第3导电部,设置于上述面板的背面,并且在上述第1检测状态下,通过上述凸缘与该第3导电部电连接而经由该第3导电部使得上述按压体和上述第1检测电路的上述静电电容检测部电连接。4.根据权利要求3所述的输入装置,其中,上述键还具备设置于该键的表面的绝缘层,在上述按压体与上述绝缘层接触的状态下,该按压体与上述第1导电部隔着上述绝缘层而接近。5.根据权利要求3所述的输入装置,其中,上述多个键以平面的方式沿行列方向排列,上述第1检测电路具备:行位置检测部,构成为:上述多个键中的、沿行方向排列的两个以上的第1键包括两个以上的一对导电部,一对导电部包含一方导电部,两个以上的一方导电部相互并联连接;和列位置检测部,构成为:上述多个键中的、沿列方向排列的两个以上的第2键包括2个以上的一对导电部,一对导电部包含一方导电部,两个以上的一方导电部相互并联连接,上述第1检测电路基于由上述行位置检测部检测出的行位置、和由上述列位置检测部检测出的列位置,来确定上述多个键中的、通过上述按压体而接触或者接近的上述键。6.根据权利要求5所述的输入装置,其中,上述面板设置有供上述键嵌入的孔,上述第3导电部具备设在上述孔的周边且相互分离的一对导电部,上述第1检测电路的上述静电电容检测部具备相互不同的第1静电电容检测部和第2静电电容检测部,上述一对导电部的一方导电部与上述第1静电电...

【专利技术属性】
技术研发人员:大平启喜松本良尚
申请(专利权)人:卡西欧计算机株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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