试验装置的装配结构制造方法及图纸

技术编号:15873905 阅读:44 留言:0更新日期:2017-07-25 12:34
一种试验装置的装配结构,其包括设置在壳体顶端的操作部,设置在壳体内的检测机构、线路板和试验回路;所述操作部上设有容纳测试机构的测试腔,所述测试机构包括测试弹簧、导电片和设有推杆的测试按钮,导电片包括相对设置的第一导电片和第二导电片,第一导电片、第二导电片和线路板均接入穿过检测机构的实验回路中;测试弹簧套在推杆上,测试腔内设有与测试弹簧配合的弹簧板,弹簧板上设有让推杆穿过的测试槽以及对测试弹簧限位的弹簧槽,测试槽设置在弹簧槽内与弹簧槽中构成对测试弹簧限位的台阶面c,测试按钮的推杆穿过测试槽与第二导电片对应设置,按压测试按钮使推杆推动第二导电片产生弹性形变与第一导电片接触以导通试验回路。

Assembly structure of test device

The assembly structure of a test device, which includes the operating part is arranged at the top end of the shell, is arranged in the shell, the detection mechanism of circuit board and test circuit; the operating part is provided with a test chamber accommodates a test mechanism, the test mechanism comprises a test spring, a conductive sheet and a test button push rod, conductive film includes a first conductive film and second conductive plates are relatively arranged, experimental loop first conductive piece, second conductive film and the circuit board are connected through the detection mechanism; spring is sheathed on the push rod test, test and test cavity is provided with a spring plate spring, spring plate is provided with a groove and a push rod through the test of spring slot spring test limit, test groove is arranged on the spring groove and the spring groove of testing spring limiting step surface C, putting the test button through the test slot and the second guide An electric sheet is correspondingly arranged to press the test button to push the push rod to generate an elastic deformation of the second conducting piece and contact the first conductive piece to conduct the test circuit.

【技术实现步骤摘要】
试验装置的装配结构
本技术涉及低压电器领域,涉及一种开关电器,特别是涉及一种试验装置的装配结构。
技术介绍
现有试验装置的内部布局不合理,连线繁琐,占用体积大,而且装配效率低、可靠性差。如试验按钮通常采用弹簧进行复位,弹簧在压缩与释放过程中的运动方向不受限制,运动的幅度也与操作者用力大小、方向相关,为保证试验按钮在运动过程中运动方向的一致性,减小运动的幅度,需要对其可能的运动方向进行适当限制,避免弹簧在运动过程中与其他件造成干涉、影响试验按钮的操作。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种结构简单、可靠性高的试验装置的装配结构。为实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种试验装置的装配结构,其包括设置在壳体顶端的操作部2,设置在壳体内的检测机构112、线路板113和试验回路;所述操作部2上设有容纳测试机构20的测试腔3,所述测试机构20包括测试弹簧202、导电片204和设有推杆205的测试按钮201,导电片204包括相对设置的第一导电片2041和第二导电片2042,第一导电片2041、第二导电片2042和线路板113均接入穿过检测机构112的实验回路中;测试弹簧202套在推杆205上,测试腔3内设有与测试弹簧202配合的弹簧板31,弹簧板31上设有让推杆205穿过的测试槽311以及对测试弹簧202限位的弹簧槽312,测试槽311设置在弹簧槽312内与弹簧槽312中构成对测试弹簧202限位的台阶面312c,测试按钮201的推杆205穿过测试槽311与第二导电片2042对应设置,按压测试按钮201使推杆205推动第二导电片2042产生弹性形变与第一导电片2041接触以导通试验回路。可选的,所述检测机构112为零序电流互感器,测试机构20设置在壳体上部,零序电流互感器设置在壳体下部中间,线路板113设置在壳体下部一侧;第一导电片2041与穿过零序电流互感器的导线连接,第二导电片2042与线路板113电连接。可选的,所述弹簧槽312截面呈“U”字形结构,其包括两个相对且平行设置的平侧壁312a和连接于两侧壁312a之间的弯侧壁312b,弯侧壁312b为与测试弹簧202端部结构相配合的弧面结构。可选的,所述第二导电片2042固定在测试腔3中,第一导电片2041一端固定在测试腔3中,另一端倾斜伸至第二导电片2042的一侧与推杆205配合,所述测试腔3中设有用于固定第一导电片2041和第二导电片2042的固定块32,固定块32设置在第一导电片2041和第二导电片2042之间,将第一导电片2041和第二导电片2042接入试验回路的一端固定在测试腔3的侧壁上,第一导电片3的另一端与测试腔3内的卡槽34固定,第二导电片2042的另一端倾斜延伸至推杆205的一侧与第一导电片2041配合。可选的,所述第一导电片2041连接试验回路的一端为“L”字形结构,在固定块32的一侧设有固定板35,固定板35的一端与固定块32之间形成“L”字形槽对该端进行固定。可选的,所述第二导电片2042包括连接试验回路的“L”字形结构的第二连接部2042a和与第一导电片2041配合的第二接触部2042b,在固定块32的一侧设有固定板35,固定板35的一端对第二连接部2042a进行固定,测试腔3内设有对第二接触部2042b进行固定的第二固定块33,第二固定块33设置在第二导电片2042背离固定块32的一侧与弹簧板13连接。可选的,本技术的试验装置的装配结构还包括设置在壳体上部用于容纳指示机构40的指示腔4和容纳电磁脱扣机构50的脱扣腔5,脱扣腔5设置在测试腔3与指示腔4之间,指示机构40包括指示件401和与电磁脱扣机构50配合的传动杆402,指示腔4中设有与指示件4的复位弹簧配合的指示板41和操作孔42。可选的,本技术的试验装置的装配结构还包括接入试验回路的第二断点,指示机构40用于控制第二断点,指示件401闭合第二断点时被锁定机构锁定,所述锁定机构包括漏电时触发脱扣动作的电磁脱扣机构50,按下测试按钮201闭合导电片204导通试验回路后,电磁脱扣机构50动作触发脱扣并使锁定机构与指示件401解锁,使试验回路断开。可选的,所述锁定机构还包括与电磁脱扣机构50配合的传动杆402,传动杆402上设有与指示件401配合的锁定部,电磁脱扣机构50通过传动杆402实现对指示件401的锁定和解锁。可选的,本技术的试验装置的装配结构还包括用于容纳指示机构40的指示腔4和容纳电磁脱扣机构50的脱扣腔5,脱扣腔5设置在测试腔3与指示腔4之间,指示腔4中设有与指示件4配合的指示板41和操作孔42。本技术的试验装置的装配结构布局合理,体积紧凑、便于装配、互不干涉、可靠性高,而且通过测试槽与弹簧槽形成对测试弹簧进行限位的台阶面,不仅可以使测试机构在装配时便于定位,提高装配效率,还可以使测试按钮在使用时更可靠。而且,通过第一导电片和第二导电片导通和闭合测试回路,不仅可以降低生产成本,而且可以快速的闭合或断开测试回路,更加安全可靠。附图说明图1是本技术试验装置的装配结构的结构示意图;图2是图1的局部放大图;图3是本技术试验装置的装配结构的结构示意图;图4是图2的局部放大图。具体实施方式以下结合附图1至4给出的实施例,进一步说明本技术的试验装置的装配结构的具体实施方式。本技术的试验装置的装配结构不限于以下实施例的描述。如图1所示,本技术的实验装置的装配结构包括底座,底座包括本体11和设置在本体11顶端的操作部2,本体11用于容纳接线机构111、检测机构112和线路板113,操作部2两端分别设有用于容纳测试机构20的测试腔3和容纳指示机构40的指示腔4,测试腔3和指示腔4之间设有容纳电磁脱扣机构50的脱扣腔5,底座1可与隔板或罩壳盖合以组成试验装置的壳体。所述测试机构20包括测试弹簧202、导电片204和设有推杆205的测试按钮201,测试弹簧202套在推杆205上,测试腔3内设有与测试弹簧202配合的弹簧板31,测试弹簧202一端与弹簧板31相抵,另一端与测试按钮201相抵,弹簧板31上设有让推杆205穿过的测试槽311,测试按钮201的一端伸出壳体外供用户操作,另一端设有推杆205,按压测试按钮201可以带动推杆205驱使导电片204闭合试验回路,试验回路闭合后可以模拟出测试信号,所述弹簧板31上设有对测试弹簧202限位的弹簧槽312,测试槽311设置在弹簧槽312内与弹簧槽312中构成台阶面312c,测试弹簧202的端部的端面抵在台阶面312c上,端部的侧面与弹簧槽312的侧壁配合对测试弹簧202进行限位,不仅可以使测试机构在装配时便于定位,提高装配效率,还可以使测试按钮在使用时更可靠。本技术的试验装置的装配结构用于漏电检测,可以用在断路器等低压开关中,也可以用在漏电脱扣器等模块中。进一步的,所述弹簧槽312截面呈“U”字形结构,其包括两个相对且平行设置的平侧壁312a和连接于两侧壁312a之间的弯侧壁312b,弯侧壁312b为与测试弹簧202端部结构相配合的弧面结构,弹簧槽312在弯侧壁312b相对的一侧敞开,与试验装置的隔板或罩壳配合。所述测试槽311与弹簧槽312的结构是相配合的,测试槽本文档来自技高网...
试验装置的装配结构

【技术保护点】
一种试验装置的装配结构,其特征在于:包括设置在壳体顶端的操作部(2),设置在壳体内的检测机构(112)、线路板(113)和试验回路;所述操作部(2)上设有容纳测试机构(20)的测试腔(3),所述测试机构(20)包括测试弹簧(202)、导电片(204)和设有推杆(205)的测试按钮(201),导电片(204)包括相对设置的第一导电片(2041)和第二导电片(2042),第一导电片(2041)、第二导电片(2042)和线路板(113)均接入穿过检测机构(112)的实验回路中;测试弹簧(202)套在推杆(205)上,测试腔(3)内设有与测试弹簧(202)配合的弹簧板(31),弹簧板(31)上设有让推杆(205)穿过的测试槽(311)以及对测试弹簧(202)限位的弹簧槽(312),测试槽(311)设置在弹簧槽(312)内与弹簧槽(312)中构成对测试弹簧(202)限位的台阶面(312c),测试按钮(201)的推杆(205)穿过测试槽(311)与第二导电片(2042)对应设置,按压测试按钮(201)使推杆(205)推动第二导电片(2042)产生弹性形变与第一导电片(2041)接触以导通试验回路。

【技术特征摘要】
1.一种试验装置的装配结构,其特征在于:包括设置在壳体顶端的操作部(2),设置在壳体内的检测机构(112)、线路板(113)和试验回路;所述操作部(2)上设有容纳测试机构(20)的测试腔(3),所述测试机构(20)包括测试弹簧(202)、导电片(204)和设有推杆(205)的测试按钮(201),导电片(204)包括相对设置的第一导电片(2041)和第二导电片(2042),第一导电片(2041)、第二导电片(2042)和线路板(113)均接入穿过检测机构(112)的实验回路中;测试弹簧(202)套在推杆(205)上,测试腔(3)内设有与测试弹簧(202)配合的弹簧板(31),弹簧板(31)上设有让推杆(205)穿过的测试槽(311)以及对测试弹簧(202)限位的弹簧槽(312),测试槽(311)设置在弹簧槽(312)内与弹簧槽(312)中构成对测试弹簧(202)限位的台阶面(312c),测试按钮(201)的推杆(205)穿过测试槽(311)与第二导电片(2042)对应设置,按压测试按钮(201)使推杆(205)推动第二导电片(2042)产生弹性形变与第一导电片(2041)接触以导通试验回路。2.根据权利要求1所述的试验装置的装配结构,其特征在于:所述检测机构(112)为零序电流互感器,测试机构(20)设置在壳体上部,零序电流互感器设置在壳体下部中间,线路板(113)设置在壳体下部一侧;第一导电片(2041)与穿过零序电流互感器的导线连接,第二导电片(2042)与线路板(113)电连接。3.根据权利要求1所述的试验装置的装配结构,其特征在于:所述弹簧槽(312)截面呈“U”字形结构,其包括两个相对且平行设置的平侧壁(312a)和连接于两侧壁(312a)之间的弯侧壁(312b),弯侧壁(312b)为与测试弹簧(202)端部结构相配合的弧面结构。4.根据权利要求1所述的试验装置的装配结构,其特征在于:所述第二导电片(2042)固定在测试腔(3)中,第一导电片(2041)一端固定在测试腔(3)中,另一端倾斜伸至第二导电片(2042)的一侧与推杆(205)配合,所述测试腔(3)中设有用于固定第一导电片(2041)和第二导电片(2042)的固定块(32),固定块(32)设置在第一导电片(2041)和第二导电片(2042)之间,将第一导电片(2041)和第二导电片(2042)接入试验回路的一端固定在测试腔(3)的侧壁上,第一导电片(2041)的另一端与测...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱俊孙经伟李杰
申请(专利权)人:浙江正泰电器股份有限公司
类型:新型
国别省市:浙江,33

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