感测数据校正器、OLED装置和补偿OLED装置的图像质量的方法制造方法及图纸

感测数据校正器、OLED装置和补偿OLED装置的图像质量的方法。公开了一种有机发光显示装置。在现有技术的有机发光显示装置中，在感测驱动晶体管的阈值电压的感测模式中，当在施加到驱动晶体管的漏极的驱动电压中出现波动时，在感测的阈值电压中出现误差。因此，当感测驱动晶体管的阈值电压时，本发明专利技术使用包括在另一条水平线每个像素的阈值电压来校正包括在具有由驱动电压的波动引起的误差的水平线中的每个像素的驱动晶体管的阈值电压。

【技术实现步骤摘要】
感测数据校正器、OLED装置和补偿OLED装置的图像质量的方法
本专利技术涉及一种感测数据校正器、有机发光显示装置，并且更具体地说，涉及一种补偿有机发光显示装置的图像质量的方法。
技术介绍
有源矩阵型有机发光显示装置包括作为自发光器件的有机发光二极管(OLED)，并且通常具有快速响应时间，高发光效率，高亮度和宽视角。作为自发光器件的OLED通常各自包括阳极电极，阴极电极和在它们之间形成的有机化合物层。有机化合物层通常包括空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL：transport)、发射层(EML)、电子传输层(ETL)和电子注入层(EIL)。当将驱动电压施加到阳极电极和阴极电极时，经过HTL的空穴和经过ETL的电子移动到EML以生成激子，因此EML发射可见光。在有机发光显示装置中，各自包括OLED的多个像素通常以矩阵式布置，并且可以基于视频数据的灰度(grayscale)来调整各个像素的亮度。各个像素通常包括用于控制在OLED中流动的驱动电流的驱动晶体管。优选地，可以将所有像素设计为具有诸如阈值电压、迁移率等的相同电特性的驱动晶体管，但是由于工艺条件、驱动环境等等，像素的驱动晶体管实际上具有不均匀的电特性。为此，即使当施加相同的数据电压时，像素的驱动电流也不同，因此，出现像素之间的亮度偏差。为了解决这样的问题，图像质量补偿技术可以感测每个像素的驱动晶体管的阈值电压，并且根据感测的结果适当地校正输入数据，以减少亮度的不均匀性。在下文中，将简要描述感测驱动晶体管的阈值电压的方法和根据感测结果补偿输入数据的方法。图1是例示感测驱动晶体管的阈值电压的方法的概念图。如图1所示，以源极跟随器模式驱动驱动晶体管Tdr，通过感测驱动晶体管Tdr的源极电压Vs生成感测数据Sdata，并且基于感测数据Sdata来计算驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth。随后，计算与所计算的驱动晶体管Tdr的阈值电压相对应的补偿数据，并且通过将所计算的补偿数据反映在输入数据中，对输入数据进行补偿。然而，施加到驱动晶体管Tdr的漏极以感测驱动晶体管Tdr的阈值电压的驱动电压EVDD，被直接施加到驱动晶体管Tdr，而没有经过晶体管。因此，如图2所示，当在驱动电压中出现波动时，在从感测数据Sdata获得的阈值电压中也可能出现误差。为此，在基于阈值电压计算的补偿数据中可能不可避免地出现误差，因此，在通过在输入数据中反映补偿数据来补偿输入数据的情况下，如图3所示，在画面中出现了水平线缺陷。
技术实现思路
因此，本专利技术的实施方式旨在提供一种有机发光显示装置和补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，其基本上消除了由于现有技术的限制和缺点导致的一个或更多个问题。本专利技术的目的旨在提供一种有机发光显示装置和补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，当感测到驱动晶体管的特征数据时，该装置校正由施加到驱动晶体管的驱动电压波动导致的特征数据的误差。本专利技术的额外优点和特征和优点部分将在下面的描述中阐述，并且部分将基于下面的研究对本领域技术人员而言变得显而易见，或者可以通过本公开的实践获知。本公开的目的和其它优点将通过在书面描述和权利要求以及附图中具体指出的结构来实现和获得。为了实现这些和其它优点，并且根据本专利技术的目的，如本文中具体实施和广泛描述的，提供了一种感测数据校正器，所述感测数据校正器包括：确定器，所述确定器被配置为确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；检测器，所述检测器被配置为当确定在所述驱动电压中出现波动时，基于针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差来检测具有误差的水平线，其中的“n”和“n+1”的指两个连续的数据时段；校正器，所述校正器被配置为使用包括在另一个水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在具有误差的所述水平线中的像素的第n+1个特征数据，并且将所校正的第n+1个特征数据存储在存储器中；以及数据处理器，所述数据处理器被配置为使用存储在所述存储器中的所述特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据。在本专利技术的另一个方面中，提供了一种补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，所述方法包括以下步骤：确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；当确定在所述驱动电压中出现波动时，检测针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差，，其中的“n”和“n+1”的指两个连续的数据时段；从所述显示面板的水平线当中检测包括有所述偏差等于或大于基准值的像素的水平线；使用包括在另一个水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在检测到的水平线中的像素的第n+1个特征数据；以及使用所校正的第n+1个特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，其中，n是大于1的自然数。应当理解，前面的一般描述和下面的详细描述都是示例性和说明性的，并且旨在提供对所要求保护的本专利技术的进一步解释。附图说明附图被包括以提供对本专利技术的进一步理解并且并入本申请并构成本申请的一部分，附图例示了本专利技术的实施方式，并且与描述一起用于解释本专利技术的原理。在附图中：图1是例示感测驱动晶体管的阈值的一般原理的图；图2是例示施加到驱动晶体管的驱动电压的波动的图；图3是例示由于施加到驱动晶体管的驱动电压的波动而在画面中出现的水平线缺陷的图；图4是示意性地例示根据本专利技术的实施方式的有机发光显示装置的配置的图；图5是例示图4所示的像素的配置的电路图；图6是示意性地例示图4所示的定时控制器的配置的框图；图7是示意性地例示图6所示的感测数据校正器的配置的框图；图8是概念性地例示根据本专利技术的实施方式的校正感测数据的方法的图；图9是例示图4所示的数据驱动器的配置的框图；图10是示出在感测模式期间施加到每个像素的信号的波形的波形图；图11是示出在显示模式期间施加到每个像素的信号的波形的波形图；和图12是例示根据本专利技术的实施方式的补偿有机发光显示装置的图像质量的方法的流程图。具体实施方式现在将详细参照本专利技术的示例性实施方式，在附图中示出了这些实施方式的示例。在可能的情况下，在整个附图中将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部件。在本说明书中描述的术语应当理解如下。如本文所使用的，除非上下文另有明确说明，否则单数形式“一”、“一个”和“该”也旨在包括复数形式。术语“第一”和“第二”用于区分一个元件与另一个元件，并且这些元件不应受这些术语限制。将进一步理解，术语“包括”、“包括有”、“具有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”当在本文中使用时，指定所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件的存在，但不排除一个或更多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。术语“至少一个”应当被理解为包括一个或更多个相关所列项的任何和所有组合。例如，“第一项、第二项、和第三项中的至少一个”的含义表示从第一项、第二项和第三项中的两个或更多个提出的所有项的组合，以及第一项、第二项或第三项。在下文中，将参照附图详细描述本专利技术的实施方式。图4是示意性地例示根据本专利技术的实施方式的有机发光显示装置的配置的图，并且图5是例示图4所示的像素的配置的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种感测数据校正器，所述感测数据校正器包括：确定器，所述确定器被配置为确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；检测器，所述检测器被配置为当确定在所述驱动电压中出现波动时，基于针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差来检测具有误差的水平线；校正器，所述校正器被配置为使用包括在另一条水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在具有误差的所述水平线中的像素的第n+1个特征数据，并且将经校正的第n+1个特征数据存储在存储器中；以及数据处理器，所述数据处理器被配置为使用存储在所述存储器中的所述特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，其中，n是大于1的自然数。

【技术特征摘要】
2015.12.30 KR 10-2015-01899171.一种感测数据校正器，所述感测数据校正器包括：确定器，所述确定器被配置为确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；检测器，所述检测器被配置为当确定在所述驱动电压中出现波动时，基于针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差来检测具有误差的水平线；校正器，所述校正器被配置为使用包括在另一条水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在具有误差的所述水平线中的像素的第n+1个特征数据，并且将经校正的第n+1个特征数据存储在存储器中；以及数据处理器，所述数据处理器被配置为使用存储在所述存储器中的所述特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，其中，n是大于1的自然数。2.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，所述确定器包括：第一比较器，所述第一比较器被配置为确定提供给所述多个像素中的每一个的驱动电压的电平是否等于或大于最大值；第二比较器，所述第二比较器被配置为确定提供给所述多个像素中的每一个的驱动电压的电平是否等于或小于最小值；以及确定单元，所述确定单元被配置为当所述驱动电压的电平等于或大于所述最大值或者等于或小于所述最小值时，确定在所述驱动电压中出现了波动。3.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，当特定像素的第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差等于或大于在包括所述特定像素的垂直线上布置在所述特定像素上方的m个像素的第n+1个特征数据与布置在所述特定像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值时，所述检测器将包括所述特定像素的水平线检测为出现误差的水平线，其中，m是小于n的自然数。4.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据，并且如果检测到的水平线是最上面的水平线，则所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正下方的第n+1个特征数据。5.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值、布置在每个像素下方的m个像素的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：片明真，
申请(专利权)人：乐金显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR