存储器系统及其操作方法技术方案

一种存储器系统，可以包括：包括多个页面的存储器装置，多个页面中的每个页面具有联接至多个字线并且适用于存储数据的多个存储器单元，并且多个存储块中的每个具有所述页面；以及控制器，其在包括存储器装置的存储器系统在第一时间点从通电状态改变为电状态断电状态的情况下，适用于在第一时间点之前对存储块中的第一存储块编程测试数据，并且对存储块中的第二存储块编程对应于编程的测试数据的元数据。

【技术实现步骤摘要】
存储器系统及其操作方法相关申请的交叉引用本专利技术要求2015年12月18日提交的申请号为10-2015-0181863的韩国专利的优先权，其公开全文作为全部并入本申请。
本专利技术的示例性实施例涉及一种存储器系统，并且更具体地，涉及一种将数据处理至存储器装置的存储器系统及其操作方法。
技术介绍
计算机环境范式已经转变为能够随时随地使用的普适计算系统。由此，便携电子设备，诸如移动电话、数码相机以及笔记本电脑的使用已经快速地增加。这些便携电子设备一般使用具有用于存储数据的半导体存储器装置(存储器装置)的存储器系统。存储器装置可以用作便携电子设备的主存储器装置或者辅助数据存储装置。由于存储器装置不具有活动部件，所以其提供了优秀的稳定性、持久性、高信息存取速度、以及低功耗。具有这样的优势的存储器装置的实例包括通用串行总线(USB)存储器装置、具有各种接口的存储卡、以及固态驱动器(SSD)。
技术实现思路
本专利技术的各种实施例涉及一种能够以降低的复杂度和性能劣化而可靠地处理数据的存储器系统。存储器系统可以进一步提高包括在存储器系统的一个以上存储器装置的效率。本专利技术进一步涉及一种存储器系统的操作方法。在一个实施例中，存储器系统可以包括：存储器装置，其适用于存储数据；以及控制器，当存储器系统从通电状态改变为电状态断电状态时，所述控制器适用于在第一时间点之前对存储器装置的第一存储块编程测试数据并且对存储器装置的第二存储块编程对应于编程的测试数据的元数据。所述控制器可以生成具有预定模式的测试数据，可以将生成的测试数据存储在第一缓冲器中，并且可以在第一时间点之前将存储在第一缓冲器中的测试数据编程至第一存储块。控制器可以根据测试数据的编程生成元数据，可以将生成的元数据存储在第二缓冲器中，并且可以在第一时间点之前将存储在第二缓冲器中的元数据编程至第二存储块。当在第一时间点之后的第二时间点存储器系统可以改变为通电状态时，控制器可以读取编程在第二存储块中的元数据，并且可以将读取的元数据载入第二缓冲器。控制器可以通过载入第二缓冲器的元数据检查测试数据的映射数据，可以通过映射数据读取编程在第一存储块中的测试数据，并且可以将读取的测试数据载入第一缓冲器。控制器可以通过载入第二缓冲器的元数据检查第一时间点之前编程的测试数据的第一数据分布，可以通过载入第一缓冲器的读取的测试数据检查在第二时间点读取的测试数据的第二数据分布。控制器可以分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的电压分布和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的电压分布作为测试数据的第一数据分布和第二数据分布。控制器可以分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的数量或者位置和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的数量或者位置作为第一数据分布和第二数据分布。控制器可以通过第一数据分布和第二数据分布之间的差异检查测试数据的数据偏移，可以根据测试数据的数据偏移调整存储器系统的参数，并且可以使用调整的参数对存储器系统执行命令操作。控制器可以将测试数据编程至包括在第一存储块中的所有页面或者所有页面中的第一页面。元数据可以包括在所有页面或者第一页面中的多个存储器单元中的、其中编程测试数据的存储器单元的数量或者位置。在一个实施例中，一种包括存储器装置的存储器系统的操作方法，所述操作方法可以包括：确认存储器装置在第一时间点从通电状态改变为断电状态；在第一时间点之前将测试数据编程至存储器装置的第一存储块；以及在第一时间点之前将对应于编程的测试数据的元数据编程至存储器装置的第二存储块。在第一时间点之前将测试数据编程至第一存储块可以包括：生成具有预定模式的测试数据并且将生成的测试数据存储在第一缓冲器中；以及将存储在第一缓冲器中的测试数据编程至第一存储块。在第一时间点之前将元数据编程至第二存储块可以包括：生成元数据并且将生成的元数据存储在第二缓冲器中；以及将存储在第二缓冲器中的元数据编程至第二存储块。所述操作方法可以进一步包括，当在第一时间点之后的第二时间点存储器系统改变为通电状态时，读取编程在第二存储块中的元数据，并且将读取的元数据载入第二缓冲器。所述操作方法可以进一步包括：通过载入第二缓冲器的元数据检查测试数据的映射数据；以及通过映射数据读取编程在第一存储块中的测试数据，并且将读取的测试数据载入第一缓冲器。所述操作方法可以进一步包括：通过载入第二缓冲器的元数据检查在第一时间点之前编程的测试数据的第一数据分布；以及通过载入第一缓冲器的读取的测试数据检查在第二时间点读取的测试数据的第二数据分布。第一数据分布和第二数据分布的检查可以包括分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的电压分布和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的电压分布作为测试数据的第一数据分布和第二数据分布。第一数据分布和第二数据分布的检查可以包括分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的数量或者位置和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的数量或者位置作为第一数据分布和第二数据分布。所述操作方法可以进一步包括：通过第一数据分布和之间的差异检查测试数据的数据偏移；根据测试数据的数据偏移调整存储器系统的参数；以及使用调整的参数执行对存储器系统的命令操作。对第一存储块编程测试数据可以包括将测试数据编程至包括在第一存储块中的所有页面或者所有页面中的第一页面。元数据可以包括在所有页面或者第一页面中的多个存储器单元中的、其中编程测试数据的存储器单元的数量或者位置。附图说明图1是示出根据本专利技术的一个实施例的包括存储器系统的数据处理系统的简图。图2是示出根据本专利技术的一个实施例的图1的存储器系统中的存储器装置的简图。图3是示出根据本专利技术的一个实施例的存储器装置中的存储器块的电路图。图4至图11是示意地示出图2的存储器装置各个方面的简图。图12和图13是示意地示出根据本专利技术的一个实施例的图1的存储器系统的操作方法的简图。图14是根据本专利技术的一个实施例的存储器系统的数据处理操作的流程图。具体实施方式下面将参考附图更加详细地描述各种实施例。然而，本专利技术可以不同的形式呈现且不应被解释为限于在本文中提出的实施例。而是，这些实施例被提供使得本公开将是彻底且完整的，并且将向本领域技术人员完全地表达本专利技术。在整个公开中，相同的参考数字用于对应本专利技术的各种附图和实施例中的相似部件。将理解的是，虽然本文中术语“第一”、“第二”、“第三”等可以用于描述各种元件，这些元件不应这些术语限制。这些术语是用于区别一元件与另一元件。因此，只要不背离本专利技术的精神和范围，下文描述的第一元件也可以称为第二元件或第三元件。应理解，当被一个元件“连接至”或“联接至”另一个元件时，可以是该元件直接地连接或联接至另一个元件，或者两者间存在中间元件。此外，当被一个元件被称作在两个元件“之间”时应当理解为，该一个元件可以是两个元件之间的唯一的元件，或者也可以存在一个以上中间元件。如在本文中使用的，单数形式“一”意在也包括复数形式，除非上下文有清楚的相反指示。此外，将理解的是，当在本说明书中使用时，术语“包括”是指提及的元件的存在，但不用于排除一个以上其他元件的存在或增加。在本文中使用时，术语“和/或”包括一个以上相关列出项目的任何和所有组合。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器系统，包括：存储器装置，其适用于存储数据；以及控制器，当存储器系统在第一时间点从通电状态改变为断电状态时，所述控制器适用于在第一时间点之前对存储器装置的第一存储块编程测试数据并且对存储器装置的第二存储块编程对应于编程的测试数据的元数据。

【技术特征摘要】
2015.12.18 KR 10-2015-01818631.一种存储器系统，包括：存储器装置，其适用于存储数据；以及控制器，当存储器系统在第一时间点从通电状态改变为断电状态时，所述控制器适用于在第一时间点之前对存储器装置的第一存储块编程测试数据并且对存储器装置的第二存储块编程对应于编程的测试数据的元数据。2.如权利要求1所述的存储器系统，其中所述控制器生成具有预定模式的测试数据，将生成的测试数据存储在第一缓冲器中，并且在第一时间点之前将存储在第一缓冲器中的测试数据编程至第一存储块，并且其中，所述控制器根据测试数据的编程生成元数据，将生成的元数据存储在第二缓冲器中，并且在第一时间点之前将存储在第二缓冲器中的元数据编程至第二存储块。3.如权利要求2所述的存储器系统，其中当在第一时间点之后的第二时间点存储器系统改变为通电状态时，控制器读取编程在第二存储块中的元数据，并且将读取的元数据载入第二缓冲器。4.如权利要求3所述的存储器系统，其中控制器通过载入第二缓冲器的元数据检查测试数据的映射数据，通过映射数据读取编程在第一存储块中的测试数据，并且将读取的测试数据载入第一缓冲器。5.如权利要求4所述的存储器系统，其中控制器通过载入第二缓冲器的元数据检查第一时间点之前编程的测试数据的第一数据分布，通过载入第一缓冲器的读取的测试数据检查在第二时间点读取的测试数据的第二数据分布。6.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的电压分布和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的电压分布作为测试数据的第一数据分布和第二数据分布。7.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器分别检查存储第一时间点之前编程的测试数据的存储器单元的数量或者位置和存储第二时间点读取的测试数据的存储器单元的数量或者位置作为第一数据分布和第二数据分布。8.如权利要求5所述的存储器系统，其中控制器通过第一数据分布和第二数据分布之间的差异检查测试数据的数据偏移，根据测试数据的数据偏移调整存储器系统的参数，并且使用调整的参数对存储器系统执行命令操作。9.如权利要求1所述的存储器系统，其中控制器将测试数据编程至包括在第一存储块中的所有页面或者所有页面中的第一页面。10.如权利要求9所述的存储器系统，其中元数据包括在所有页面或者第一页面中的多个存储器单元中被编程测试数据的存储器单元的数量或者位置。11...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宗珉，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR