【技术实现步骤摘要】
一种基于多电脑的晶圆检测的图像处理方法
本专利技术涉及一种基于多电脑的晶圆检测的图像处理方法。
技术介绍
半导体晶圆的行业中,晶圆生产过程中的全面质量检查,始终是困扰半导体生产工艺进步。晶圆上每一颗晶粒(Die)在不同的生产工序中,依靠工艺参数流片,由于不同供应商原材料(Wafer)的差异性,原材料单片晶圆(Wafer)的均质分布性,显影胶和光照的均匀性分布,化学试剂的浓度的分布梯度,流片的温度分布梯度,等诸多因素,必然导致晶圆的不同部位不同晶粒的质量差异性。产品缺陷随即随机产生,工艺工程师需要把控质量的分布,以便及时改变工艺参数和提高产品质量。如果不是重大质量问题,欲改善和改变工艺参数是相当不便的,通常需要大量的检测数据作为工艺改善和改变的技术支撑依据,这就对半导体产品的原材料均质性,以及参加流片试剂的稳定性和分布性,有充分的认识和检测数据的掌握,其对产品质量有着决定性的影响,因此,半导体企业对晶圆工艺的质量都有着严格的控制手段,其中针对芯片的电性能质量以及外观质量的检测项目多达数十项之多。光学检测设备,对于完整晶粒(Chip)的图像,可以做成标准模板,通过比对测量等各种图像处理和运算方法来判断晶粒的缺陷存在与否。现代半导体芯片工业生产的特点是晶粒尺寸大小各异且具有小批量、多品种、高密度等诸多特征,要兼顾几十项目的质量把控要求,随着工艺认识的不断进取,新增检测项目也是必然的需求。采用图像视觉检测和多工业PC,多电脑的晶圆检测的图像处理方法成为有效的手段。通常电脑处理晶圆图像的运算能力是固定的,而目前工业相机采集的是高清图像,单幅处理都需要较长时间,多项目 ...
【技术保护点】
一种基于多电脑的晶圆检测的图像处理方法, 其特征是该专利技术包括:多电脑多线程同步图像管理同步图像处理的方法,主电脑系统控制采图系统,分流分配图像给各分电脑,合并、保存各分电脑返回的计算结果。
【技术特征摘要】
1.一种基于多电脑的晶圆检测的图像处理方法,其特征是该发明包括:多电脑多线程同步图像管理同步图像处理的方法,主电脑系统控制采图系统,分流分配图像给各分电脑,合并、保存各分电脑返回的计算结果。2.根据权利要求书1所述的一种基于多电脑的晶圆检测的图像处理方法,...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢冬青,
申请(专利权)人:上海功源自动化技术有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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