用于电路板测试的开关电路及其测试方法技术

本发明专利技术提供一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO(输入、输出)控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS(互补金属氧化物半导体)开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。本发明专利技术所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对待测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，降低成本的同时也提高了开关电路的稳定性与可靠性。

Switch circuit for circuit board test and testing method thereof

The present invention provides a switching circuit for testing the circuit board, which comprises a receiving test instruction IO (input and output) control card, receiving IO control board card instructions and the system board is electrically connected with the CMOS (complementary metal oxide semiconductor) switch, the switch to the CMOS system board provides a measure of signal. Measurements were carried out to treat the circuit board, system board to IO feedback control card test results, the CMOS switch through the relay to be measured and the circuit board is electrically connected with the relay control, CMOS switch and the tested circuit board is electrically connected with the connection and disconnection. Switching circuit for testing the circuit board of the circuit board, and measured by the relay is connected with CMOS switch, without measurement to test the circuit board ground discharge power signal release charge, in order to avoid the measurement of charge power signal burn CMOS switch, CMOS switch to prolong life. To reduce the cost and improve the stability and reliability of the switch circuit.

【技术实现步骤摘要】
用于电路板测试的开关电路及其测试方法
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种用于电路板测试的开关电路。
技术介绍
电路板制成后均需要进行测试，以确保各方面的性能都正常。ICT(InCircuitTester)测试则是其中一种较为普遍的测试方式，现有用于测试的电路中多采用普通开关，反应速度慢，寿命短，不能满足反复测试的需求。
技术实现思路
本专利技术即是克服现有技术不足，提供一种低成本且稳定可靠的测试用开关电路。具体来说，一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO(输入、输出)控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS(互补金属氧化物半导体)开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。进一步的，在未进行测试时，所述待测电路板接地，在进行测试时，所述待测电路板连接CMOS开关。进一步的，所述CMOS开关设有若干信号点接口，所述CMOS开关通过信号点接口与继电器电性连接。进一步的，所述各信号点接口能够同时工作。进一步的，所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源。本专利技术还提供一种用于电路板测试的测试方法，其包括：IO控制卡接收上位机指令并向系统板发送测试指令，系统板接收所述测试指令并向CMOS开关提供测量信号，测量信号通过CMOS开关传送至待测电路板进行测量，测量完成后系统板将测试结果反馈IO控制卡，IO控制卡向上位机发送测试结果并通过上位机显示，其中CMOS开关通过继电器与待测电路板连接，在未进行测试时，所述继电器控制待测电路板接地，在进行测试时，所述继电器控制待测电路板连接CMOS开关。本专利技术所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，降低成本的同时也提高了开关电路的稳定性与可靠性。附图说明图1为本专利技术用于电路板测试的开关电路的框架图。具体实施方式以下结合附图，对本专利技术所述的用于电路板测试的开关电路进行非限制性地说明，目的是为了公众更好地理解所述的
技术实现思路
。如图1所示，本专利技术所述的用于电路板测试的开关电路可用于工业测试，如ICT(InCircuitTester)测试，可作为电路板量测系统与电路板连接的传输界面。所述用于电路板测试的开关电路包括接收上位机7测试指令的IO控制卡1、接收IO控制卡1指令的系统板2及与系统板电性连接的CMOS开关3，所述系统板2向CMOS开关3提供测量信号，以对待测电路板6进行测量，测试完成后系统板2向IO控制卡1反馈测试结果，IO控制卡1向上位机7发送测试结果并通过上位机显示。所述CMOS开关3通过继电器5与待测电路板6电性连接，继电器5控制CMOS开关3与待测电路板6的电性连接的连通与断开。具体来说，在未进行测试时，所述继电器5控制待测电路板6接地，在进行测试时，所述继电器5控制待测电路板6连接CMOS开关3。如此，待测电路板6在测试前就可释放大电荷功率信号，避免测试时大电荷功率信号烧坏CMOS开关3。所述CMOS开关3设有若干信号点接口4(图1仅示意其中一个)，所述CMOS开关3通过信号点接口4与继电器5电性连接。所述各信号点接口4能够同时工作，各信号点接口能够搭配使用，可检测两端电子元件、三端电子元件或四端电子元件，可用于测试电阻值、电容值、电压值、电感量、二极管、三极管、稳压管、场效应管、光耦、继电器、开路、短路等。所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源，有效扩大了其测试的范围。当然，继电器5也可组成隔离电路配合其它功能测试使用，当需要输入大功率信号到待测电路板6时，继电器5可一直处于常开状态，此时CMOS开关3的输入端与待测电路板断开连接，即可实现不同测试项目之间的切换，又可防止CMOS开关损坏。本专利技术还提供一种用于电路板测试的测试方法，其包括：IO控制卡接收上位机指令并向IO控制卡发送测试指令，系统板接收所述测试指令并向CMOS开关提供测量信号，测量信号通过CMOS开关传送至待测电路板进行测量，测量完成后系统板将测试结果反馈IO控制卡，IO控制卡向上位机发送测试结果并通过上位机显示，其中CMOS开关通过继电器与待测电路板连接，在未进行测试时，所述继电器控制待测电路板接地，在进行测试时，所述继电器控制待测电路板连接CMOS开关。本专利技术所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对待测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，也提高了开关电路的稳定性与可靠性。另外，还有利于减少CMOS开关的数量，缩小PCB尺寸，降低成本。应该理解的是，上述内容不是对所述技术方案的限制，事实上，凡以相同或近似原理对所述技术方案进行的改进，包括各部分的形状、尺寸、所用材质的改进，以及相似功能元件的替换，都在本专利技术要求保护的技术方案之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，其特征在于，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。

【技术特征摘要】
1.一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，其特征在于，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。2.根据权利要求1所述的用于电路板测试的开关电路，其特征在于：在未进行测试时，所述待测电路板接地，在进行测试时，所述待测电路板连接CMOS开关。3.根据权利要求2所述的用于电路板测试的开关电路，其特征在于：所述CMOS开关设有若干信号点接口，所述CMOS开关通过信号点接口与继电器电性连接。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘桥平，
申请(专利权)人：深圳市安硕科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44