基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。本发明专利技术可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度。

【技术实现步骤摘要】
基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置
本专利技术涉及显示
，更具体地，涉及到一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复。
技术介绍
平面显示器具有高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。平面显示模组是平面显示器的主体组成部分，其制造工艺复杂，需要近百道工序，因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷，而这些显示缺陷较为常见的是Mura(色斑)缺陷。Mura缺陷是在同一光源且底色相同的画面下，因视觉感受到的不同颜色或者亮度的差异，从而给人们带来视觉上的不适，严重影响着平面显示器的品质。Mura修复是通过改变像素的灰度值来实现亮度均匀性的改善，对于显示亮度比较高的像素施加较低的灰度值，对于显示亮度比较低的像素，施加较高的灰度值，使得灰度补偿后各像素的亮度接近一致，实现Mura缺陷的改善。目前的Mura修复方法是基于全局修复，按照固定的BlockSize(区域范围，例如4*4、8*8等)做数据压缩，对于单个补偿画面，每个BlockSize区域内只需要一个补偿数据值，例如3840*2160的模组，当BlockSize为8*8时，FLASH只存储481*271个补偿数据，BlockSize区域内其它像素点的补偿数据是通过插值算法计算出来。这种Mura修复方法的优势是效率高、节省成本，但由于线性插值算法计算Mura补偿数据的本质是基于待修复mura附近像素点的亮度值，对待修复mura的亮度值做平滑处理，存在以下不足：1)如果Mura缺陷锐度较大，即BlockSize区域内Mura缺陷和非缺陷区域亮度变化明显时，平滑的补偿方式不能很好的抹平缺陷边缘区域的差异，Mura修复效果不理想；2)如果将BlcokSize的精度提高，即缩小BlcokSize的区域范围，则可以解决上述问题，但屏端的Flash容量和Tcon端的数据缓存器(SRAM)容量会大幅增大。例如BlcokSize为1*1的补偿数据量是BlcokSize为8*8的补偿数据量大小的64倍，这样极大增加了硬件成本。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本专利技术公开了一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，针对平面显示模组不同类型、不同大小的多个Mura缺陷区，可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。进一步地，上述技术方案中该DeMura查找表包括上限灰阶值、下限灰阶值；该DeMura控制数据包括Mura指定区域数量及各Mura指定区域的BlockSize类型、起始点横坐标、起始点纵坐标、横向Block个数、纵向Block个数。更进一步地，该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点，该DeMura查找表中包括有与该多个补偿灰阶节点一一对应的多个节点查找表；若该Mura指定区域的像素点Px的灰度值处在任一个所述补偿灰阶节点上，则从该任一个所述补偿灰阶节点对应的节点查找表中获得与该像素点Px同行或同列相邻位置的像素点M、N的补偿数据，并通过下列公式得到该像素点Px在当前灰阶的补偿数据：P＝((XN-XPx)*M+(XPx-XM)*N)/(XN-XM)其中，像素点M、N与像素点Px同行，XPx表示像素点Px的横坐标，P表示像素点Px的补偿数据；XM表示像素点M的横坐标，M表示像素点M的补偿数据；XN表示像素点N的横坐标，N表示像素点N的补偿数据；或者，P＝((YN-YPx)*M+(YPx-YM)*N)/(YN-YM)其中，像素点M、N与像素点Px同列，YPx表示像素点Px的纵坐标，P表示像素点Px的补偿数据；YM表示像素点M的纵坐标，M表示像素点M的补偿数据；YN表示像素点N的纵坐标，N表示像素点N的补偿数据。更进一步地，上述技术方案中该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点，该DeMura查找表中包括有与该多个补偿灰阶节点一一对应的多个节点查找表；若该Mura指定区域的像素点Py的灰度值处在相邻的两个所述补偿灰阶节点Plane1、Plane2之间，则分别获得该像素点Py的灰度值处在该两个所述补偿灰阶节点Plane1、Plane2时的补偿数据，并通过下列公式得到该像素点Py在当前灰阶T时的补偿数据：P＝((Plane2-T)*S+(T-Plane1)*R)/(Plane2-Plane1)其中，P表示像素点Py处在当前灰阶T时的补偿数据，R表示像素点Py处在Plane2时的补偿数据，S表示像素点Py处在Plane1时的补偿数据。更进一步地，上述技术方案中该各Mura指定区域共用该上限灰阶值、该下限灰阶值及该多个补偿灰阶节点。更进一步地，上述技术方案中若该Mura指定区域为单个像素点，则该单个像素点的补偿数据从该DeMura查找表中获取。更进一步地，上述技术方案中若一像素点Pc同时位于多个Mura指定区域中，则将该像素点Pc在每个所述Mura指定区域中对应的补偿数据进行累加。此外，本专利技术还另外提供一种基于指定位置的Mura缺陷修复装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该Mura缺陷修复装置包括FlashIC和Tcon板，该Tcon板还包括DeMuraTconIC；该FlashIC用于储存DeMura查找表和DeMura控制数据，该DeMuraTconIC用于根据该DeMura查找表和DeMura控制数据得到该平面显示模组的Mura指定区域的补偿数据。进一步地，上述技术方案中该DeMuraTconIC还用于将外部图像源输入的图像信号解码成帧图像的像素灰度数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。更进一步地，上述技术方案中该DeMura查找表包括上限灰阶值、下限灰阶值；该DeMura控制数据包括Mura指定区域数量及各Mura指定区域的BlockSize类型、起始点横坐标、起始点纵坐标、横向Block个数、纵向Block个数。本专利技术的有益效果在于：1)本专利技术可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度；2)本专利技术可以对平面显示模组上不同类型、不同大小的多个Mura缺陷区同步进行定点修复，补偿大面积Mura的同时可以补偿锐度较大的Mura，例如拼接线、宽度小于BlockSize的垂直/水平白/黑带、水渍Mura及面积较小的黑白Gap等。附图说明图1本专利技术Mura缺陷修复装置的结构示意图；图2本专利技术多个Mura指定区域示意图；图3本专利技术目标像素点及其相邻位置像素点示意图；图4本专利技术目标像素点的补偿数据与补偿灰阶节点的关系示意图；图5本专利技术单个像素点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，其特征在于，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。

【技术特征摘要】
1.一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，其特征在于，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。2.根据权利要求1所述的Mura缺陷修复方法，其特征在于，该DeMura查找表包括上限灰阶值、下限灰阶值；该DeMura控制数据包括Mura指定区域数量及各Mura指定区域的BlockSize类型、起始点横坐标、起始点纵坐标、横向Block个数、纵向Block个数。3.根据权利要求2所述的Mura缺陷修复方法，其特征在于，该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点，该DeMura查找表中包括有与该多个补偿灰阶节点一一对应的多个节点查找表；若该Mura指定区域的像素点Px的灰度值处在任一个所述补偿灰阶节点上，则从该任一个所述补偿灰阶节点对应的节点查找表中获得与该像素点Px同行或同列相邻位置的像素点M、N的补偿数据，并通过下列公式得到该像素点Px在当前灰阶的补偿数据：P＝((XN-XPx)*M+(XPx-XM)*N)/(XN-XM)其中，像素点M、N与像素点Px同行，XPx表示像素点Px的横坐标，P表示像素点Px的补偿数据；XM表示像素点M的横坐标，M表示像素点M的补偿数据；XN表示像素点N的横坐标，N表示像素点N的补偿数据；或者，P＝((YN-YPx)*M+(YPx-YM)*N)/(YN-YM)其中，像素点M、N与像素点Px同列，YPx表示像素点Px的纵坐标，P表示像素点Px的补偿数据；YM表示像素点M的纵坐标，M表示像素点M的补偿数据；YN表示像素点N的纵坐标，N表示像素点N的补偿数据。4.根据权利要求2所述的Mura缺陷修复方法，其特征在于，该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点；若该Mura指定区域的像素点Py的灰度值处在相邻的两个所述补偿...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑增强，秦立，刘钊，
申请(专利权)人：武汉精测电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42