一种晶体硅组件压力试验的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶体硅组件压力试验的测试装置，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。所述晶体硅组件压力试验的测试装置，通过使压力测试部件穿过所述支架的通孔在竖直方向运动，不会出现现有技术中受压时左右摇晃出现测试点移动的现象，提高了测试的稳定性，同时使用预定重量中重物对压力测试部件施压，使得压力测试部件能够提供持续稳定的压力输出而不受外力影响，提高了测试的准确性，降低了测试难度，同时该晶体硅组件压力试验的测试装置结构简单，制造成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体硅组件压力试验的测试装置
本技术涉及光伏组件测试
，特别是涉及一种晶体硅组件压力试验的测试装置。
技术介绍
随着光伏产业技术的不断成熟，光伏电池的光电效率快速提升，从而使得制造成本快速下降，晶体硅太阳能电池已逐步占据着光伏产业的主导地位。而在晶体硅太阳能电池中，制约其应用推广的因素有两个：发电效率和使用寿命。而对太阳能电池的使用寿命的测试中有一项是测试太阳能电池组件压力测试，一般使用UL1703-2012测试标准。在UL1703-2012标准测试要求中，光伏组件需用手动按压压力计对背板面施加17.8及89N的力持续1min，手压操作方法压力无法提供稳定压力输出。UL1703-2012中测试组件的压力测试部分，只是提供了测试要求，并没有具体指定的测试方法。由于传统的压力测试方法中，基本都是靠手压进行实现，手压要保持恒定的17.8及89N的力基本不可能，手压时组件受力都是不断变化的，此方法对测试的准确性及测试结果有很大的影响。另一种测试方法是在压力计顶端加压一个固定的17.8及89N力的重物，通过手扶压力计的方式进行试验，此种试验也不够准确，因为手在扶压力计得同时也给压力计带了一个向下的手的重力，且手扶压力计无法保证压力计与测试表面呈90°夹角，因此，此种测试方法的准确性也无法保证。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种晶体硅组件压力试验的测试装置，在压力测试时，不会受到外力因素的影响能提供准确、恒定压力输出，测试快捷、专业。为解决上述技术问题，本技术实施例提供了一种晶体硅组件压力试验的测试装置，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。其中，所述预定重量的重物为17.8N～89N的重物。其中，还包括设置在所述压力测试部件的顶端托盘，所述重物放置在所述托盘内。其中，所述压力测试部件的侧面设置有坎肩，用于对所述压力测试部件的向下移动量进行限定。其中，还包括设置在所述压力测试部件侧面的电子显示单元，用于显示所述压力测试部件的顶部接触端受到的与被测试组件之间的压力。其中，还包括设置在所述支架上的压力调节部件，所述压力调节部件的末端与所述托盘的底面接触，用于使得所述压力测试部件与所述被测试组件之间产生预定数值的压力。其中，所述支架为工程塑料支架。其中，所述支架具有两条支腿，所述支腿的底部为圆形支撑面或矩形支撑面。本技术实施例所提供的晶体硅组件压力试验的测试装置，与现有技术相比，具有以下优点：本技术实施例提供的晶体硅组件压力试验的测试装置，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。所述晶体硅组件压力试验的测试装置，通过使压力测试部件穿过所述支架的通孔在竖直方向运动，不会出现现有技术中受压时左右摇晃出现测试点移动的现象，提高了测试的稳定性，使得测试过程更加专业。同时使用预定重量中重物对压力测试部件施压，使得压力测试部件能够提供持续稳定的压力输出而不受外力影响，提高了测试的准确性，降低了测试难。该晶体硅组件压力试验的测试装置结构简单，制造成本低。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的晶体硅组件压力试验的测试装置的一种具体实施方式的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参考图1，图1为本技术实施例提供的晶体硅组件压力试验的测试装置的一种具体实施方式的结构示意图。在一种具体实施方式中，所述晶体硅组件压力试验的测试装置，包括压力测试部件20、支架10和设置在所述压力测试部件20的顶端的预定重量为17.8N或89N的重物30，所述压力测试部件20穿过所述支架10的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件20进行限位，使得所述压力测试部件20在竖直方向运动，这样在测试过程中，重物30对组件只有竖直方向的压力，不会出现测试点发生移位的现象，提高了测试的准确度。需要指出的是，在本技术中，如果测试侧标准不同，可以根据需要更换重物30，所述重物30的重量一般为17.8N～89N。由于在测试时，为了保证测试的精度性，重物30的重量本身的准确度要高，一般使用砝码，而砝码在移动或与其它物件接触过程中，容易受到污染，降低测试的精确度，而且砝码的表面较为光滑，容易产生滑动，使得压力测试部件20与组件的接触点的压力发生滑移，降低了测试的准确型，甚至砝码会从压力测试部件20表面滑落，既无法保证正常的测试的过程，也会对砝码造成损坏。因此所述晶体硅组件压力试验的测试装置还包括设置在所述压力测试部件20的顶端托盘40，所述重物30放置在所述托盘40内。通过使用托盘40对重物30进行限位，使得测试过程更加安全可靠，压力输出稳定、持续。需要指出的是，本技术对所述托盘40的材质、尺寸、形状不做具体限定，可以是直接放置在压力测试部件20顶面，也可以是通过设置固定架，对托盘40进行限位，本技术对此不作具体限定。由于压力测试部件20是通过所述支架10的通孔进行上下移动的，为避免压力测试部件20在测试过程中，全部从支架10通过，对组件或压力测试部件20造成损坏，所述压力测试部件20的侧面设置有坎肩，用于对所述压力测试部件20的向下移动量进行限定。这样压力测试部件20只会在竖直方向有限量的位移，在不进行测试时，压力测试部件20也不会直接接触地面。需要指出的是，本技术中对所述坎肩不做具体限定，只要在预定的高度处，坎肩不能够通过支架10的通孔即可。在本使用新型中，压力测试部件20使用一般的压力计即可，或者将压力即固定在某个连接块上即可。本使用新型对所述压力测试部件20不做具体限定。在测试过程中，一般的压力测试部件20没有显示压力值，或者是使用指针指示压力值，操作员还需要读数，有些麻烦，为了直接将压力值显示，所述晶体硅组件压力试验的测试装置还包括设置在所述压力测试部件20侧面的电子显示单元，用于显示所述压力测试部件20的顶部接触端受到的与被测试组件之间的压力。需要指出的是，本技术对所述电子显示单元及其尺寸安装方式不做具体限定。由于在测试过程中，压力测试部件20顶部的重物30的重量是一定的，这时对组件的挤压力是一定的，这样只能测试一种标准的组件，而且与组件之间的挤压力还不一定是需要的数值，这时就需要对于组件之间的挤压力进行调节，所述压力测试部件20还包括设置在所述支架10上的压力调节部件，所述压力调节部件的末端与所述托盘4本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。

【技术特征摘要】
1.一种晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。2.如权利要求1所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述预定重量的重物为17.8N～89N的重物。3.如权利要求2所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，还包括设置在所述压力测试部件的顶端托盘，所述重物放置在所述托盘内。4.如权利要求3所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述压力测试部件的侧面设置有坎肩，用于对所述压力测试部件的向下移动量进...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘亚锋，戴健，李一君，祝昊婷，李树刚，袁滨，金浩，
申请(专利权)人：晶科能源有限公司，浙江晶科能源有限公司，
类型：新型
国别省市：江西,36