一种影像测量方法、装置以及系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种影像测量方法、装置以及系统，其中，该方法包括：获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。本发明专利技术实施例在获取待待测量物体的测量数据时，使用补偿数据以及校正偏差数据对测量数据进行校正，最终获得待测量物体的尺寸数据，这个过程对数据进行了多次校正，所获得的数据更加的准确。

Image measuring method, device and system

The present invention provides an image measuring method, device and system, wherein, the method comprises: obtaining reference measurements of the measured object, and according to the measurement of size and the actual size of measuring objects, the calculation of compensation data optical ruler; the compensation data including: X axis and Y axis compensation data compensation data and at least one vertical compensation data; on the measurement of multiple measurements with lens magnification central axis joint correction, correction of deviation when measuring data acquisition; data acquisition to the object to be measured when, according to the measurement data and the compensation data and the deviation correction data, calculating the size of data measurement of objects. The embodiment of the invention in the measurement data to obtain the object to be measured when using compensation data and data correction of deviation correction of measurement data, finally get the size data of the object to be measured, this process has carried on many times the correction of the data, the data obtained are more accurate.

【技术实现步骤摘要】
一种影像测量方法、装置以及系统
本专利技术涉及测量
，具体而言，涉及一种影像测量方法、装置以及系统。
技术介绍
品质检验又称质量检验，是指在生产过程中，运用各种检验手段，包括感官检验、化学检验、仪器分析、物理测试、微生物学检验的方式，对生产的待测量物体进行品质、规格、等级的检验，确定待测量物体是否符规定的过程。品质检验在现代工业，尤其是精密制造业中占据相当重要位置。品质检验过程中，在对待测量物体的尺寸进行测量的时候，一般是使用影像测量软件配合XYZ三维手动或者自动平台，通过移动镜头配合图像算法进行尺寸测量。但是目前的影像测量软件都是单图像测量，在进行校正的时候，采用单轴线纹尺校正方式，最终获得的测量结果误差大且检测速度慢。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种影像测量方法、装置以及系统，能够提高测量结果的精度以及检测的速度。第一方面，本专利技术实施例提供了一种影像测量方法，包括：获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：所述测量尺寸包括：X轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：X轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述X轴补偿数据：将X轴方向测量尺寸以及X轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述X轴方向实际尺寸计算X轴补偿数据；所述测量尺寸包括：Y轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：Y轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述Y轴补偿数据：将Y轴方向测量尺寸以及Y轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述Y轴方向实际尺寸计算Y轴补偿数据；当光学尺的X轴以及Y轴不垂直时，所述测量尺寸包括：基准测量物体的两个对角线的测量尺寸；将两个对角线的测量尺寸的比值作为所述垂直度补偿数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：所述对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，具体包括：获取同一个圆在不同倍率下的圆心坐标；将其中一个倍率所对应的圆心坐标作为基准坐标，并计算其他圆心坐标与所述基准坐标之间的差值；将获得的差值作为所述校正偏差数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中：通过下述步骤获取待测量物体的测量数据：获取影像元素测量数据；根据测量需求以及所述影像元素测量数据，获取与几何元素对应的测量数据；所述几何元素包括至少一个影像元素；将所述几何元素对应的测量数据，作为所述待测量物体的尺寸数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中：还包括：将所述尺寸数据以及预设的基准信息进行差值运算，并判断所述差值运算的结果是否在预设范围之内，如果是，则通过品质检测。第二方面，本专利技术实施例还提供一种影像测量装置，包括：补偿数据获取模块，用于获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；校正偏差数据获取模块，用于对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；尺寸数据获取模块，用于当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中：所述测量尺寸包括：X轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：X轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述X轴补偿数据：将X轴方向测量尺寸以及X轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述X轴方向实际尺寸计算X轴补偿数据；所述测量尺寸包括：Y轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：Y轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述Y轴补偿数据：将Y轴方向测量尺寸以及Y轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述Y轴方向实际尺寸计算Y轴补偿数据；当光学尺的X轴以及Y轴不垂直时，所述测量尺寸包括：基准测量物体的两个对角线的测量尺寸；将两个对角线的测量尺寸的比值作为所述垂直度补偿数据。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，其中：所述校正偏差数据获取模块具体包括：圆心坐标获取子模块，用于获取同一个圆在不同倍率下的圆心坐标；差值计算子模块，用于将其中一个倍率所对应的圆心坐标作为基准坐标，并计算其他圆心坐标与所述基准坐标之间的差值，并将获得的差值作为所述校正偏差数据。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式，其中：还包括：测量数据获取模块；所述测量数据获取模块用于：获取影像元素测量数据；根据测量需求以及所述影像元素测量数据，获取与几何元素对应的测量数据；所述几何元素包括至少一个影像元素；将所述几何元素对应的测量数据，作为所述待测量物体的尺寸数据。第二方面，本专利技术实施例还提供一种影像测量系统，包括：XY检测平台以及如上述第二方面任意一项所述的影像测量装置；所述影像检测装置还连接有图像获取设备；所述图像获取设备用于获取放置于XY检测平台上的待检测物体的检测图像。本专利技术实施例所提供的影像测量方法、装置以及系统，先通过基准测量物体的测量尺以及实际尺寸，获取光学尺的补偿数据；再对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据，在获取待待测量物体的测量数据时，使用补偿数据以及校正偏差数据对测量数据进行校正，最终获得待测量物体的尺寸数据，这个过程对数据进行了多次校正，所获得的数据更加的准确。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了本专利技术实施例所提供的一种影像测量方法的流程图；图2示出了本专利技术实施例所提供的影像测量方法中，获取待测量物体的测量数据的具体方法的流程图；图3示出了本专利技术实施例所提供的一种影像测量装置的结构示意图；图4示出了本专利技术实施例所提供的影像测量装置中，校正偏差数据获取模块的具体结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种影像测量方法，其特征在于，包括：获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。

【技术特征摘要】
1.一种影像测量方法，其特征在于，包括：获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量尺寸包括：X轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：X轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述X轴补偿数据：将X轴方向测量尺寸以及X轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述X轴方向实际尺寸计算X轴补偿数据；所述测量尺寸包括：Y轴方向测量尺寸；所述实际尺寸包括：Y轴方向实际尺寸；通过下述步骤计算所述Y轴补偿数据：将Y轴方向测量尺寸以及Y轴方向实际尺寸进行相减运算，并根据相减运算的结果以及所述Y轴方向实际尺寸计算Y轴补偿数据；当光学尺的X轴以及Y轴不垂直时，所述测量尺寸包括：基准测量物体的两个对角线的测量尺寸；将两个对角线的测量尺寸的比值作为所述垂直度补偿数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，具体包括：获取同一个圆在不同倍率下的圆心坐标；将其中一个倍率所对应的圆心坐标作为基准坐标，并计算其他圆心坐标与所述基准坐标之间的差值；将获得的差值作为所述校正偏差数据。4.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，通过下述步骤获取待测量物体的测量数据：获取影像元素测量数据；根据测量需求以及所述影像元素测量数据，获取与几何元素对应的测量数据；所述几何元素包括至少一个影像元素；将所述几何元素对应的测量数据，作为所述待测量物体的尺寸数据。5.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，还包括：将所述尺寸数据以及预设的基准信息进行差值运算，并判断所述差值运算的结果是否在预设范围之内，如果是，则通过品质检测。6.一种影像测量装置，其特征在于，包括：补偿数据获取模块，用于获取基...

【专利技术属性】
技术研发人员：张超，
申请(专利权)人：苏州光照精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32