栅极驱动电路的检测装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种栅极驱动电路的检测装置，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述检测装置包括：多个发光二极管，所述多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；检测单元，所述检测单元用于检测所述每个发光二极管的状态，以根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。

Device and method for detecting gate drive circuit

The invention discloses a device for detecting the gate drive circuit, the gate drive circuit with multi line gate driving unit, the detection device includes: a plurality of light emitting diodes, and gate anode corresponding to each of the plurality of light emitting diode light-emitting diode drive output unit connected to the plurality of light emitting diode cathode is connected with the control signal to provide preset connected together, wherein the output state of each light emitting diode driving unit according to the corresponding gate change; detection unit, the detection unit for detecting each of the light emitting diode, according to a state judge each of the light emitting diode corresponding gate the driving unit fault. As a result, a gate drive unit having a fault can be determined by the state of the LED, thereby enabling a specific location of an effective fault to occur, facilitating recovery and ensuring product yield.

【技术实现步骤摘要】
栅极驱动电路的检测装置和方法
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种栅极驱动电路的检测装置以及一种栅极驱动电路的检测方法。
技术介绍
相关技术中的液晶面板越来越多采用GOA(GateDriveronArray，阵列基板栅极驱动)技术，从而节省GateIC、降低成本，以及实现窄边框。GOA整体为单行的GOA上下级联而成，每一行GOA输出到相应栅极驱动行，以控制栅极驱动行的打开或关闭。然而，随着液晶面板的分辨率越来越高，所需的GOA数目也越来越多，当发生故障时，难以确定GOA发生故障的具体位置，从而给修复带来极大困难，严重影响产品良率。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种栅极驱动电路的检测装置，能够准确确定栅极驱动电路发生故障的具体位置。本专利技术的另一个目的在于提出一种栅极驱动电路的检测方法。为达到上述目的，本专利技术一方面实施例提出的一种栅极驱动电路的检测装置，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述检测装置包括：多个发光二极管，所述多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；检测单元，所述检测单元用于检测所述每个发光二极管的状态，以根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。根据本专利技术实施例提出的栅极驱动电路的检测装置，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，检测单元检测每个发光二极管的状态，以根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本专利技术实施例的检测装置能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。根据本专利技术的一个实施例，所述每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。根据本专利技术的一个实施例，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管持续熄灭时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。根据本专利技术的一个实施例，当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管发光时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。根据本专利技术的一个实施例，所述检测单元包括多个光电探测器，所述多个光电探测器对应感应所述多个发光二极管的状态，每个光电探测器用于根据对应的发光二极管的状态生成感应信号，以使所述检测单元根据所述每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。为达到上述目的，本专利技术另一方面实施例提出的一种栅极驱动电路的检测方法，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述多行栅极驱动单元的输出端与多个发光二极管的阳极对应相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述检测方法包括以下步骤：检测每个发光二极管的状态，其中，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。根据本专利技术实施例提出的栅极驱动电路的检测方法，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，进而检测每个发光二极管的状态，并根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本专利技术实施例的检测方法能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。根据本专利技术的一个实施例，所述每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。根据本专利技术的一个实施例，所述根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管持续熄灭，则判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。根据本专利技术的一个实施例，所述根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管发光，则判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。根据本专利技术的一个实施例，通过所述多个光电探测器对应感应所述多个发光二极管的状态，所述方法进一步包括：每个光电探测器根据对应的发光二极管的状态生成感应信号；根据所述每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。附图说明图1是根据本专利技术实施例的栅极驱动电路的检测装置的示意图；以及图2是根据本专利技术实施例的栅极驱动电路的检测方法的流程图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面参考附图来描述本专利技术实施例的栅极驱动电路的检测装置和方法，其中，该检测装置和方法可用于对面板例如液晶面板上的栅极驱动电路进行故障测试。图1是根据本专利技术实施例的栅极驱动电路的检测装置的示意图。如图1所示，栅极驱动电路100具有多行栅极驱动单元，例如第一行栅极驱动单元GOA1、第二行栅极驱动单元GOA2、第三行栅极驱动单元GOA3，……，第n行栅极驱动单元GOAn。多行栅极驱动单元对应具有多个输出端，例如，第一行栅极驱动单元GOA1的输出端Out1、第二行栅极驱动单元GOA2的输出端Out2、第三行栅极驱动单元GOA3的输出端Out3，……，第n行栅极驱动单元GOAn的输出端Outn。多行栅极驱动单元可按照预设控制时序依次进行信号输出，每行栅极驱动单元可在自身的信号输出时序进行信号输出，并在自身的无信号输出时序不进行信号输出，例如，可将预设周期分为n个时间段，按照预设控制时序，第一行栅极驱动单元GOA1可在第一时间段通过输出端Out1进行信号输出，即第一时间段为第一行栅极驱动单元GOA1的信号输出时序，而其他时间段为第一行栅极驱动单元GOA1的无信号输出时序；依次类推，第n行栅极驱动单元GOAn可在第n时间段通过输出端Outn进行信号输出，即第n时间段为第n行栅极驱动单元GOAn的信号输出时序，而其他时间段为第n行栅极驱动单元GOAn的无信号输出时序。如图1所示，检测装置200包括多个发光二极管(例如第一发光二极管D1、第二发光二极管D2、第三发光二极管D3、…、第n发光二极管Dn)，以及检测单元201。多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元10的输出端相连，多个发光二极管D1的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端V相连。也就是说，多个发光二极管采用共阴极接法，即多个发光二极管D1的阴极连接在一起后连接至预设控制信号提供端V，每个发光二极管的阳极对应连接至每一行栅极驱动单元的输出端。具体来说，每个发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述检测装置包括：多个发光二极管，所述多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；检测单元，所述检测单元用于检测所述每个发光二极管的状态，以根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

【技术特征摘要】
1.一种栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述检测装置包括：多个发光二极管，所述多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；检测单元，所述检测单元用于检测所述每个发光二极管的状态，以根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。2.根据权利要求1所述的栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，所述每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。3.根据权利要求2所述的栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管持续熄灭时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。4.根据权利要求2所述的栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管发光时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。5.根据权利要求1-4中任一项所述的栅极驱动电路的检测装置，其特征在于，所述检测单元包括多个光电探测器，所述多个光电探测器对应感应所述多个发光二极管的状态，每个光电探测器用于根据对应的发光二极管的状态生成感应信号，以使所述检测单元根据所述每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。6.一种栅极驱动电路的检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁丽君，姚星，王志冲，韩明夫，商广良，韩承佑，金志河，郑皓亮，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11