一种激光测量方法、装置以及系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种激光测量方法、装置以及系统，其中，该测量方法应用于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，该方法包括：针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述线性度补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。该方法能够提高测量速度，提升测量效率。

Laser measuring method, device and system

The invention provides a laser measurement method, device and system, wherein, the measuring method used in laser measuring system includes a plurality of laser displacement sensor, the method includes: linearity compensation for laser displacement sensor to obtain linearity compensation data; for all the laser displacement sensor of measuring head joint correction. For each laser displacement sensor bias correction data; when measuring the obtained data of the object to be measured, according to the measured data, the linearity compensation data and the deviation correction data, calculate the data size of the object to be measured. This method can improve the measurement speed and the measurement efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种激光测量方法、装置以及系统
本专利技术涉及测量
，具体而言，涉及一种激光测量方法、装置以及系统。
技术介绍
品质检验又称质量检验，是指在生产过程中，运用各种检验手段，包括感官检验、化学检验、仪器分析、物理测试、微生物学检验的方式，对生产的待测量物体进行品质、规格、等级的检验，确定待测量物体是否符规定的过程。品质检验在现代工业，尤其是精密制造业中占据相当重要位置。品质检验过程中，在对待测量物体的尺寸进行测量的时候，一般是使用激光测量软件配合XYZ三维运动平台，通过移动激光位移传感器进行尺寸测量。但是目前的激光测量软件都是针对单激光位移传感器测量，在测量的时候，需要对XYZ三维运动平台进行复杂的操作，才能够获得实际测量数据，测量速度慢，效率低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种激光测量方法、装置以及系统，能够提高测量速度，提升测量效率。第一方面，本专利技术实施例提供了一种激光测量方法，该测量方法应用于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，该方法包括：针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述线性度补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：所述针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据具体包括：移动XYZ三维运动平台，使得标准片进入所述激光位移传感器测量量程的中心位置；所述标准片放置于所述XYZ三维运动平台上；获取所述标准片在中心位置的激光测量数据；根据所述激光测量数据以及所述激光位移传感器测量量程，计算所述线性度补偿数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：所述对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个所述激光位移传感器的校正偏差数据，具体包括：调整所有所述激光位移传感器，使得所有激光位移传感器的探测头均朝向球形标准件的顶点；获取每一个所述激光位移传感器对所述球形标准件的顶点测量坐标；根据所述顶点测量坐标以及所述球形标准件的顶点实际坐标，计算每一个激光位移传感器的校正偏差数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中：通过下述步骤获取待测量物体的测量数据：控制所述XYZ三维运动平台按照预设的路径移动；在所述XYZ三维运动平台移动的过程中，获取放置在所述XYZ三维运动平台上的待测量物体在不同激光位移传感器中的位移采样数据；根据不同激光位移传感器的位移采样数据，获取待测量物体的测量数据。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中：还包括：将所述尺寸数据以及预设的基准信息进行差值运算，获取差值运算结果；根据所述差值运算结果以及预设的产品分级信息，对待测量物体进行分级。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中：还包括：根据所述激光位移传感器的位移采样数据，对待测量物体进行实时轮廓显示。第二方面，本专利技术实施例还提供一种激光测量装置，该装置设置于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，该装置包括：线性度补偿数据获取单元，用于针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；校正偏差数据获取单元，用于对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；尺寸数据获取单元，用于当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述线性度补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中：所述线性度补偿数据获取单元具体包括：运动平台控制模块，用于移动XYZ三维运动平台，使得标准片进入所述激光位移传感器测量量程的中心位置；所述标准片放置于所述XYZ三维运动平台上；激光测量数据获取模块，用于获取所述标准片在中心位置的激光测量数据；线性度补偿数据计算模块，用于根据所述激光测量数据以及所述激光位移传感器测量量程，计算所述线性度补偿数据。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，其中：所述校正偏差数据获取单元具体包括：位移传感器调整模块，用于调整所有所述激光位移传感器，使得所有激光位移传感器的探测头均朝向球形标准件的顶点；顶点测量坐标获取模块，用于获取每一个所述激光位移传感器对所述球形标准件的顶点测量坐标；校正偏差数据计算模块，用于根据所述顶点测量坐标以及所述球形标准件的顶点实际坐标，计算每一个激光位移传感器的校正偏差数据。第三方面，本专利技术实施例还提供一种激光测量系统，包括：XYZ三维运动平台，以及如上述第二方面任意一项所述的激光测量装置；所述激光测量装置还连接有多个激光位移传感器。本专利技术实施例所提供的激光测量方法、装置以及系统，应用于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，所述激光位移传感器包括：激光位移传感器以及点激光位移传感器。其先针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；再对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；在获取待测量物体的测量数据时，使用线性度补偿数据以及校正偏差数据对测量数据进行校正，最终获得待测量物体的尺寸数据，这个过程中，采用了多个激光位移传感器，要获得完整的尺寸数据，XYZ三维运动平台不需要经过复杂的移动，只需要移动三维运动平台，到达预设的观测点即可通过多个激光位移传感器同时对带测量物体进行测量，测量速度快，效率更高。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了本专利技术实施例所提供的一种激光测量方法的流程图；图2示出了本专利技术实施例所提供的激光测量方法中，针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据的具体方法的流程图；图3示出了本专利技术实施例所提供的激光测量方法中，对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个所述激光位移传感器的校正偏差数据的具体方法的流程图；图4示出了本专利技术实施例所提供的激光测量方法中，获取待测量物体的测量数据的具体方法的流程图；图5示出了本专利技术实施例所提供的一种激光测量装置的结构示意图；图6示出了本专利技术实施例所提供的激光测量装置中，线性度补偿数据获取单元的具体结构示意图；图7示出了本专利技术实施例所提供的激光测量装置中，校正偏差数据获取单元的具体结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光测量方法，其特征在于，该测量方法应用于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，该方法包括：针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述线性度补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。

【技术特征摘要】
1.一种激光测量方法，其特征在于，该测量方法应用于包括多个激光位移传感器的激光测量系统中，该方法包括：针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个激光位移传感器的校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述线性度补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据具体包括：移动XYZ三维运动平台，使得标准片进入所述激光位移传感器测量量程的中心位置；所述标准片放置于所述XYZ三维运动平台上；获取所述标准片在中心位置的激光测量数据；根据所述激光测量数据以及所述激光位移传感器测量量程，计算所述线性度补偿数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所有激光位移传感器进行多测头联合校正，获取每一个所述激光位移传感器的校正偏差数据，具体包括：调整所有所述激光位移传感器，使得所有激光位移传感器的探测头均朝向球形标准件的顶点；获取每一个所述激光位移传感器对所述球形标准件的顶点测量坐标；根据所述顶点测量坐标以及所述球形标准件的顶点实际坐标，计算每一个激光位移传感器的校正偏差数据。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，通过下述步骤获取待测量物体的测量数据：控制所述XYZ三维运动平台按照预设的路径移动；在所述XYZ三维运动平台移动的过程中，获取放置在所述XYZ三维运动平台上的待测量物体在不同激光位移传感器中的位移采样数据；根据不同激光位移传感器的位移采样数据，获取待测量物体的测量数据。5.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，还包括：将所述尺寸数据以及预设的基准信息进行差值运算，获取差值运算结果；根据所述差值运算...

【专利技术属性】
技术研发人员：张超，
申请(专利权)人：苏州光照精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32