金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置制造方法及图纸

金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，涉及短路测试技术领域，包括载体盒，所述载体盒内设有PCB电路板，所述PCB电路板上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路。该短路快速测试装置根据引线数目设置了主体电路结构，通过单次测试即可判断金属封装外壳是否合格，提高了金属封装外壳短路测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置
本技术涉及短路测试
，更具体的涉及金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置。
技术介绍
由于受到陶瓷配件生产过程中导电物质的污染、产品配件装架烧结过程中石墨等导电物质污染、生产过程中其他导电物质污染等因素的影响，金属封装外壳在电镀过程中引线焊盘经常出现爬金短路或疑似短路导致产品失效的问题。为了杜绝引线短路或疑似短路产品流入生产线，必须对该类产品进行引线短路测试筛选。但是当金属封装外壳的引线数量较多时，若采用传统的万用表短路测试方法，则对引线短路筛选测试的工作量极大、操作繁琐、效率低、耗时长。
技术实现思路
本技术的目的在于提供金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，解决了传统短路测试方法操作繁琐、工作效率低的问题，提高了金属封装外壳引线间短路测试的效率。本技术所要解决的技术问题采用以下技术方案实现。金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，包括载体盒，所述载体盒内设有PCB电路板，所述PCB电路板上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路。进一步，所述左侧引线测试电路和右侧引线测试电路分别包括至少一个引线短路显示单元，所述引线短路显示单元的两端分别连接有用于和金属封装外壳的引线连接的细探针，其中相邻引线短路显示单元之间共用一个细探针。进一步，所述外壳测试电路包括引线短路显示单元，所述引线短路显示单元的正、负极分别连接有用于和金属封装外壳的引线连接的细探针、用于和金属封装外壳本体连接的粗探针。进一步，所述引线短路显示单元包括第一电池、第一LED灯和蜂鸣器，所述第一LED灯和蜂鸣器并联后与第一电池串联。进一步，所述右侧引线测试电路和外壳测试电路之间连接有外壳短路显示单元，所述外壳短路显示单元包括第二电池和第二LED灯，第二电池的正、负极分别与外壳测试电路和第二LED灯连接。进一步，所述左侧引线测试电路中引线短路显示单元的个数为6，右侧引线测试电路中引线短路显示单元的个数为5。本技术的有益效果为：该短路测试装置根据引线数目设置了多个测试单元，通过单次测试即可判断金属封装外壳是否合格，提高了金属封装外壳短路测试的效率。附图说明图1为短路快速测试装置结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术进行进一步说明。图1所示，金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，包括载体盒1，所述载体盒1内设有PCB电路板2，所述PCB电路板2上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路3、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路4，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路5。所述左侧引线测试电路3和右侧引线测试电路4分别包括至少一个引线短路显示单元30，所述引线短路显示单元30的两端分别连接有用于和金属封装外壳的引线连接的细探针31，其中相邻引线短路显示单元30之间共用一个细探针31。所述外壳测试电路5包括引线短路显示单元30，所述引线短路显示单元30的正、负极分别连接有用于和金属封装外壳的引线连接的细探针31、用于和金属封装外壳本体连接的粗探针52。所述引线短路显示单元30包括第一电池301、第一LED灯302和蜂鸣器303，所述第一LED灯302和蜂鸣器303并联后与第一电池301串联。所述右侧引线测试电路4和外壳测试电路5之间连接有外壳短路显示单元50，所述外壳短路显示单元50包括第二电池501和第二LED502灯，第二电池501的正、负极分别与外壳测试电路5和第二LED灯502连接。所述金属封装外壳为被测试的产品，以2113型金属封装外壳而言，其左右两侧分别有7根引线，相应的短路测试装置的左右两端分别设置7根细探针31，即左侧引线测试电路3中引线短路显示单元301的个数为6，右侧引线测试电路4中引线短路显示单元301的个数为5。对该2113型金属封装外壳进行短路测试包括：(1)测试14根引线中相邻或不相邻引线间是否短路，两两测点，共有81种组合方式；(2)测试引线与壳体间是否短路，共14种组合方式。14跟引线中有一根引线为短路腿，该引线与壳体之间短路，其余引线与壳体之间、所有引线之间不短路，产品合格。当对2113型金属封装外壳进行短路测试时，将金属封装外壳的壳体与粗探针32接触，金属封装外壳的引线分别与细探针31接触。若任意两引线间或壳体与引线间连接的蜂鸣器303鸣响、第一LED灯302亮，则表明该两引线间或非短路退引线与壳体存在短路问题，产品不合格；若第一LED灯502不亮，则表明短路腿和壳体之间不短路，产品不合格；否则，产品合格。每个2113型金属封装外壳只需进行一次短路测试，即可判断产品是否合格。以上内容是结合具体的实施例对本专利技术所作的详细说明，本行业的技术人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制。对于本专利技术所属
的技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本专利技术保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，其特征在于:包括载体盒(1)，所述载体盒(1)内设有PCB电路板(2)，所述PCB电路板(2)上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路(3)、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路(4)，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路(5)。

【技术特征摘要】
1.金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，其特征在于:包括载体盒(1)，所述载体盒(1)内设有PCB电路板(2)，所述PCB电路板(2)上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路(3)、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路(4)，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路(5)。2.根据权利要求1所述的金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，其特征在于:所述左侧引线测试电路(3)和右侧引线测试电路(4)分别包括至少一个引线短路显示单元(30)，所述引线短路显示单元(30)的两端分别连接有用于和金属封装外壳的引线连接的细探针(31)，其中相邻引线短路显示单元(30)之间共用一个细探针(31)。3.根据权利要求1所述的金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，其特征在于:所述外壳测试电路(5)包括引线短路显示单元(30)，所述引线短路显示单元(30)的正、负极分别连接有...

【专利技术属性】
技术研发人员：金鑫，
申请(专利权)人：合肥圣达电子科技实业有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34