阵列基板测试电路和阵列基板制造技术

本发明专利技术实施例提供一种阵列基板测试电路，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。该测试电路的排布可以充分利用阵列基板的长度方向的空间，从而可以节省，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板测试电路和阵列基板
本专利技术涉及测试设备领域，特别是涉及一种阵列基板测试电路和阵列基板。
技术介绍
随着LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)显示技术的不断发展，LTPS(LowTemperaturePoly-silicon，低温多晶硅技术)工艺面板被认为是目前全球高端应用市场最具发展前景的主流显示技术之一。但因LTPS工艺面板中的阵列制程复杂导致产品良率不高，出货需求缺口大。而阵列测试(ArrayTester，缩写ATS)检查可以监控LTPS制程，反馈产线，达到不断提高良率之目的。所以大多产都会对产品进行ATS检查。现有技术中ATS检查中主要采用全接脚探针(Full-PinContactProbing)方式进行。请参阅图1，现有技术中测试电路主要包括子像素31、源极信号源32、开关控制电路33和开关34。开关控制电路33控制开关34的导通，从而控制源极信号到达子像素31，从而进行测试。这种ATS测试电路的缺点在于，需要占用面板的边框空间，会影响产品设计架构。尤其对于窄边框产品的边框较小，因此无法放置测试所需要的测试电路，造成制程无法监控的现象。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供阵列基板测试电路，该测试电路的排布可以充分利用阵列基板的长度方向的空间，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。本专利技术的另一目的在于提供采用上述测试电路的阵列基板。为了实现上述目的，本专利技术实施方式提供如下技术方案：本专利技术提供一种阵列基板测试电路，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。其中，所述测试单元的数量为多个，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。其中，所述多个测试单元中的多个源极信号源沿所述第一方向依次排布。其中，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源中。其中，所述阵列基板测试电路还包括开关电路，所述测试单元还包括第二开关单元，所述第二开关单元连接在所述源极信号源和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元的导通，以使得源极信号传输至所述第一开关单元。本专利技术还提供一种阵列基板，包括测试电路，所述测试电路包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元及所述多个子像素电极一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。其中，所述测试单元的数量为多个，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。其中，所述多个测试单元中的多个源极信号源沿所述第一方向依次排布。其中，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源中。其中，所述阵列基板测试电路还包括开关电路，所述测试单元还包括第二开关单元，所述第二开关单元连接在所述源极信号源和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元的导通，以使得源极信号传输至所述第一开关单元。本专利技术实施例具有如下优点或有益效果：本专利技术的实施例中，源极信号源S、所述第一开关单元(Q1-Qn)和所述子像素依次连接，所述源极信号源S与所述多个切换控制单元(sw1-swn)沿第一方向排布，所述多个切换控制单元(sw1-swn)、所述多个第一开关单元(Q1-Qn)及所述多个子像素电极21一一对应，实现对子像素的测试，该测试电路的排布可以充分利用ArrayTest区域11的长度方向的空间，从而可以节省ArrayTest区域11宽度方向的空间，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有技术阵列基板测试电路结构示意图。图2是本专利技术所述的阵列基板结构示意图。图3是图2所述的阵列基板中的测试电路的一种结构示意图。图4是图2所述的阵列基板中的测试电路的另一种结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。此外，以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。本专利技术中所提到的方向用语，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“侧面”等，仅是参考附加图式的方向，因此，使用的方向用语是为了更好、更清楚地说明及理解本专利技术，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸地连接，或者一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外，在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。若本说明书中出现“工序”的用语，其不仅是指独立的工序，在与其它工序无法明确区别时，只要能实现该工序所预期的作用则也包括在本用语中。另外，本说明书中用“～”表示的数值范围是指将“～”前后记载的数值分别作为最小值及最大值包括在内的范围。在附图中，结构相似或相同的用相同的标号表示。请参阅图2。图2为本专利技术的阵列基板结构示意图。本专利技术的阵列基板包括：测试电路区域11(也即ArrayTest区域)、显示区域12(AA区)，GOA(GateOnArray)区域13、多路复用选择(Demux)区域14、扇出(Fanout)区域15、WOA(WireOnArray)区域16、驱动芯片(IC)区域17、柔性连接器(FPC)区域18。其中，ArrayTest区域11用于在阵列(Array)基板制作完成之后，对Array基板的电性进行测试，本专利技术的阵列基板测试电路除子像素外都位于ArrayTest区域11；AA区12包括多个像素单元，每个像素单元包括红色子像素、蓝色子像素、绿色子像本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。2.如权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述测试单元的数量为多个，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。3.如权利要求2所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述多个测试单元中的多个源极信号源沿所述第一方向依次排布。4.如权利要求3所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源中。5.如权利要求3所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路还包括开关电路，所述测试单元还包括第二开关单元，所述第二开关单元连接在所述源极信号源和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元的导通，以使得源极信号传输至所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯鹏飞，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42