开槽零件尺寸测量用具制造技术

本发明专利技术公开了一种开槽零件尺寸测量用具，包括均通过紧固螺钉安装于测长仪的测量杆上的一对测量具组件，所述测量具组件包括过盈连接的测帽和测头。本发明专利技术安装在测长仪的测量杆上，直接接触测量被测零件的开槽部位外径，实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量，比较现有的测量方法，测量值更加准确，测量范围更大，工作效率更高。

【技术实现步骤摘要】
开槽零件尺寸测量用具
本专利技术属于一种尺寸测量工具，具体涉及一种开槽零件尺寸测量用具。
技术介绍
目前有些开槽零件外径尺寸的测量，虽然有的测量器具能够进行测量，但是量具测量精度较低，且不能精确调整零件的轴线方向与量具测量面的垂直度，因此达不到精密检测要求。对于外面缠有其它材料的被测金属零件，在被测截面要求精确测量该位置金属部分外径，开槽宽度限定很窄的情况下，去掉上述缠绕材料后，进行测量，目前采用非接触式测量方法，利用万能工具显微镜或者影像测量仪。测量时，将零件被测位置置于仪器视场内，聚焦被测直径边缘，得出测量值，上述非接触式测量方法有如下弊端：存在系统误差，由于圆形尺寸，特别是较大圆形尺寸边缘轮廓，经过光路成像后有较大散射，影像不很清晰准确，测量误差较大；存在人为误差，测量人员在调焦过程中，不同的人员存在视差，因此测量结果存在人为误差；视场不清晰，如果有开槽时未清理干净的碎屑，测量时影像不清晰，影响聚焦，因此不能准确的完成测量。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种开槽零件尺寸测量用具。本专利技术的技术方案是：一种开槽零件尺寸测量用具，包括均通过紧固螺钉安装于测长仪的测量杆上的一对测量具组件，所述测量具组件包括过盈连接的测帽和测头。所述测帽为中间形成阶梯孔的圆柱形结构，阶梯孔大孔端端面形成圆台，大孔端中段外壁一侧形成凸起，另一侧形成半圆型凸弧，凸起上形成沿径向设置的螺孔。所述凸起的上端面为圆弧面，两侧面为相互对称的两个平面，且两侧面均与上端面所在圆相交，与测帽外壁所在圆相切。所述阶梯孔的大孔端内径与测量杆外径小间隙配合。所述测头由阶梯轴状连接部和由连接部大径段端面对称中心线圆弧过渡成薄片形状的测量部组成。所述测量部的薄片处的厚度为小于被测开槽尺寸的宽度，薄片处的长度大于开槽尺寸的深度。所述连接部小径段外径与阶梯孔小孔端内径过盈配合。本专利技术的有益效果是：本专利技术安装在测长仪的测量杆上，直接接触测量被测零件的开槽部位外径，实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量，比较现有的测量方法，测量值更加准确，测量范围更大，工作效率更高。本专利技术不同于现有的非接触式测量方法，避免了由于零件边缘轮廓，经过光路成像后有较大散射，影像不很清晰，还有，对于外面缠有其他材料，且开槽宽度很窄，开槽后缠绕材料的碎屑不易清理干净，影响测量聚焦，导致测量尺寸误差较大的问题，通过测量具的薄片部分对开槽零件进行接触测量，测量中能够调整零件轴线与测头的垂直，能精确调整至最大直径位置，实现了开槽部位外径尺寸的接触式精密测量方法，能够测量任意轴向和径向指定位置的直径尺寸，提高测量准确度和测量效率。附图说明图1是本专利技术一种开槽零件尺寸测量用具使用状态示意图（俯视图）；图2是本专利技术一种开槽零件尺寸测量用具使用状态示意图（主视图）；图3是本专利技术一种开槽零件尺寸测量用具的俯视图；图4是本专利技术一种开槽零件尺寸测量用具的主视图；图5是本专利技术中测帽的主视图；图6是本专利技术中测帽的右视图；图7是本专利技术中测头的俯视图；图8是本专利技术中测头的主视图。其中：a/b/c/d为要求测量径向位置；A、B为零件轴向测量截面位置；1测量具组件2测帽3测头4紧固螺钉5测量杆6测长仪工作台7定位块8被测零件21阶梯孔22圆台23凸起24凸弧25螺孔31连接部32测量部。具体实施方式下面结合说明书附图及实施例对本专利技术一种开槽零件尺寸测量用具进行详细说明：如图3~8所示，一种开槽零件尺寸测量用具，包括均通过紧固螺钉4安装于测长仪的测量杆5上的一对测量具组件1，所述测量具组件1包括过盈连接的测帽2和测头3。所述测帽2为中间形成阶梯孔21的圆柱形结构，阶梯孔21大孔端端面形成圆台22，大孔端中段外壁一侧形成凸起23，另一侧形成半圆型凸弧24，凸起23上形成沿径向设置的螺孔25。所述凸起23的上端面为圆弧面，两侧面为相互对称的两个平面，且两侧面均与上端面所在圆相交，与测帽2外壁所在圆相切。所述阶梯孔21的大孔端内径与测量杆5外径小间隙配合。所述测头3由阶梯轴状连接部31和由连接部31大径段端面对称中心线圆弧过渡成薄片形状的测量部32组成。测量部32的薄片处直接测量开槽外径尺寸。所述测量部32的薄片处的厚度为小于被测开槽尺寸的宽度，薄片处的长度大于开槽尺寸的深度。所述连接部31小径段外径与阶梯孔21小孔端内径过盈配合。本专利技术的使用方法：a）调整零位将测量具组件1固定在测长仪两端测量杆5上，使两个测量部32的薄片面水平放置，锁紧紧固螺钉4，当被测零件8尺寸小于100mm时，调整使测长仪使两个测头3的测量面平行并接触，调整仪器读数为零，当零件的尺寸大于100mm，用一个小于零件尺寸，优选是整数的四等量块，调整仪器的零位，直至仪器毫米读数为零，毫米以下读数为量块的偏差，即调整好仪器的零位，将测长仪活动端移开，两测头之间距离大于零件的最大直径10mm以上。b)放置零件按照图1所示，首先将被测零件8平放在测长仪工作台6上，使被测零件8底面与测长仪工作台6接触，被测零件8在测长仪工作台6上的左右位置要保证两端的测头3能够接触到被测面，在工作台上放置一个薄型V型定位块7固定被测零件8。c)调整仪器粗调测长仪工作台6上下位置，见图2，并移动被测零件8使其中心通过两个测头中心线位置，并使测头3的测量部32的薄片状部分进入A截面开槽部位；先粗调平台前后位置见图1，和测长仪工作台6左右摆动角度见图2，然后微调测长仪工作台6平台前后位置，在镜头中找到最大值，最后微调工作台左右摆动角度，找到最小值，此时镜头中读数值，加上量块数值即为开槽直径测量值。d)移开测长仪测量杆5活动一端，保持V型定位块7不动，径向转动被测零件845度，至第b位置，重复b)和c)步骤。按上述方法，分别出测量c和d位置直径尺寸。e）完成A截面尺寸测量之后，移开测长仪活动一端，并将被测零件8移出，升高仪器工作台，至B截面开槽位置，重复b)、c)及d）步骤，按上述方法，分别测量出a至d位置直径尺寸。本专利技术安装在测长仪的测量杆上，直接接触测量被测零件的开槽部位外径，实现该类零件开槽尺寸接触式精密测量，比较现有的测量方法，测量值更加准确，测量范围更大，工作效率更高。本专利技术不同于现有的非接触式测量方法，避免了由于零件边缘轮廓，经过光路成像后有较大散射，影像不很清晰，还有，对于外面缠有其他材料，且开槽宽度很窄，开槽后缠绕材料的碎屑不易清理干净，影响测量聚焦，导致测量尺寸误差较大的问题，通过测量具的薄片部分对开槽零件进行接触测量，测量中能够调整零件轴线与测头的垂直，能精确调整至最大直径位置，实现了开槽部位外径尺寸的接触式精密测量方法，能够测量任意轴向和径向指定位置的直径尺寸，提高测量准确度和测量效率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开槽零件尺寸测量用具，其特征在于：包括均通过紧固螺钉（4）安装于测长仪的测量杆（5）上的一对测量具组件（1），所述测量具组件（1）包括过盈连接的测帽（2）和测头（3）。

【技术特征摘要】
1.一种开槽零件尺寸测量用具，其特征在于：包括均通过紧固螺钉（4）安装于测长仪的测量杆（5）上的一对测量具组件（1），所述测量具组件（1）包括过盈连接的测帽（2）和测头（3）。2.根据权利要求1所述的一种开槽零件尺寸测量用具，其特征在于：所述测帽（2）为中间形成阶梯孔（21）的圆柱形结构，阶梯孔（21）大孔端端面形成圆台（22），大孔端中段外壁一侧形成凸起（23），另一侧形成半圆型凸弧（24），凸起（23）上形成沿径向设置的螺孔（25）。3.根据权利要求2所述的一种开槽零件尺寸测量用具，其特征在于：所述凸起（23）的上端面为圆弧面，两侧面为相互对称的两个平面，且两侧面均与上端面所在圆相交，与测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘红，王超，姚江伟，张云江，付胜楠，刘海梅，曹昆武，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：天津,12