一种服务器内存测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种服务器内存测试方法及装置，包括：确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；还包括：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。本发明专利技术能够较准确的检测服务器内存的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种服务器内存测试方法及装置
本专利技术涉及服务器
，特别涉及一种服务器内存测试方法及装置。
技术介绍
服务器内存是数据与处理器进行沟通的桥梁。服务器内存一旦无法进行稳定工作，那么这将很可能会导致整个服务器系统瘫痪。因此，在产品发布之前，还需对服务器内存进行测试。目前，在对服务器内存进行测试时，主要是通过测试服务器内存在常温下能否稳定工作。但是由于影响服务器内存稳定性的因素不只包括温度，还有供电电压等其它因素，而且，单就测试一个标准状态下的值，也并不能说明在允许的温度变化范围内，服务器内存能够稳定工作。可见，如何能够较准确的检测服务器内存的稳定性成为目前亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种服务器内存测试方法及装置，能够较准确的检测服务器内存的稳定性。第一方面，本专利技术实施例提供了一种服务器内存测试方法，包括：确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；还包括：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。优选地，进一步包括：确定每一个所述测试项目分别对应的标准值；利用各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；在所述控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行之前，进一步包括：控制所述待测试服务器内存在所述第二测试环境下运行。优选地，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。优选地，进一步包括：确定所述供电电压对应的标准值；确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值，包括：利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述供电电压对应的所述第二耐受阈值。优选地，所述利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境下，包括：通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。优选地，所述第一耐受阈值为5％，所述第二阈值为5％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.14V，所述上限值为1.26V；或，所述第一耐受阈值为3％，所述第二耐受阈值为4.4％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.164V，所述上限值为1.2528V。第二方面，本专利技术实施例提供了一种服务器内存测试装置，包括：第一确定单元，用于确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；第二确定单元，用于确定所述第一确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；第一设置单元，用于从所述第二确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；第一测试单元，用于控制所述待测试服务器内存在所述第一设置单元设置的所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；第三确定单元，用于根据所述第一测试单元生成的所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。优选地，进一步包括：第四确定单元，用于确定所述第一确定单元确定出的每一个所述测试项目分别对应的标准值；第二设置单元，用于利用所述第四确定单元确定出的各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；第二测试单元，用于控制所述待测试服务器内存在所述第二设置单元设置的所述第二测试环境下运行。优选地，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。优选地，进一步包括：第五确定单元，用于确定所述供电电压对应的标准值；第六确定单元，用于确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述第二确定单元，具体用于利用如下公式1，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述第五确定单元确定出的所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述第六确定单元确定出的所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式2，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述第五确定单元确定出的所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述第六确定单元确定出的所述供电电压对应的所述第二耐受阈值；和/或，所述第一设置单元，具体用于通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。本专利技术实施例提供了一种服务器内存测试方法及装置，通过确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目，以及确定每一个测试项目分别对应的两个极限值，其中，两个极限值分别是相应测试项目对应的上限值和下限值，以及从每一个测试项目分别对应的上限值和下限值中均任意选择出一个，并利用选择出的各个极限值设置待测试服务器内存的测试环境，以使待测试服务器内存在设置的测试环境下运行，并生成运行日志，最终根据该运行日志，确定待测试服务器内存的稳定性。由于在设置测试环境时，每次均是同时利用所有的测试项目分别对应的一个极限值，而不再是只利用单个测试项目的一个标准值，从而能够较准确的检测待测试服务器内存的稳定性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一个实施例提供的一种服务器内存测试方法的流程图；图2是本专利技术另一个实施例提供的一种服务器内存测试方法的流程图；图3是本专利技术实施例提供的服务器内存测试装置所在设备的硬件架构图；图4是本专利技术一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图；图5是本专利技术另一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图；图6是本专利技术又一个实施例提供的一种服务器内存测试装置的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种服务器内存测试方法，该方法可以包括以下步骤：步骤101：确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目。步骤102本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种服务器内存测试方法，其特征在于，确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；还包括：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。

【技术特征摘要】
1.一种服务器内存测试方法，其特征在于，确定对应待测试服务器内存的至少两个测试项目；确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值；从每一个所述测试项目分别对应的两个极限值中选择出一个目标极限值，利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境；还包括：控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行，并生成运行日志；根据所述运行日志确定所述待测试服务器内存是否稳定运行。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：确定每一个所述测试项目分别对应的标准值；利用各个所述标准值设置所述待测试服务器内存的第二测试环境；在所述控制所述待测试服务器内存在所述第一测试环境下运行之前，进一步包括：控制所述待测试服务器内存在所述第二测试环境下运行。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试项目包括：温度和供电电压；所述两个极限值包括：上限值和下限值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，进一步包括：确定所述供电电压对应的标准值；确定所述供电电压对应的第一耐受阈值和第二耐受阈值；所述确定每一个所述测试项目分别对应的两个极限值，包括：利用如下公式，计算所述供电电压对应的所述下限值；M＝U*(1-λ)其中，M表征所述供电电压对应的所述下限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；λ表征所述供电电压对应的所述第一耐受阈值；利用如下公式，计算所述供电电压对应的所述上限值；S＝U*(1+μ)其中，S表征所述供电电压对应的所述上限值；U表征所述供电电压对应的所述标准值；μ表征所述供电电压对应的所述第二耐受阈值。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述利用选择出的各个所述目标极限值设置所述待测试服务器内存的第一测试环境下，包括：通过登入基本输入输出系统BIOS界面，设置所述待测试服务器内存的所述供电电压为相应的所述上限值或所述下限值；通过温度模拟装置，设置所述待测试服务器内存的所述温度为相应的所述上限值或所述下限值。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一耐受阈值为5％，所述第二阈值为5％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.14V，所述上限值为1.26V；或，所述第一耐受阈值为3％，所述第二耐受阈值为4.4％；和/或，所述供电电压对应的所述下限值为1.164V，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：马壮，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41