电阻器筛选工艺方法技术

本发明专利技术提供了一种电阻器筛选工艺方法，涉及电子元件领域。该电阻器筛选工艺方法通过在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间，若电阻器的电镀阻挡层存在缺陷，电阻器的电极层和表面锡铅层会发生缓慢相融的现象，从而导致电阻器的电阻发生变化，此时测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品，从而非常有效的剔除不良的电阻器，提高了电阻器的出厂的合格率。

Resistor screening process

The invention provides a method for screening a resistor, relating to the field of electronic components. Screening process through the resistor in the first preset temperature range, for the first time set to use pre baking oven if the resistors, resistor plating barrier defects, electrode layer and surface layer of tin lead resistor will happen slowly blending phenomenon, which leads to the resistance of the resistor is changed, the resistance measuring resistor whether the resistance pre-set value range; if the resistance of the resistor in the preset resistance value range, the resistor is determined as the bad products, it is very effective in eliminating electrical resistance poor, improve the qualified rate of resistor factory.

【技术实现步骤摘要】
电阻器筛选工艺方法
本专利技术涉及电子元件领域，具体而言，涉及一种电阻器筛选工艺方法。
技术介绍
片式电阻器亦称表面贴装电阻器，它与其它片式元器件(SMC及SMD)一样，是适用于表面贴装技术(SMT)的新一代无引线或短引线微型电子元件，其引出端的焊接面在同一平面上。片式压敏电阻器(VARISTOR)是压敏电阻器的一种.它是用氧化锌非线性电阻元件作为核心而制成的电冲击保护器件。氧化锌非线性电阻元件是以氧化锌(zn0)为主体材料，添加多种其他微量元素，用陶瓷工艺制成的化合物半导体元件。它的基本特性是电流一电压关系的非线性。当加在它两端的电压低于某个阀电压，即“压敏电压”时，它的电阻值极大，为兆欧级；而当加在它两端的电压超过压敏电压后，电阻值随电压的增高急速下降，可小到欧姆级、毫欧姆级。现有技术中，片式电阻器电极部分共由三层构成。第一层为银层。采用丝网印刷工艺形成并在高温下烧结而成，第二层为电镀镍层，第三层为电镀锡铅层，用于片式电阻器与线路板焊接。由于贴装的需要，表面镀层通常为纯锡镀层或者锡铅镀层。但是由于表贴式元器件存在导电部分，通常使用贵金属金、银等作为电极，但是贵金属材料在焊接过程中熔融的金属锡会相互熔融，所以在贵金属电极与金属锡中间需要电镀阻挡层(镍层或铜层)。若阻挡层电镀均匀性差，个别只产品出现阻挡层(镍层)未电镀完整的情况，在焊接过程中会出现底层电极在焊接过程中与熔融的锡相融，消失的问题从而造成电子元器件断路的情况。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电阻器筛选工艺方法，其旨在改善上述的问题。本专利技术提供一种技术方案：本专利技术实施例提供了一种电阻器筛选工艺方法，所述电阻器筛选工艺方法包括：在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间；测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品。进一步地，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并分别维持预设定的第二时间；再次测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品。进一步地，所述不同的温度环境包括有第二测试温度及第三测试温度，所述第二测试温度的温度范围为110度～150度，所述第三测试温度的温度范围为为-50度～-80度。进一步地，所述第二测试温度为125度，所述第三测试温度为-65度。进一步地，所述电阻器包括有电极层，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并分别维持预设定的第二时间；识别所述电极层的外观是否发生变化；若所述电极层的外观发生变化时，将该电阻器确定为不良品。进一步地，所述预设定的第一温度范围为140度～160度，预设定的第一时间为96h～104h。进一步地，所述第一温度为150度，所述第二时间为100h。进一步地，所述在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间的步骤包括：在预设定的第一温度范围下，利用充满惰性气体的烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间。进一步地，所述电阻器包括有电极层，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，识别所述电极层的外观是否变化；若所述电极层的外观发生变化时，将该电阻器确定为不良品。进一步地，所述电阻器包括有镀镍层，在所述测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内的步骤之后，所述方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，利用磁体对所述电阻器进行吸附，若所述电阻器相对所述磁体发生脱落时，将该电阻器确定为不良品。本专利技术提供的电阻器筛选工艺方法的有益效果是：通过在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间，若电阻器的电镀阻挡层存在缺陷，电阻器的电极层和表面锡铅层会发生缓慢相融的现象，从而导致电阻器的电阻发生变化，此时测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品，从而非常有效的剔除不良的电阻器，提高了电阻器的出厂的合格率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1、图2为本专利技术实施例提供提供的电阻器筛选工艺方法的流程图；图3为本专利技术实施例提供的电阻器的结构示意图。图标：201-电极板；202-电极层；203-电镀阻挡层；204-表面锡铅层。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。实施例请参阅图1、图2，本专利技术实施例提供的一种电阻器筛选工艺方法，如图1所示，所述电阻器筛选工艺方法包括：步骤S101：在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间。具体地，本实施例中，如图3所示，电阻器包括电极板201,、电极层202、电镀阻挡层203以及表面锡铅层204，其中，电镀阻挡层203位于电极层202、表面锡铅层204之间。所述预设定的第一温度范围为140度～160度，预设定的第一时间为96h～本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器筛选工艺方法包括：在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间；测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品。

【技术特征摘要】
1.一种电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器筛选工艺方法包括：在预设定的第一温度范围下，利用烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间；测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品。2.根据权利要求1所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并分别维持预设定的第二时间；再次测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品。3.根据权利要求2所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述不同的温度环境包括有第二测试温度及第三测试温度，所述第二测试温度的温度范围为110度～150度，所述第三测试温度的温度范围为为-50度～-80度。4.根据权利要求3所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述第二测试温度为125度，所述第三测试温度为-65度。5.根据权利要求2所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器包括有电极层，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：畅玢，简佩，韩玉成，徐敏，
申请(专利权)人：中国振华集团云科电子有限公司，
类型：发明
国别省市：贵州,52