岩层电阻率校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种岩层电阻率校正方法及装置，该方法包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；进一步地，分别根据不同压力差下岩心的电阻，确定不同压力差下岩心的电阻率，并根据不同压力差下岩心的电阻率，确定模拟应力下的电阻率校正系数；进一步地，根据模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正。可见，通过根据模拟应力下的电阻率校正系数对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，使得校正后的岩层电阻率更加准确，以便于能够根据校正后的岩层电阻率来准确地测定实际的致密砂岩储层的物理特性。

【技术实现步骤摘要】
岩层电阻率校正方法及装置
本专利技术实施例涉及石油天然气勘探
，尤其涉及一种岩层电阻率校正方法及装置。
技术介绍
近年来，致密砂岩储层的勘探越来越受到重视。其中，致密砂岩储层中的致密砂岩气属于非常规油气藏，对非常规油气藏的勘探开发是当前解决我国能源问题很重要的环节。通常情况下，通过对致密砂岩储层的电特性(例如电阻率)的测量来测定致密砂岩储层的物理特性。但现有技术中，由于不同应力作用下岩石孔隙结构的差别会导致复杂油气储集层(例如致密砂岩储层)电阻率的测井响应复杂多变，从而无法根据测量得到电阻率来准确地测定实际的致密砂岩储层的物理特性。
技术实现思路
本申请实施例提供一种岩层电阻率校正方法及装置，通过根据模拟应力下的电阻率校正系数对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，使得校正后的岩层电阻率更加准确，以便于能够根据校正后的岩层电阻率来准确地测定实际的致密砂岩储层的物理特性。第一方面，本申请实施例提供一种岩层电阻率校正方法，包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率；根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。可选地，所述根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数，包括：根据所述不同压力差下岩心的电阻率，采用数学拟合方式确定所述模拟应力下的电阻率校正系数。可选地，若所述模拟应力包括：模拟张性应力，所述根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，包括：根据所述模拟张性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的张性应力下的岩层电阻率进行校正。可选地，所述根据所述模拟张性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的张性应力下的岩层电阻率进行校正，包括：根据公式rt1＝rc1×A1×P1+B1×P1+C1，得到对所述张性应力下的岩层电阻率校正后的电阻率；其中，rt1为所述校正后的电阻率，rc1为所述测量得到的张性应力下的岩层电阻率，P1为测量所述岩层电阻率时的压力差，A1、B1以及C1属于所述模拟张性应力下的电阻率校正系数。可选地，若所述模拟应力包括：模拟压性应力，所述根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，包括：根据所述模拟压性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的压性应力下的岩层电阻率进行校正。可选地，所述根据所述模拟压性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的压性应力下的岩层电阻率进行校正，包括：根据公式rt2＝rc2×A2×P2+B2×P2+C2，得到对所述压性应力下的岩层电阻率校正后的电阻率；其中，rt2为所述校正后的电阻率，rc2为所述测量得到的压性应力下的岩层电阻率，P2为测量所述岩层电阻率时的压力差，A2、B2以及C2属于所述模拟压性应力下的电阻率校正系数。可选地，所述测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻，包括：根据三轴方形夹持器、压力泵以及电阻测量单元，测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述压力泵与所述三轴方形夹持器连接，用于为所述三轴方形夹持器提供围压和轴压；所述电阻测量单元连接至所述三轴方形夹持器的两端，用于测量位于所述三轴方形夹持器中的岩心的电阻。第二方面，本申请实施例提供一种岩层电阻率校正装置，包括：测量模块，用于测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；第一确定模块，用于分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率；第二确定模块，用于根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；校正模块，用于根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。可选地，所述第二确定模块具体用于：根据所述不同压力差下岩心的电阻率，采用数学拟合方式确定所述模拟应力下的电阻率校正系数。可选地，若所述模拟应力包括：模拟张性应力，所述校正模块，包括：第一校正子模块，用于根据所述模拟张性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的张性应力下的岩层电阻率进行校正。可选地，所述第一校正子模块具体用于：根据公式rt1＝rc1×A1×P1+B1×P1+C1，得到对所述张性应力下的岩层电阻率校正后的电阻率；其中，rt1为所述校正后的电阻率，rc1为所述测量得到的张性应力下的岩层电阻率，P1为测量所述岩层电阻率时的压力差，A1、B1以及C1属于所述模拟张性应力下的电阻率校正系数。可选地，若所述模拟应力包括：模拟压性应力，所述校正模块，包括：第二校正子模块，用于根据所述模拟压性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的压性应力下的岩层电阻率进行校正。可选地，所述第二校正子模块具体用于：根据公式rt2＝rc2×A2×P2+B2×P2+C2，得到对所述压性应力下的岩层电阻率校正后的电阻率；其中，rt2为所述校正后的电阻率，rc2为所述测量得到的压性应力下的岩层电阻率，P2为测量所述岩层电阻率时的压力差，A2、B2以及C2属于所述模拟压性应力下的电阻率校正系数。可选地，所述测量模块包括：三轴方形夹持器、压力泵以及电阻测量单元；其中，所述压力泵与所述三轴方形夹持器连接，用于为所述三轴方形夹持器提供围压和轴压；所述电阻测量单元连接至所述三轴方形夹持器的两端，用于测量位于所述三轴方形夹持器中的岩心的电阻；所述测量模块具体用于：根据三轴方形夹持器、压力泵以及电阻测量单元，测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻。本申请实施例中，通过测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；进一步地，分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率，并根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；进一步地，根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。可见，通过根据所述模拟应力下的电阻率校正系数对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，使得校正后的岩层电阻率更加准确，以便于能够根据校正后的岩层电阻率来准确地测定实际的致密砂岩储层的物理特性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1A为本申请岩层电阻率校正方法实施例一的流程示意图；图1B为本申请岩层电阻率校正方法中应用的测量装置结构示意图一；图2A为本申请实施例中岩心的受力方向示意图；图2B为本申请岩层电阻率校正方法中应用的测量装置结构示意图二；图3为不同围压下电阻率随压力差的变化示意图；图4为不同压力差下电阻率随围压的变化示意图；图5为不同轴压下电阻率随压力差的变化示意图；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种岩层电阻率校正方法，其特征在于，包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率；根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。

【技术特征摘要】
1.一种岩层电阻率校正方法，其特征在于，包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率；根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数，包括：根据所述不同压力差下岩心的电阻率，采用数学拟合方式确定所述模拟应力下的电阻率校正系数。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述模拟应力包括：模拟张性应力，所述根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，包括：根据所述模拟张性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的张性应力下的岩层电阻率进行校正。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述模拟张性应力下的电阻率校正系数，对测量得到的张性应力下的岩层电阻率进行校正，包括：根据公式rt1＝rc1×A1×P1+B1×P1+C1，得到对所述张性应力下的岩层电阻率校正后的电阻率；其中，rt1为所述校正后的电阻率，rc1为所述测量得到的张性应力下的岩层电阻率，P1为测量所述岩层电阻率时的压力差，A1、B1以及C1属于所述模拟张性应力下的电阻率校正系数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述模拟应力包括：模拟压性应力，所述根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，包括：根据所述模拟压...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖承文，章成广，信毅，唐军，陈伟中，郑恭明，周磊，韩闯，赵新建，曹军涛，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11