基于多激光测头的平面度快速检测设备制造技术

技术编号:15566088 阅读:129 留言:0更新日期:2017-06-10 00:24
本实用新型专利技术涉及光电测量技术领域,尤其是涉及基于多激光测头的平面度快速检测设备,包括有机座,该机座上端设有检测区,检测区下底透视,在检测区上设有活动夹具,活动夹具用于将被测产品平贴固定在检测区上;在检测区的下方设有多组激光位移测头,多组激光位移测头移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点,多组激光位移测头及其连接的电脑藏于机座内,电脑连接的显示器架设在机座上。本实用新型专利技术提供的基于多激光测头的平面度快速检测设备,采用光电检测技术,优化产品结构,从而到达体积小,检测方便、快捷,检测精度高、稳定性好,适合工业化生产需求,满足多种尺寸大小的产品检测。

【技术实现步骤摘要】
基于多激光测头的平面度快速检测设备
本技术涉及光电测量
,尤其是涉及平面度检测

技术介绍
平面度是属于形位公差中的一种,指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。在传统的检测方法中,平面度的测量通常有:塞规/塞尺测量法、液平面法、激光平面干涉仪测量法(平晶干涉法)、水平仪/数字水平仪测量法、以及打表测量法。塞尺测量法,只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前很多工厂仍使用该方法进行检测。由于其精度不高,常规最薄塞尺为10um,检测效率较低,结果不够全面,只能检测零件边缘。液平面法,基于连通器工作原理,适合测量连续或不连续的大平面的平面度,但测量时间长,且对温度敏感,仅适用于测量精度较低的平面。激光平面干涉仪测量法,最典型的用法是平晶干涉法。但主要于测量光洁的小平面的测量,如手机平面度测量,手机中框平面度测量,量规的工作面,光学透镜。水平仪测量法,广泛用于工件表面的直线度和平面度测量。测量精度高、稳定性好、体积小、携带方便。但是用该方法测量时需要反复挪动仪器位置,记录各测点的数据,费时、费力,调整时间长,数据处理程序繁琐。打表测量法,典型应用为平板测微仪及三坐标仪,其中优以三坐标仪为应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动,按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据,再经过数据处理评定出平面度误差。但其效率较低,通常一个样品需要几分钟,离15ppm的期望相差甚远。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种基于多激光测头的平面度快速检测设备,体积小,检测方便、快捷。为达到上述目的,本技术采用如下技术方案:基于多激光测头的平面度快速检测设备,包括有机座,该机座上端设有检测区,检测区下底透视,在检测区上设有活动夹具,活动夹具用于将被测产品平贴固定在检测区上;在检测区的下方设有多组激光位移测头,多组激光位移测头移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点,多组激光位移测头及其连接的电脑藏于机座内,电脑连接的显示器架设在机座上。所述多组激光位移测头同步移动,通过马达丝杆机构驱动。所述机座上设有可收折的键盘托,键盘托上设有键盘夹及鼠标罩。所述键盘托通过液压杆支顶展开,机座上设有凹槽,该凹槽供键盘托收折容纳。本技术提供的基于多激光测头的平面度快速检测设备,采用光电检测技术,优化产品结构,从而到达体积小,检测方便、快捷,检测精度高、稳定性好,适合工业化生产需求,满足多种尺寸大小的产品检测。附图说明:附图1为本技术较佳实施例结构示意图;附图2为图1实施例的局部放大图;附图3为图1实施例的正视图;附图4为图1实施例的多组激光位移测头工作示意图。具体实施方式:以下将结合附图对本技术的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明,以充分地了解本技术的目的、特征和效果。参阅图1、2、3、4所示,本技术有关一种基于多激光测头的平面度快速检测设备,包括有机座1,机座1为卧式设计,机座1上端设有检测区11,检测区11下底透视,在检测区11上设有活动夹具14,活动夹具用于将被测产品平贴固定在检测区11上。活动夹具14可调整,如图1、2实施例例中,在检测区11上设有多个定位孔111,定位孔111配合活动夹具定位设置,以满足不同尺寸产品的检测,检测区11还可根据检测产品的大小,利用活动夹具调整形成单工位或多工位,由此提升检测效率。在检测区11的下方设有多组激光位移测头2,多组激光位移测头2移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点,多组激光位移测头2及其连接的电脑藏于机座1内,电脑连接的显示器3架设在机座1上,显示器3给予视觉显示,方便检测。本实施例中,所述多组激光位移测头2同步移动,通过马达丝杆机构驱动,切换产品检测时,可实现自动定位调整,无需手动调节激光位移测头2的位置。多组激光位移测头2同时扫描被测产品,获取被测产品表面点云数据及厚度值,然后由电脑根据获取的点云计算平面度,取点数量根据客户要求可以任意设置。平面度计算:利用获取的产品表面点云拟合第一平面,上平移第一平面获得上平面,下平移第一平面获得下平面,使得参与拟合第一平面的点都位于上平面和下平面之间,其中第一平面上方到第一平面的距离最大的点在上平面上,第一平面下方到第一平面的距离最大的点在下平面上,由此上平面和下平面之间的距离即为平面度。图1、3所示,本实施例中,所述机座1上设有可收折的键盘托12,键盘托12上设有键盘夹121及鼠标罩122,键盘夹121为挂钩状,夹紧电脑连接的键盘,而鼠标罩122一侧边与键盘托12铰接,采用翻合方式工作,鼠标罩122合盖鼠标后则通过磁吸固定,达到稳固保护鼠标。本实施例中,键盘托12通过液压杆4支顶展开,方便展开及收者,机座1上设有凹槽13,该凹槽13供键盘托12收折容纳。本技术通过科学合理的结构设计,达到体积小,检测方便、快捷,检测精度高、稳定性好的优点,适合工业化生产需求,满足多种尺寸大小的产品检测。当然,以上虽然结合附图描述了本技术的较佳具体实施例,但本技术不应被限制于与以上的描述和附图完全相同的结构和操作,对本
的技术人员来说,在不超出本技术构思和范围的情况下通过逻辑分析、推理或者有限的实验还可对上述实施例作出许多等效改进和变化,但这些改进和变化都应属于本技术要求保护的范围。本文档来自技高网
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基于多激光测头的平面度快速检测设备

【技术保护点】
基于多激光测头的平面度快速检测设备,其特征在于:包括有机座(1),该机座(1)上端设有检测区(11),检测区(11)下底透视,在检测区(11)上设有活动夹具(14),活动夹具(14)用于将被测产品平贴固定在检测区(11)上;在检测区(11)的下方设有多组激光位移测头(2),多组激光位移测头(2)移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点,多组激光位移测头(2)及其连接的电脑藏于机座(1)内,电脑连接的显示器(3)架设在机座(1)上。

【技术特征摘要】
1.基于多激光测头的平面度快速检测设备,其特征在于:包括有机座(1),该机座(1)上端设有检测区(11),检测区(11)下底透视,在检测区(11)上设有活动夹具(14),活动夹具(14)用于将被测产品平贴固定在检测区(11)上;在检测区(11)的下方设有多组激光位移测头(2),多组激光位移测头(2)移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点,多组激光位移测头(2)及其连接的电脑藏于机座(1)内,电脑连接的显示器(3)架设在机座(1)上。2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:周献满卢罗宗丁旭杰廖恒锋梁运禧
申请(专利权)人:七海测量技术深圳有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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